[發明專利]一種用于快速測量光纖傳感器陣列的測量裝置與方法

在審

• 申請號: 202110675794.1
• 申請日: 2021-06-18
• 公開（公告）號: CN113281018A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 李彥明;李宜寧;陳劍;唐靖;王敏哲;袁燕飛;楊元旭;熊婷婷;李洋
• 申請（專利權）人: 上海傳輸線研究所（中國電子科技集團公司第二十三研究所）
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01H9/00
• 代理公司: 上海市嘉華律師事務所 31285
• 代理人: 黃琮;夏燁

1.一種用于快速測量光纖傳感器陣列的測量裝置，其特征在于：包括可諧調波長光源(1)，所述可諧調波長光源(1)與1*M路光開關連接，待測光纖傳感器(3)接入所述1*M路光開關的另一端，所述待測光纖傳感器(3)同時接入若干1*N路光開關，所述若干1*N路光開關分接接入若干PD光電轉換，若干PD光電轉換同時接入示波器與顯控端電腦(12)，其中M大于等于N。

2.根據權利要求1所述的一種用于快速測量光纖傳感器陣列的測量裝置，其特征在于：所述可諧調波長光源(1)發出的光波長范圍為1537.40nm～1561.42nm。

3.根據權利要求1所述的一種用于快速測量光纖傳感器陣列的測量裝置，其特征在于：M為16，N為4。

4.根據權利要求1所述的一種用于快速測量光纖傳感器陣列的測量裝置，其特征在于：所述PD光電轉換的材料為InGaAs半導體，其作用是將一定波長范圍的輸入光信號轉化為與其功率線性相關的電流信號。

5.一種使用權利要求1-4任一所述的快速測量光纖傳感器陣列的測量裝置的測量方法，其特征在于：包括以下步驟，

步驟1：所述可諧調波長光源(1)發出光脈沖信號，并用光跳線導出；

步驟2：所述可諧調波長光源(1)的信號被光跳線導出后，通過1*M路光開關，分別進入待測光纖傳感器(3)，1*M路光開關通過時分復用方式將所述可諧調波長光源(1)的信號分別輸出到M路法蘭上；

步驟3：將M路出光法蘭分為N組各自進入一個1*N路光開關，進入1*N路光開關后依次進入若干PD光電轉換；

步驟4：光信號經所述PD光電轉換轉換成的電信號經SMA接口，轉接到示波器和顯控端電腦12的BNC接口采樣，所述示波器和顯控端電腦12有總共若干通道采集的數據用網線或者串口傳輸進電腦，每個通道可包含M個時分脈沖，按HX 13023-2020中附錄B處理得出所述待測光纖傳感器(3)的光路損耗，按時分復用方法，空分、時分的通道數據可全部依次處理完畢；

步驟5：改變可變諧調波長光源(1)發出的光的頻率或波長，以便測量所述待測光纖傳感器(3)多個波分的光路損耗。