[發明專利]一種測試嵌入式設備的方法、裝置以及存儲介質

在審

• 申請號: 202110669281.X
• 申請日: 2021-06-16
• 公開（公告）號: CN115480962A
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 李海粟;羅丁;徐良軍
• 申請（專利權）人: 北京小米移動軟件有限公司;北京小米松果電子有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京法勝知識產權代理有限公司 11922
• 代理人: 白雪靜

1.一種測試嵌入式設備的方法，其特征在于，應用于與所述嵌入式設備連接的終端，所述方法包括：

確定觸發字符串對應的程序階段；

響應于所述嵌入式設備程序運行到所述程序階段，輸出對所述嵌入式設備的測試指令；

響應于所述測試指令，對所述嵌入式設備程序的運行進行測試，以確定測試所述嵌入式設備的測試結果。

2.根據權利要求1所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述響應于所述測試指令，對所述嵌入式設備程序的運行進行測試，包括：

響應于所述測試指令，釋放干擾信號，并通過所述干擾信號干擾所述嵌入式設備程序的運行。

3.根據權利要求2所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述方法還包括：

設置所述干擾信號的干擾時長，其中，所述干擾時長為干擾所述嵌入式設備程序運行的時間；

和/或，

設置釋放所述干擾信號的倒計時時間，其中，所述倒計時時間為從響應于所述測試指令后到開始釋放所述干擾信號的間隔時間。

4.根據權利要求1所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述終端中設置至少一個觸發字符串。

5.根據權利要求4所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在設置所述至少一個觸發字符前，運行所述嵌入式設備程序，調取所述程序運行過程的日志信息；

根據所述嵌入式設備程序運行的程序階段在所述日志信息中確定所述至少一個觸發字符串。

6.根據權利要求1所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述方法還包括：

響應于對所述嵌入式設備程序的運行進行測試，獲取所述嵌入式設備程序的運行結果；

當所述運行結果符合預設結果時，確定所述嵌入式設備的測試結果為正常狀態；

當所述運行結果不符合預設結果時，確定所述嵌入式設備的測試結果為異常狀態，并確定所述觸發字符串對應的程序階段為異常點。

7.根據權利要求6所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述獲取所述嵌入式設備程序的運行結果之后，所述方法還包括：

響應于第一指令，終止或暫停對所述嵌入式設備的測試；

響應于第二指令，啟動對所述嵌入式設備的測試。

8.根據權利要求7所述的測試嵌入式設備的方法，其特征在于，所述啟動對所述嵌入式設備的測試，包括：

按照預設觸發字符串依次替換所述觸發字符串，以重啟對所述嵌入式設備的測試。

9.一種測試嵌入式設備的裝置，其特征在于，所述裝置應用于終端，所述裝置包括：

第一確定模塊，配置為確定觸發字符串對應的程序階段；

輸出模塊，配置為響應于所述嵌入式設備程序運行到所述程序階段，輸出對所述嵌入式設備的測試指令；

測試模塊，配置為響應于所述測試指令，對所述嵌入式設備程序的運行進行測試，以確定對所述嵌入式設備的測試結果。

10.一種測試嵌入式設備的裝置，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時，實現權利要求1至8中任一所述的測試嵌入式設備的方法。

11.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現權利要求1至8中任一所述的測試嵌入式設備的方法。