[發明專利]一種U形磁導體聚焦探頭及其脈沖渦流檢測方法

在審

• 申請號: 202110684761.3
• 申請日: 2021-06-21
• 公開（公告）號: CN113406192A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 付躍文;黃文豐;陶愛軍;邢仁飛;楊帆;余兆虎
• 申請（專利權）人: 南昌航空大學
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 南昌市平凡知識產權代理事務所 36122
• 代理人: 張文杰

1.一種U形磁導體聚焦探頭，探頭體由U形磁導體、激勵線圈和兩個空心圓柱形檢測線圈構成，其特征在于，所述U形磁導體開口垂直向下水平放置，其中一個磁腳繞裝有激勵線圈，背面放置一個與激勵線圈相切的檢測線圈；另一個磁腳正面放置一個與該磁腳相切的檢測線圈，兩個檢測線圈的底面均與U形磁導體磁腳底面持平；所述兩個檢測線圈相互間采用差分連接。

2.根據權利要求1所述的U形磁導體聚焦探頭，其特征在于，所述檢測線圈的線徑為0.01~4 mm，匝數為1~200000匝。

3.根據權利要求1所述的U形磁導體聚焦探頭，其特征在于，所述激勵線圈的線徑為0.05~10 mm，匝數為10~50000匝。

4.一種采用權利要求1所述的U形磁導體聚焦探頭的脈沖渦流檢測方法，其特征在于，其操作步驟如下：

1）將探頭體上的激勵線圈連接至脈沖信號驅動器，兩個檢測線圈連接至信號接收機；

2）使用探頭體對被檢不銹鋼板進行檢測：給激勵線圈接通等寬雙極性方波脈沖激勵，將探頭體在10~110 mm提離下，以U形磁導體繞裝有激勵線圈的磁腳朝另一磁腳的方向移進，沿被檢不銹鋼板中心線的一端向另一端移動，每隔0.1~200 mm選擇一個檢測點，所述信號接收機接收兩個檢測線圈的電壓信號并采集衰減電壓數據后，將數據傳輸至計算機；

3）通過計算機將采集到的衰減電壓數據，以時間為橫坐標，以歸一化電壓為縱坐標，繪制出歸一化電壓衰減曲線圖，并對電壓衰減曲線圖劃分取樣時窗；以探頭體位置為橫坐標，以歸一化電壓為縱坐標，繪制出歸一化電壓時間剖面曲線圖；

4）通過上述歸一化時間剖面曲線圖反映出探頭體經過不同缺陷時的檢測信號特征，判斷缺陷的存在情況。