[發明專利]工業自動化資產和控制項目分析在審
| 申請號: | 202110684791.4 | 申請日: | 2021-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN114137910A | 公開(公告)日: | 2022-03-04 |
| 發明(設計)人: | 斯科特·A·米勒;內森·雷諾;克里斯托弗·韋恩·科莫;納撒尼爾·S·桑德勒;瑞安·P·鄧恩;小布魯斯·T·麥克利夫;凱爾·賴斯納;斯蒂芬·C·布賴恩特 | 申請(專利權)人: | 羅克韋爾自動化技術公司 |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 唐京橋;董娟 |
| 地址: | 美國俄*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 工業 自動化 資產 控制 項目 分析 | ||
本發明涉及工業自動化資產和控制項目分析。工業開發中心(IDH)支持作為基于云的服務而提供的工業開發和測試能力。IDH包括增強的存儲平臺和相關聯的設計工具,所述增強的存儲平臺和相關聯的設計工具用作客戶可以在其上存儲控制項目代碼、設備配置以及工業自動化項目的其他數字方面的存儲庫。IDH系統可以促進與控制系統相關聯的數字內容的發現和管理,并且可以用于系統備份和恢復、代碼轉換以及版本管理。
技術領域
本公開內容大體上涉及工業自動化系統,并且例如涉及工業編程開發平臺。
背景技術
操作技術(OT)級系統可以是不同且復雜的,并且可以與許多物理設備進行集成。這種具有挑戰性的環境,加上特定領域的編程和開發語言,可以使得OT級上控制系統的開發變得困難,從而導致開發、測試以及最終部署新的控制系統設計的開發周期很長。此外,考慮到當前的虛擬化和模擬能力的普遍缺乏,因此在可以開始實際測試或優化之前,必須在物理操作環境中購買、編程和安裝工業自動化系統。該工作流程經常導致項目延遲或成本超支。此外,已安裝的工業監視和控制系統的固有復雜性和自定義性質可以使工業資產的所有者(例如,工廠所有者或工業企業實體)難以管理其OT級系統,并且難以保護其自主知識產權免受災難性故障或網絡攻擊。
發明內容
下面呈現簡化的概要,以提供對本文中所描述的一些方面的基本理解。該概要既不是廣泛的綜述,也不旨在標識關鍵的/決定性的要素或描繪本文中所描述的各個方面的范圍。該概述的唯一目的是以簡化的形式呈現一些概念作為后面呈現的具體實施方式的序言。
在一個或更多個實施方式中,提供了用于分析工業控制項目的系統,其包括:用戶接口組件,其被配置成通過云平臺從客戶端設備接收工業控制項目,該工業控制項目至少包括控制編程和設備配置數據,所述控制編程和設備配置數據響應于在一個或更多個工業設備上的執行來促進對工業自動化系統的監視和控制;項目遙測組件,其被配置成基于對工業控制項目的第一分析來生成項目遙測數據,項目遙測數據定義了一個或更多個工業設備的特性以及基于第一分析推斷出的工業控制項目的預測操作特性;以及項目分析組件,其被配置成:對項目遙測數據執行第二分析,并基于第二分析的結果生成建議,該建議用于以改進預測操作特性中的一個或更多個的方式來修改工業控制項目,其中,用戶接口組件被配置成在客戶端設備上呈現該建議。
此外,一個或更多個實施方式提供了用于分析工業控制項目的方法,包括:由包括處理器的系統通過云平臺接收至少包括控制編程和設備配置數據的工業控制項目,控制編程和設備配置數據響應于在一個或更多個工業設備上的執行來促進對工業自動化系統的監視和控制;由系統基于對工業控制項目的第一分析生成項目遙測數據,項目遙測數據定義了一個或更多個工業設備的特性以及基于第一分析推斷出的工業控制項目的預測操作特性;由系統基于對項目遙測數據執行的第二分析生成建議,該建議用于以改進預測操作特性中的一個或更多個的方式來修改工業控制項目;以及由系統在客戶端設備上呈現該建議。
此外,根據一個或更多個實施方式,提供了一種其上存儲有指令的非暫態計算機可讀介質,所述指令響應于執行而使在云平臺上執行并且包括處理器的系統執行操作,所述操作包括:通過云平臺接收至少包括控制編程和設備配置數據的工業控制項目,控制編程和設備配置數據響應于在一個或更多個工業設備上的執行來促進對工業自動化系統的監視和控制;基于對工業控制項目的第一分析生成項目遙測數據,項目遙測數據定義了一個或更多個工業設備的特性以及基于第一分析推斷出的工業控制項目的預測操作特性;基于對項目遙測數據執行的第二分析生成建議,該建議用于以改進預測操作特性中的一個或更多個的方式來修改工業控制項目;以及在客戶端設備上呈現該建議。
為了實現上述目的及相關目的,本文中結合以下描述和附圖對某些說明性方面進行了描述。這些方面指示可以實踐的各種方式,所有這些方式均旨在被涵蓋在本文中。當結合附圖考慮時,其他優點和新穎特征可以根據以下詳細描述變得明顯。
附圖說明
圖1是示例工業控制環境的框圖。
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