[發明專利]一種試卷分析方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110677255.1
• 申請日: 2021-06-18
• 公開（公告）號: CN113537717B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發明（設計）人: 郝天永;李文
• 申請（專利權）人: 華南師范大學
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/20
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 黎揚鵬

本發明公開了一種試卷分析方法、裝置、電子設備及存儲介質，方法包括:構建試題評價維度表；獲取考生對試題和試卷的主觀評價信息；將所述主觀評價信息填充進所述試題評價維度表；對所述試題評價維度表中的數據進行向量化處理，得到評價數據向量；根據所述評價數據向量，確定試卷的分析結果。本發明結合了考生對試卷的主觀評價，以及考生考試成績的客觀評價，能夠得到更準確的試卷分析結果，可廣泛應用于數據分析技術領域。

技術領域

本發明涉及數據分析技術領域，尤其是一種試卷分析方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

隨著參加各種各樣的考試的人越來越多，不同的試卷內容也越來越多。因此，如何合理考慮難度、考查范圍、題量等多方面因素來設置試卷，對命題工作者和考生來說就變得尤為重要。但目前教育相關工作研究者對考卷的評價側重分析基于成績的客觀分析，缺少基于考生對試題主觀評價的分析，無法準確衡量一份試卷的各方面質量。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供一種試卷分析方法、裝置、電子設備及存儲介質，以結合考生的主觀評價與考生的客觀成績，得到更準確的試卷分析結果。

本發明的一方面提供了一種試卷分析方法，包括：

構建試題評價維度表；

獲取考生對試題和試卷的主觀評價信息；

將所述主觀評價信息填充進所述試題評價維度表；

對所述試題評價維度表中的數據進行向量化處理，得到評價數據向量；

根據所述評價數據向量，確定試卷的分析結果。

可選地，所述構建試題評價維度表，包括：

確定試題的評價維度的數量和試卷的評價維度數量；

根據所述試題的評價維度的數量和試卷的評價維度數量，構建試題評價維度表；

其中，所述試題的評價維度包括難易程度、常見程度、考核能力、考查范圍以及耗時程度；

所述試卷的評價維度包括難度分布、知識覆蓋、創新程度、題型設置以及題量控制。

可選地，所述對所述試題評價維度表中的數據進行向量化處理，得到評價數據向量，包括：

對所述試題評價維度表中的試題評價數據進行第一向量化處理，得到各個試題的評價數據向量；

根據所述試題評價維度表中的試卷評價數據以及所述各個試題的評價數據向量，進行第二向量化處理，得到試卷的評價數據向量；

所述試卷的評價數據向量的計算公式為：

其中，S表示試卷的總分；ω_i表示第i題的分值；v_i表示第i題的評價數據向量；v₀′表示整張試卷的評價數據向量。

可選地，所述根據所述評價數據向量，確定試卷的分析結果，包括：

將所述各個試題的評價數據向量與所述試卷的評價數據向量進行對比，確定所述各個試題的評價數據向量與所述試卷的評價數據向量之間的偏差值；

根據所述偏差值，確定所述評價數據向量的有效性。

可選地，所述根據所述評價數據向量，確定試卷的分析結果，還包括：

根據所述評價數據向量構建各個試題的雷達圖和試卷的雷達圖；

根據所述各個試題的雷達圖和試卷的雷達圖，進行數據篩選。

可選地，所述方法還包括以下步驟：