[發(fā)明專(zhuān)利]基于ATE設(shè)備自檢的方法和系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110673638.1
• 申請(qǐng)日: 2021-06-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113539350B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-10-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄔剛;黃海平
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 杭州加速科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G11C29/56
• 分類(lèi)號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 深圳智趣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44486
• 代理人: 吳強(qiáng)

本發(fā)明涉及ATE設(shè)備領(lǐng)域，公開(kāi)了基于ATE設(shè)備自檢的方法和系統(tǒng)，其包括PC端和待測(cè)設(shè)備端，其方法包括，測(cè)試文件的生成，PC端生成測(cè)試文件；測(cè)試執(zhí)行，PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端依據(jù)測(cè)試用例表進(jìn)行測(cè)試的執(zhí)行；測(cè)試校驗(yàn)，PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端測(cè)試的相關(guān)信息進(jìn)行校驗(yàn)；測(cè)試結(jié)果判斷，PC端對(duì)校驗(yàn)后的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行判斷，測(cè)試結(jié)果通過(guò)則進(jìn)行測(cè)試用例判斷，否則測(cè)試失敗；測(cè)試用例判斷，PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端的測(cè)試用例完成則測(cè)試成功，否則重新進(jìn)行待測(cè)設(shè)備端的測(cè)試校驗(yàn)。通過(guò)對(duì)ATE設(shè)備進(jìn)行自檢，其能夠保證輸出波形的正確性，性能符合測(cè)試的需求；這樣有利于ATE設(shè)備穩(wěn)定性、性能測(cè)試自動(dòng)化率以及測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及ATE設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及了基于ATE設(shè)備自檢的方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

對(duì)于ATE(Automatic Test Equipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)：集成了大量的硬件組件，TMU組件可以代替示波器，PMU組件可以代替萬(wàn)用表等；兼容一種高等語(yǔ)言，可以通過(guò)編程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制；可以輕易的發(fā)送任何想要的激勵(lì)。

在ATE數(shù)字設(shè)備中，多通道任意數(shù)字波形發(fā)生器(DIO)是一個(gè)核心的功能模塊。此模塊可通過(guò)軟件進(jìn)行任意通道選擇，數(shù)字通道個(gè)數(shù)、組合形式多種多樣。各通道根據(jù)測(cè)試向量集，可獨(dú)立發(fā)送符合芯片測(cè)試需求的任意數(shù)字波形。并接收存儲(chǔ)設(shè)備外部芯片的任意響應(yīng)波形，作為鑒別被測(cè)芯片達(dá)標(biāo)與否的依據(jù)。

例如專(zhuān)利名稱(chēng)，一種ATE數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)及其自檢方法，專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)枺?01610867908.1，申請(qǐng)日期：2016-09-29，一種ATE數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)及其自檢方法，該ATE數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)，包括地址發(fā)生器、圖形存儲(chǔ)器、指令存儲(chǔ)器、自檢存儲(chǔ)器以及驅(qū)動(dòng)器，地址發(fā)生器與圖形存儲(chǔ)器、指令存儲(chǔ)器和自檢存儲(chǔ)器均連接，自檢存儲(chǔ)器與總線(xiàn)相連，圖形存儲(chǔ)器與驅(qū)動(dòng)器相連。

現(xiàn)有技術(shù)不能很好地驗(yàn)證ATE設(shè)備自身產(chǎn)生的任意形狀的數(shù)字波形功能正確與否，不能對(duì)ATE設(shè)備外部延時(shí)特性存在的差異進(jìn)行自適應(yīng)校準(zhǔn)，不能動(dòng)態(tài)調(diào)整驗(yàn)證的通道組合；對(duì)產(chǎn)生波形的Vector正確與否；從而影響了設(shè)備功能、性能，測(cè)試自動(dòng)化率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不能很好地驗(yàn)證ATE設(shè)備自身產(chǎn)生的任意形狀的數(shù)字波形功能正確與否，性能是否達(dá)標(biāo)；從而影響了設(shè)備功能、性能測(cè)試自動(dòng)化率，以及測(cè)試效率缺點(diǎn)，提供了基于ATE設(shè)備自檢的方法和系統(tǒng)。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決：

基于ATE設(shè)備自檢的方法，包括PC端和待測(cè)設(shè)備端，其方法包括，

測(cè)試文件的生成，PC端生成測(cè)試文件；

測(cè)試執(zhí)行，PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端依據(jù)測(cè)試用例表進(jìn)行測(cè)試的執(zhí)行；

測(cè)試校驗(yàn)，PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端測(cè)試的相關(guān)信息進(jìn)行校驗(yàn)；

測(cè)試結(jié)果判斷，PC端對(duì)校驗(yàn)后的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行判斷，測(cè)試結(jié)果通過(guò)則進(jìn)行測(cè)試用例判斷，否則測(cè)試失敗；

測(cè)試用例判斷，PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端的測(cè)試用例完成則測(cè)試成功，否則重新進(jìn)行待測(cè)設(shè)備端的測(cè)試校驗(yàn)。

通過(guò)對(duì)ATE設(shè)備進(jìn)行自檢，其能夠保證輸出波形的正確性，性能符合測(cè)試的需求；這樣有利于提高ATE設(shè)備功能、性能測(cè)試自動(dòng)化率以及測(cè)試效率。

作為優(yōu)選，測(cè)試執(zhí)行前需進(jìn)行通道延時(shí)；PC端對(duì)待測(cè)設(shè)備端的通道延時(shí)進(jìn)行測(cè)量，從而保證待測(cè)設(shè)備端通道的同步性。通過(guò)在待測(cè)設(shè)備端的通道進(jìn)行延時(shí)，從而保證數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程的同步性。

作為優(yōu)選，待測(cè)設(shè)備端的通道包括接收通道和發(fā)送通道。

作為優(yōu)選，通道延時(shí)，PC端測(cè)量設(shè)備測(cè)試端的發(fā)送通道和接收通道進(jìn)行延時(shí)，接收通道預(yù)留測(cè)量閾值不做電平比較，設(shè)備測(cè)試端測(cè)試結(jié)束時(shí)，發(fā)送通道預(yù)留同樣的測(cè)量閾值不做電平比較，測(cè)量閾值為DelayValue/T，其中，DelayValue延時(shí)值，T波形周期。