[發(fā)明專(zhuān)利]性能參數(shù)記錄方法、裝置、變頻器、空調(diào)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110688466.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113419126B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-12-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王豪浩;洪偉鴻;陸德強(qiáng);陳俊樺;周超;彭國(guó)彬;鐘明勝 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 合肥美的暖通設(shè)備有限公司;廣東美的暖通設(shè)備有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 甘瑩 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 性能參數(shù) 記錄 方法 裝置 變頻器 空調(diào)設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種性能參數(shù)記錄方法,其特征在于,應(yīng)用于變頻器,包括:
根據(jù)預(yù)設(shè)的第一采樣周期對(duì)所述變頻器的性能參數(shù)進(jìn)行采樣,得到第一采樣數(shù)據(jù);
根據(jù)預(yù)設(shè)的第二采樣周期對(duì)所述變頻器的性能參數(shù)進(jìn)行采樣,得到第二采樣數(shù)據(jù),其中,所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期小于所述預(yù)設(shè)的第二采樣周期;
若所述變頻器發(fā)生故障,則存儲(chǔ)所述變頻器發(fā)生故障前、后的故障數(shù)據(jù),所述故障數(shù)據(jù)包括所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù);
在所述根據(jù)預(yù)設(shè)的第一采樣周期對(duì)所述變頻器的性能參數(shù)進(jìn)行采樣之前,包括:
根據(jù)所述變頻器的電機(jī)轉(zhuǎn)速確定所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期;
所述根據(jù)所述變頻器的電機(jī)轉(zhuǎn)速確定所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期,包括:
若所述變頻器的電機(jī)轉(zhuǎn)速小于第一轉(zhuǎn)速值,則設(shè)置t1=4/f1為所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期,其中,f1為所述變頻器的載波頻率;
若所述變頻器的電機(jī)轉(zhuǎn)速大于或等于所述第一轉(zhuǎn)速值且小于第二轉(zhuǎn)速值,則設(shè)置t2=2/f2為所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期,其中,f2為所述變頻器的載波頻率;
若所述變頻器的電機(jī)轉(zhuǎn)速大于或等于所述第二轉(zhuǎn)速值,則設(shè)置t3=1/f3為所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期,其中,f3為所述變頻器的載波頻率;
其中,所述t3t2t1預(yù)設(shè)的第二采樣周期;
所述變頻器的性能參數(shù)包括電機(jī)的性能參數(shù),所述電機(jī)的性能參數(shù)包括以下至少3個(gè):電流、電壓、電機(jī)轉(zhuǎn)速、電機(jī)反電動(dòng)勢(shì)電壓。
2.如權(quán)利要求1所述的性能參數(shù)記錄方法,其特征在于,在所述得到第一采樣數(shù)據(jù)之后,包括:
每隔所述預(yù)設(shè)的第一采樣周期,將所述第一采樣數(shù)據(jù)中的N1個(gè)數(shù)據(jù)記錄到所述變頻器的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器;
在所述得到第二采樣數(shù)據(jù)之后,包括:
每隔所述預(yù)設(shè)的第二采樣周期,將所述第二采樣數(shù)據(jù)中的N2個(gè)數(shù)據(jù)記錄到所述變頻器的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器,其中,所述N1和所述N2根據(jù)所述變頻器的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的數(shù)量和單個(gè)所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的容量確定,且所述N1、N2均為大于9的自然數(shù);
所述若所述變頻器發(fā)生故障,則存儲(chǔ)所述變頻器發(fā)生故障前、后的故障數(shù)據(jù),包括:
若所述變頻器發(fā)生故障,則將所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中記錄的所述變頻器發(fā)生故障前、后的故障數(shù)據(jù)存入存儲(chǔ)設(shè)備。
3.如權(quán)利要求2所述的性能參數(shù)記錄方法,其特征在于,所述將所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中記錄的所述變頻器發(fā)生故障前、后的故障數(shù)據(jù)存入存儲(chǔ)設(shè)備,包括:
將所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中記錄的所述變頻器發(fā)生故障前、后的故障數(shù)據(jù)按照時(shí)間順序排序;
將排序后的故障數(shù)據(jù)從所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器存入存儲(chǔ)設(shè)備。
4.如權(quán)利要求3所述的性能參數(shù)記錄方法,其特征在于,所述性能參數(shù)記錄方法,還包括:
若所述變頻器發(fā)生故障,則將所述變頻器發(fā)生故障后的所述第一采樣數(shù)據(jù)中的n1個(gè)數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)中的n2個(gè)數(shù)據(jù)均記錄到所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器,其中,所述n1和n2均為大于1的自然數(shù);
所述將所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中記錄的所述變頻器發(fā)生故障前、后的故障數(shù)據(jù)按照時(shí)間順序排序,包括:
將所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中記錄的所述變頻器發(fā)生故障前的所述第一采樣數(shù)據(jù)中的(N1-n1)個(gè)數(shù)據(jù)、所述變頻器發(fā)生故障前的所述第二采樣數(shù)據(jù)中的(N2-n2)個(gè)數(shù)據(jù)、所述變頻器發(fā)生故障后的所述第一采樣數(shù)據(jù)中的n1個(gè)數(shù)據(jù)、所述變頻器發(fā)生故障后的所述第二采樣數(shù)據(jù)中的n2個(gè)數(shù)據(jù),按照時(shí)間順序排序。
5.如權(quán)利要求4所述的性能參數(shù)記錄方法,其特征在于,所述(N1-n1)/n1=4:1;所述(N2-n2)/n2=4:1。
6.如權(quán)利要求1所述的性能參數(shù)記錄方法,其特征在于,所述性能參數(shù)記錄方法,還包括:
識(shí)別通信設(shè)備發(fā)送的指令是否為運(yùn)行波形查詢(xún)指令;
若是運(yùn)行波形查詢(xún)指令,則獲取最新采樣的所述第一采樣數(shù)據(jù)中的N1個(gè)數(shù)據(jù),并將所述第一采樣數(shù)據(jù)中的N1個(gè)數(shù)據(jù)向所述通信設(shè)備發(fā)送;
若是故障波形查詢(xún)指令,則將存儲(chǔ)的故障數(shù)據(jù)向所述通信設(shè)備發(fā)送。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 基于多元混合時(shí)序分析的多性能參數(shù)加速退化試驗(yàn)產(chǎn)品壽命預(yù)測(cè)方法
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