[發(fā)明專利]IO-Link設(shè)備測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110693136.5 | 申請日: | 2021-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN113612651A | 公開(公告)日: | 2021-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 顧潔潔;張偉;孔令雙;吳國進;周松;閆宇;劉聰 | 申請(專利權(quán))人: | 合肥安勝智能電子有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26;G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 孫立波 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市高新*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | io link 設(shè)備 測試 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種IO?Link設(shè)備測試裝置,該IO?Link設(shè)備測試裝置包括設(shè)備測試工具和主機,主機具有多個IO?Link標準接口,IO?Link標準接口用以連接IO?Link設(shè)備,設(shè)備測試工具用于:連接主機,并通過主機確定待測試IO?Link設(shè)備,以及通過主機對待測試IO?Link設(shè)備進行測試。該IO?Link設(shè)備測試裝置可以實現(xiàn)對待測試IO?Link設(shè)備進行測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及IO-Link設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種IO-Link設(shè)備測試裝置。
背景技術(shù)
IO-Link技術(shù)是工業(yè)4.0設(shè)備層(傳感器和執(zhí)行器)的通訊標準,在2015年成為國際標準IEC61131-9。IO-Link是一種雙向點對點通訊,一個接口可傳輸多種數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)包括底層設(shè)備(傳感器和執(zhí)行器)的參數(shù)、診斷信息、過程數(shù)據(jù)等。IO-Link技術(shù)通過數(shù)字化通信的方式將底層設(shè)備(傳感器和執(zhí)行器)與上層的管理系統(tǒng)進行集成,解決了自動化系統(tǒng)中最底層的通訊問題,因此IO-Link技術(shù)也被譽為工業(yè)4.0最后一公里技術(shù)。可見,對IO-Link設(shè)備進行測試具有相當(dāng)?shù)膶嶋H意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。為此,本發(fā)明的目的在于提出一種IO-Link設(shè)備測試裝置,以對待測試IO-Link設(shè)備進行測試。
為達到上述目的,本發(fā)明實施例提出了一種IO-Link設(shè)備測試裝置,包括:設(shè)備測試工具和主機,所述主機具有多個IO-Link標準接口,所述IO-Link標準接口用以連接IO-Link設(shè)備,所述設(shè)備測試工具用于:連接所述主機,并通過所述主機確定待測試IO-Link設(shè)備,以及通過所述主機對所述待測試IO-Link設(shè)備進行測試。
本發(fā)明實施例的IO-Link測試設(shè)備,設(shè)置設(shè)備測試工具與主機,該主機設(shè)置多個IO-Link標準接口并通過該IO-Link標準接口與待測試IO-Link設(shè)備連接,進而設(shè)備測試工具可以利用該主機對待測試的IO-Link設(shè)備進行測試。由此,可以實現(xiàn)對待測試IO-Link設(shè)備進行測試。
本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過本發(fā)明的實踐了解到。
附圖說明
圖1是本發(fā)明第一實施例的IO-Link設(shè)備測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖2是本發(fā)明一個實施例的IO-Link設(shè)備測試裝置的工作流程圖;
圖3是本發(fā)明第二實施例的IO-Link設(shè)備測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖;
圖4是本發(fā)明第三實施例的IO-Link設(shè)備測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖;
圖5是本發(fā)明一個示例的IO-Link設(shè)備測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是本發(fā)明第一示例的IO-Link設(shè)備測試裝置的工作流程圖;
圖7是本發(fā)明第二示例的IO-Link設(shè)備測試裝置的工作流程圖;
圖8是本發(fā)明第三示例的IO-Link設(shè)備測試裝置的工作流程圖;
圖9是本發(fā)明第四示例的IO-Link設(shè)備測試裝置的工作流程圖;
圖10是本發(fā)明第五示例的IO-Link設(shè)備測試裝置的工作流程圖。
具體實施方式
下面詳細描述本發(fā)明的實施例,所述實施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的,旨在用于解釋本發(fā)明,而不能理解為對本發(fā)明的限制。
下面參考附圖描述本發(fā)明實施例的IO-Link設(shè)備測試裝置。
圖1是本發(fā)明一個實施例的IO-Link設(shè)備測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
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