[發(fā)明專利]一種用于鍍膜機(jī)的銀靶噴濺裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110688669.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113445011B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 解華林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南國(guó)創(chuàng)同芯科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C14/34 | 分類號(hào): | C23C14/34;C23C14/35 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙智德知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 43207 | 代理人: | 彭少波 |
| 地址: | 414000 湖南省岳陽(yáng)市城*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 鍍膜 噴濺 裝置 | ||
本發(fā)明公布了一種用于鍍膜機(jī)的銀靶噴濺裝置,屬于晶片鍍膜領(lǐng)域,包括設(shè)備箱體,所述設(shè)備箱體內(nèi)設(shè)置工作空間,所述工作空間內(nèi)設(shè)置鍍膜機(jī)構(gòu)和轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu);所述轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在所述工作空間內(nèi)的轉(zhuǎn)動(dòng)部,所述轉(zhuǎn)動(dòng)部上固定設(shè)置若干個(gè)晶片夾具,所述晶片夾具上是待鍍膜的晶片;通過(guò)設(shè)置轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu),使晶片在進(jìn)行鍍膜時(shí)能夠進(jìn)行位置的切換,實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)更多的晶片進(jìn)行鍍膜加工,通過(guò)設(shè)置補(bǔ)正件,在進(jìn)行鍍膜的時(shí)候,能夠?qū)⒅虚g部分的銀鈀擋住,從而分散向晶片夾具的兩端,使晶片夾具上的晶片鍍膜時(shí)更加的均勻,并且通過(guò)在分隔部上設(shè)置滑道和刻度、卡座,使在調(diào)節(jié)補(bǔ)正件的上下高度的時(shí)候更加方便,也更加方便掌控調(diào)節(jié)的高度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于晶片鍍膜領(lǐng)域,具體為一種用于鍍膜機(jī)的銀靶噴濺裝置。
背景技術(shù)
晶片在鍍膜加工的時(shí)候,是將晶片放置于真空的電場(chǎng)和磁場(chǎng)下,將靶材噴濺到晶片的表面,形成鍍膜層,鍍膜層的厚度的不同,制作完成后的晶振頻率就會(huì)不一樣,這樣就會(huì)導(dǎo)致晶振在電路中的效果產(chǎn)生不同的差異,因此在實(shí)際鍍膜加工的時(shí)候,需要保證晶片鍍膜的厚度統(tǒng)一性,保證加工質(zhì)量,由于晶片放置在晶片夾具上,每一顆晶片的位置各不相同,因此在實(shí)際加工的時(shí)候,由于靶材上的鍍膜離子是以散射的方式飛出,吸附在晶片夾具上的時(shí)候,晶片夾具中間位置的晶片的鍍膜厚度會(huì)明顯高于兩端的厚度,因此,導(dǎo)致各個(gè)位置的晶片的鍍膜厚度不均勻。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)以上問(wèn)題,提供一種用于鍍膜機(jī)的銀靶噴濺裝置,保證鍍膜均勻。
為實(shí)現(xiàn)以上目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種用于鍍膜機(jī)的銀靶噴濺裝置,包括設(shè)備箱體,所述設(shè)備箱體內(nèi)設(shè)置工作空間,所述工作空間內(nèi)設(shè)置鍍膜機(jī)構(gòu)和轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu);
所述轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在所述工作空間內(nèi)的轉(zhuǎn)動(dòng)部,所述轉(zhuǎn)動(dòng)部上固定設(shè)置若干個(gè)晶片夾具,所述晶片夾具上是待鍍膜的晶片;
所述鍍膜裝置包括設(shè)置于所述工作空間的頂壁上的若干個(gè)第一靶材和若干個(gè)第二靶材,所述晶片夾具從若干個(gè)所述第一靶材之間的間隙走過(guò)時(shí)鍍第一層膜,從若干個(gè)所述第二靶材之間的間隙走過(guò)時(shí)鍍第二層膜。
進(jìn)一步的,所述工作空間的上側(cè)設(shè)置空腔,所述空腔內(nèi)設(shè)置驅(qū)動(dòng)源,所述驅(qū)動(dòng)源控制若干個(gè)所述第一靶材之間同步轉(zhuǎn)動(dòng),并驅(qū)動(dòng)若干個(gè)所述第二靶材之間同步轉(zhuǎn)動(dòng)。
進(jìn)一步的,所述鍍膜機(jī)構(gòu)還包括設(shè)置于所述工作空間的頂面上的進(jìn)氣管,所述進(jìn)氣管上連接氣源;所述工作空間的頂面上還固定設(shè)置若干個(gè)分隔部,所述分隔部套在所述第一靶材、所述第二靶材的外側(cè),與所述第一靶材、所述第二靶材之間轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
進(jìn)一步的,所述分隔部的一側(cè)設(shè)置缺口,所述缺口正面朝向所述晶片夾具,所述分隔部的外側(cè)面上設(shè)置可上下調(diào)節(jié)的補(bǔ)正件,所述補(bǔ)正件位于所述晶片夾具和所述第二靶材之間的間隙內(nèi),所述補(bǔ)正件使鍍?cè)谒鼍瑠A具的晶片上的膜的厚度均勻。
進(jìn)一步的,所述分隔部的外側(cè)面上設(shè)置滑道,所述滑道內(nèi)滑動(dòng)設(shè)置卡座,所述補(bǔ)正件被卡接在所述卡座內(nèi),所述分隔部的外側(cè)面上設(shè)置指示所述補(bǔ)正件上下高度的刻度,所述分隔部上固定設(shè)置指針。
進(jìn)一步的,所述補(bǔ)正件為圓環(huán),其寬度為2-4mm,材質(zhì)為不導(dǎo)磁材質(zhì)。
進(jìn)一步的,所述轉(zhuǎn)動(dòng)部的頂部設(shè)置若干個(gè)插接座,所述晶片夾具插接于所述插接座上,所述轉(zhuǎn)動(dòng)部上連接驅(qū)動(dòng)其轉(zhuǎn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)源。
進(jìn)一步的,所述第一靶材、所述第二靶材內(nèi)設(shè)置提供磁場(chǎng)的磁極;所述第一靶材、所述第二靶材連接負(fù)極,所述晶片夾具及所述晶片夾具上的晶片連接正極,所述第一靶材與所述晶片夾具之間,以及所述晶片夾具和所述第二靶材之間形成電場(chǎng)。
本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供了一種用于鍍膜機(jī)的銀靶噴濺裝置,1、通過(guò)設(shè)置轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu),使晶片在進(jìn)行鍍膜時(shí)能夠進(jìn)行位置的切換,實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)更多的晶片進(jìn)行鍍膜加工。
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- 專利分類
C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過(guò)覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理





