[發(fā)明專利]基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110658984.2
• 申請(qǐng)日: 2021-06-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113393437A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王穎;張偉;張勇;趙松;盧業(yè)能;沈健;陳召全
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中航華東光電有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/30;G06T7/35;G06T5/00
• 代理公司: 北京潤(rùn)平知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 董杰

1.一種基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述缺陷檢測(cè)方法包括依次通過(guò)與模板圖像配準(zhǔn)、差影法處理和形態(tài)學(xué)處理對(duì)OLED顯示模塊的缺陷進(jìn)行判定；其中，

缺陷包括亮暗缺陷和顯示屏或其表面粘接屏蔽濾光片在加工制作過(guò)程中產(chǎn)生的臟點(diǎn)、劃痕。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，亮暗缺陷包括本不應(yīng)亮點(diǎn)卻點(diǎn)亮的點(diǎn)和本應(yīng)點(diǎn)亮卻未點(diǎn)亮的點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，直徑大于0.5mm的壞點(diǎn)為缺陷點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，直徑大于0.1mm的壞點(diǎn)為視覺(jué)疵點(diǎn)，長(zhǎng)度超過(guò)6.25mm的條痕為劃痕。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，與模板圖像配準(zhǔn)時(shí)，檢測(cè)采集圖像角點(diǎn)，根據(jù)圖像角點(diǎn)進(jìn)行配準(zhǔn)，配準(zhǔn)過(guò)程中對(duì)圖像進(jìn)行幾何校正、裁剪、旋轉(zhuǎn)以降低環(huán)境影響；然后，對(duì)配準(zhǔn)圖像進(jìn)行統(tǒng)計(jì)平均以獲取圖像模板；此后，進(jìn)行缺陷檢測(cè)前，檢測(cè)圖像同樣需要根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行配準(zhǔn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，差影法處理包括與模板圖像配準(zhǔn)后，待檢測(cè)圖像與圖像模板需進(jìn)行差分運(yùn)算，以便于找到圖像間差異，即缺陷點(diǎn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，在差分運(yùn)算前，對(duì)圖像進(jìn)行歸一化與去噪處理，以將噪聲在檢測(cè)前期濾除。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，差分運(yùn)算后得到的圖像中缺陷部位呈白斑形式出現(xiàn)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，形態(tài)學(xué)處理包括對(duì)缺陷圖像做開(kāi)運(yùn)算操作，即先膨脹后腐蝕；具體的，先采用’disk’結(jié)構(gòu)元素進(jìn)行開(kāi)運(yùn)算以檢測(cè)缺陷點(diǎn)，再采用’line’結(jié)構(gòu)元素對(duì)圖像開(kāi)運(yùn)算檢測(cè)劃痕；其中，腐蝕與膨脹使用的模板大小相同，放大裂縫和低密度區(qū)域，將圖像中存在的較小的噪聲點(diǎn)濾除，尺寸過(guò)小的噪聲點(diǎn)不會(huì)被誤判作缺陷點(diǎn)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于OLED顯示模塊的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，形態(tài)學(xué)處理后的圖片僅保留了缺陷信息，通過(guò)計(jì)算檢測(cè)出的缺陷像素大小中，只有最大直徑或最大長(zhǎng)度大于或等于規(guī)定像素點(diǎn)數(shù)才能被判定為缺陷點(diǎn)或劃痕。