[發明專利]殘影測試方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 202110661920.8
• 申請日: 2021-06-15
• 公開（公告）號: CN113345356B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 高靜巖
• 申請（專利權）人: 合肥維信諾科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260
• 代理人: 成麗杰

1.一種殘影測試方法，其特征在于，包括：

分別獲取在至少兩種顏色的純色畫面下待測顯示面板的殘影測試參數值，并根據不同顏色純色畫面下的所述殘影測試參數值確定殘影評價值，所述殘影評價值用于表征所述顯示面板的殘影程度；

其中獲取待測顯示面板任意一種顏色純色畫面下所述待測顯示面板的所述殘影測試參數值，包括以下步驟：

獲取所述待測顯示面板顯示初始顯示畫面時，所述待測顯示面板中相鄰設置的第一區域和第二區域的初始顯示參數，所述初始顯示畫面中所述第一區域和所述第二區域處于第一灰階；

獲取所述待測顯示面板從初始顯示畫面切換至第一顯示畫面預設時長后又切換回所述初始顯示畫面后，所述第一區域和所述第二區域的第一顯示參數，其中，所述第一顯示畫面中所述第一區域處于第二灰階、所述第二區域處于第三灰階，所述第一灰階大于所述第二灰階且小于所述第三灰階；

根據所述初始顯示參數和所述第一顯示參數確定所述殘影測試參數值；

所述根據不同顏色純色畫面下的所述殘影測試參數值確定殘影評價值，包括：

根據不同顏色純色畫面下的所述殘影測試參數值、以及預先設置的不同顏色純色畫面下時所述殘影測試參數值的權重值確定殘影評價值，某一顏色對應的波長越短，則所述顏色相應的純色畫面下殘影測試參數值的權重值越大。

2.根據權利要求1所述的殘影測試方法，其特征在于，所述殘影測試參數值包括：亮度差和色差；所述初始顯示參數包括：初始亮度值和初始色坐標；所述第一顯示參數包括：第一亮度值和第一色坐標；

所述根據所述初始顯示參數和所述第一顯示參數確定所述殘影測試參數值包括：

根據所述初始亮度值和所述第一亮度值計算亮度差；

根據所述初始色坐標和所述第一色坐標計算色差，所述色差表示所述初始色坐標和所述第一色坐標之間的距離。

3.根據權利要求2所述的殘影測試方法，其特征在于，所述色差Δu'v'通過以下公式計算：

Δu'v'＝{[(u'_A(t)-u'_B(t))²+(v'_A(t)-v'_B(t))²]-[(u'_A(0)-u'_B(0))²+(v'_A(0)-v'_B(0))²]}/m

其中，u'_A(0)為第一區域的初始色坐標的橫坐標，v'_A(0)為第一區域的初始色坐標的縱坐標；u'_B(0)為第二區域的初始色坐標的橫坐標，v'_B(0)為第二區域的初始色坐標的縱坐標；u'_A(t)為第一區域的初始色坐標的橫坐標，v'_A(t)為第一區域的初始色坐標的縱坐標；u'_B(t)為第二區域的初始色坐標的橫坐標，v'_B(t)為第二區域的初始色坐標的縱坐標，m為衡量色差的最小單元。

4.根據權利要求2所述的殘影測試方法，其特征在于，所述亮度差ΔL通過以下公式計算：

其中，L(0)_A為第一區域的初始亮度值，L(0)_B為第二區域的初始亮度值；L(t)_A為第二區域的初始亮度值，L(t)_B為第二區域的初始亮度值。

5.根據權利要求1所述的殘影測試方法，其特征在于，所述測試參數值包括：亮度差和色差；

所述顏色對應的波長越短，則所述顏色相應的純色畫面下色差的權重值越大，同一顏色純色畫面下所述亮度差的權重值為負數倍的所述色差。

6.根據權利要求1所述的殘影測試方法，其特征在于，所述至少兩種顏色包括：紅色、綠色、藍色中的任意兩者。

7.根據權利要求1所述的殘影測試方法，其特征在于，所述第一灰階為L48，所述第二灰階為L0，所述第三灰階為L255。