[發明專利]一種變形度測量治具

有效

• 申請號: 202110689045.4
• 申請日: 2021-06-22
• 公開（公告）號: CN113237413B
• 公開（公告）日: 2022-06-21
• 發明（設計）人: 張軒銘;陳成;葉淑華
• 申請（專利權）人: 合肥聯寶信息技術有限公司
• 主分類號: G01B5/30
• 分類號: G01B5/30
• 代理公司: 北京金信知識產權代理有限公司 11225
• 代理人: 韓岳松

本發明實施例提供了一種變形度測量治具，用于測量待測件的變形度，所述待測件具有貫穿部，所述變形度測量治具包括：支撐架，其用于穿過所述貫穿部而懸掛起所述待測件，使所述待測件呈懸空狀態；其中，所述支撐架上用于和所述待測件接觸，以架設所述待測件的區域設有用于測量所述待測件變形度的刻度線。本發明的變形度測量治具能夠快速，高效且準確地對待測件進行變形度測量。

技術領域

本發明實施例涉及設備測量領域，特別涉及一種變形度測量治具。

背景技術

變形度對于工程設計來說是一項評估材料的重要參數。相對于土木工程之中，橋梁問題，結構自重、負重所帶來的撓曲、撓度是必須主要需納入考慮的工程參數；然而，筆記本電腦等電子設備在設計上更需要被工程師考慮變形度的問題，該變形度主要來源是源自材料本身硬度、成形后結構平整度，而非肇因于自身重力產生的形變。相對于土木工程中之橋梁，動輒具有上萬噸自重，筆記本電腦的框架重量雖相對不大，但對于講求精確的工程設計來說，些微自重導致測試評估結果收到影響，依然有機會成為影響設計最終成敗之關鍵因素。雖然現有技術中也有很多測量變形度的方式，但是現有的變形度量測方式的測量精度不佳，不能較好地測量出筆記本電腦等電子設備的框架或其他器件的變形度。

發明內容

本發明提供了一種能夠快速，高效且準確地對待測件進行變形度測量的變形度測量治具。

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種變形度測量治具，用于測量待測件的變形度，所述待測件具有貫穿部，所述變形度測量治具包括：

支撐架，其用于穿過所述貫穿部而懸掛起所述待測件，使所述待測件呈懸空狀態；

其中，所述支撐架上用于和所述待測件接觸，以架設所述待測件的區域設有用于測量所述待測件變形度的刻度線。

可選地，所述支撐架包括：

基座；

支撐桿，其設于所述基座上；以及

撐托件，其設于所述支撐桿上，用于撐托、懸掛起所述待測件，所述刻度線設置在所述撐托件上。

可選地，所述撐托件至少與所述待測件接觸，以用于撐托、懸掛所述待測件的一側為平面，所述刻度線沿垂直所述待測件的方向設置在所述平面上。

可選地，所述撐托件為撐托板。

可選地，所述撐托板包括相對的第一端和第二端，所述第一端的寬度小于所述第二端的寬度。

可選地，所述撐托板的寬度由所述第一端至第二端逐漸增加。

可選地，所述撐托件上設有用于輔助限位所述待測件，以使所述待測件與所述刻度線相對位置滿足測量需求的限位件。

可選地，所述限位件為多個，多個所述限位件劃分形成間隔設置的多組，每組所述限位件用于配合限位不同尺寸規格的待測件。

可選地，每組所述限位件至少包括兩個所述限位件，所述至少兩個限位件之間的連線與所述刻度線所在的條形區域垂直，當所述待測件懸掛在所述撐托件上時，所述待測件至少與一個對應的所述限位件相抵靠，以使所述限位件與所述刻度線所在的條形區域之間的夾角滿足垂直閾值，進而使所述待測件與所述刻度線相對位置滿足所述測量需求。

基于上述實施例的公開可以獲知，本發明實施例具備的有益效果包括通過設置支撐架，使得待測件能夠通過其貫穿部而懸掛在支撐架上，確保所述待測件能夠摒除自身重力影響而呈現最真實的變形狀態，使用戶能夠通過支撐架上的刻度線直接測量出待測件的變形度，測量過程高效，精準，且標準統一，可進行待測件的批量性測量，同時測量治具自身結構簡單，易于制備，成本低廉。

附圖說明

圖1為本發明實施例中的變形度測量治具的結構示意圖。