[發明專利]一種半導體測試系統的開關切換電路及方法有效
| 申請號: | 202110689258.7 | 申請日: | 2021-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN113252950B | 公開(公告)日: | 2021-09-24 |
| 發明(設計)人: | 邵凌明;毛國梁 | 申請(專利權)人: | 南京宏泰半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/20 | 分類號: | G01R1/20;G01R31/28;H03K19/20;H01H9/54;H03K17/687 |
| 代理公司: | 南京新眾合專利代理事務所(普通合伙) 32534 | 代理人: | 彭雄 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市浦口區江浦街道浦*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 測試 系統 開關 切換 電路 方法 | ||
1.一種半導體測試系統的開關切換電路,用于對源板向測試卡電流的輸出控制,其特征在于:包括源表模塊、控制模塊、開關模塊,其中:
所述源表模塊用于設置電流檔位與輸出狀態,并將設置的電流檔位與輸出狀態發送給控制模塊;
所述控制模塊根據電流檔位與輸出狀態產生相應電平的使能信號En,根據電流檔位與輸出狀態產生相應電平的控制信號Con;然后根據使能信號En與控制信號Con產生相應電平的控制信號一Rc1,根據使能信號En與控制信號Con產生相應電平的控制信號二Rc2;
所述控制模塊包括FPGA芯片、鎖存器、反相器、與門電路一、與門電路二,其中:
所述FPGA芯片的控制信號端口與鎖存器的控制信號進口連接,所述FPGA芯片的使能信號端口與鎖存器的使能信號進口連接;所述鎖存器的控制信號出口、鎖存器的使能信號出口分別和與門電路一連接;所述鎖存器的控制信號出口通過反相器和與門電路二連接;所述鎖存器的使能信號出口和與門電路二連接;
所述與門電路一與Rc1接口一連接,所述與門電路二與Rc2接口二連接;
所述控制模塊用于對電流檔位和輸出狀態進行判斷,如果設置的電流檔位小于1A,輸出狀態為閉合狀態時,則輸出5V高電平的使能信號En和5V高電平控制信號Con;將5V高電平的使能信號En和5V高電平控制信號Con進行鎖存;鎖存維持此輸出狀態直到下一個檔位數據到來才改變;其后,將信號分成兩路:其中一路5V高電平的使能信號En和5V高電平控制信號Con通過與門計算組合產生5V高電平控制信號一Rc1;另一路5V高電平控制信號Con通過反相操作轉換為0V低電平控制信號Con,0V低電平控制信號Con和5V高電平的使能信號En通過與門計算組合產生0V低電平控制信號二Rc2;
對電流檔位和輸出狀態進行判斷,如果設置的電流檔位大于等于1A,輸出狀態為閉合狀態時,則輸出5V高電平使能信號En和0V低電平控制信號Con;5V高電平使能信號En和0V低電平控制信號Con進行鎖存;鎖存維持此輸出狀態直到下一個檔位數據到來才改變;其后,將信號分成兩路:其中一路5V高電平使能信號En和0V低電平控制信號Con通過與門計算組合產生0V低電平控制信號一Rc1;另一路0V低電平控制信號Con通過反相操作轉換為5V高電平控制信號Con,5V高電平控制信號Con和5V高電平使能信號En在與門計算組合產生5V高電平控制信號二Rc2;
所述開關模塊用于根據控制信號一Rc1、控制信號二Rc2的電平高低,執行開關操作,使得源板能夠無任何電壓電流輸出、允許1A以下的電流輸出或者允許1A以上的電流輸出;
所述開關模塊包括緩沖器一、緩沖器二、三極管一、三極管二、磁簧開關、MOS管七、MOS管八、電子開關驅動芯片,其中:
所述Rc1接口一與三極管一的基極連接;所述三極管一的集電極與電源正極連接;所述三極管一的發射極接地;
所述磁簧開關設置有四個接口,分別為磁簧開關接口一、磁簧開關接口二、磁簧開關接口三、磁簧開關接口四,所述磁簧開關接口一與三極管一的集電極連接,所述磁簧開關接口二與電源正極連接,所述磁簧開關接口三與MOS管七的源極連接,所述磁簧開關接口四與MOS管八的源極連接;
所述Rc2接口二與三極管二的基極連接;所述三極管二的集電極與電源正極連接,且所述三極管二的集電極與電子開關驅動芯片連接,所述三極管二的發射極接地;
所述電子開關驅動芯片分別與MOS管七的柵極、MOS管八的柵極連接,所述電子開關驅動芯片通過寄生二極管一與MOS管七的源極連接,所述電子開關驅動芯片通過寄生二極管二與MOS管八的源極連接;所述MOS管七的漏極與MOS管八的漏極連接;所述MOS管七的源極接Rin端口,MOS管八的源極接輸出端Rout;所述電子開關驅動芯片與電源正極連接。
2.根據權利要求1所述一種半導體測試系統的開關切換電路,其特征在于:包括緩沖器一,所述Rc1接口一通過緩沖器一與三極管一的基極連接。
3.根據權利要求2所述一種半導體測試系統的開關切換電路,其特征在于:包括緩沖器二,所述Rc2接口二通過緩沖器二與三極管二的基極連接。
4.根據權利要求3所述一種半導體測試系統的開關切換電路,其特征在于:包括上位機,所述上位機分別與源表模塊、FPGA芯片連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京宏泰半導體科技有限公司,未經南京宏泰半導體科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110689258.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





