[發明專利]一種針對多元生產過程的非參數質量監控方法

有效

• 申請號: 202110667351.8
• 申請日: 2021-06-16
• 公開（公告）號: CN113568382B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發明（設計）人: 黃碩;李玉偉;范夢飛;王照久
• 申請（專利權）人: 北京電子工程總體研究所
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 王德楨

1.一種針對多元生產過程的非參數質量監控方法，其特征在于，包括：

獲取樣本處于質量受控狀態時的歷史觀測數據，作為參照數據集；

獲取待檢測樣本的質量觀測數據，作為待測數據集；

根據參照數據集和待測數據集，構造求解基于非參數統計量的監控序列，其中，所述監控序列為：

其中，M_j為非參數監控統計量,

計算累積和控制限；

基于監控序列和累積和控制限，生成監控控制圖，根據所述監控控制圖判斷生產過程是否受控；

其中，計算累積和控制限H包括：

S10：給定初始搜索區間[L₀,U₀]，令L＝L₀，U＝U₀，其中[L,U]為待搜索計算區間；

S12：計算其中H^*為控制限迭代值；

S14：令k＝1，在p維標準多元正態分布下，隨機生成一組樣本，記為

S16：令q＝1，在p維標準多元正態分布下，隨機生成一組樣本，記為

S18：以作為參照數據，為待測數據，計算相應的累積和統計量和若且則令q＝q+1，回到S16重復執行，若或則令運行鏈長RL(i)＝q，繼續下一步；

S20：令k＝k+1，回到S14重復執行，直至k＝50001停止；

S22：在模擬條件下計算鏈長的估計值若則控制限H＝H^*，該方法結束；若則令U＝H^*，回到S12重復執行，若則令L＝H^*，回到S12重復執行，

其中，ARL₀為預設的受控平均鏈長。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述參照數據集為：

其中，m為樣本量，參照質量數據為維度為p的列向量，

所述待測數據集為：

其中，待測質量數據為維度為p的列向量，其中，j＝1,2,…,z。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，計算所述非參數監控統計量包括：

根據參照數據集計算參照二范數集，

根據待測數據集計算待測二范數集，

根據參照二范數集和待測二范數集計算非參數監控統計量。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述參照二范數集為

其中，

所述待測二范數集為：

其中，

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述非參數監控統計量為

其中，

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，若存在或則判定生產過程失控，否則認為過程依然處于受控狀態。