[發明專利]光電參數多應力在線測試平臺有效
| 申請號: | 202110655378.5 | 申請日: | 2021-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN113295389B | 公開(公告)日: | 2022-09-13 |
| 發明(設計)人: | 郭娟;楊平;楊欣雨;郭佳琪 | 申請(專利權)人: | 江蘇大學 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 212013 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光電 參數 應力 在線 測試 平臺 | ||
本發明公開了光電參數多應力在線測試平臺,包括振動臺、多應力加載機構和積分球;振動臺用于為整個測試平臺加載振動應力;積分球用于測量光電參數;多應力加載機構包括圓形溫控臺、積分球連接部件、鋁基電路板和旋轉分光器;圓形溫控臺的一端與振動臺的動力輸出端連接,圓形溫控臺的另一端貼壁設置鋁基電路板,在與鋁基電路板相對處設置旋轉分光器,旋轉分光器動力連接旋轉步進電機,由旋轉步進電機帶動旋轉分光器旋轉;旋轉分光器配有移動步進電機,用于調節旋轉分光器與鋁基電路板之間的距離;積分球連接部件套裝在圓形溫控臺外部且與積分球的窗口連接,鋁基電路板、旋轉分光器均置于積分球內部,本平臺可完成溫度、振動、電流的完全耦合加載的在線測量LED光電參數。
技術領域
本發明屬于測試技術領域,尤其是一種針對LED光電參數測量的小型多應力復合加載在線測試系統。
背景技術
對于理論壽命25000小時的半導體發光二極管(light emitting diode,LED)來說,采用傳統照明產品的壽命試驗方法,LED照明產品需要進行不少于6000小時的測試,并且每隔1000小時在環境溫度25℃,額定電流(電壓)條件下記錄光度學參數,這顯然是對質檢機構和生產廠家人力、物力、財力的極大損耗。為了縮短壽命試驗時間,加速壽命試驗在不改變失效機理的條件下,用加大應力的方法加快產品的老化,從而在短時間內獲得產品的失效信息,進而外推出其在正常應力條件下的壽命特征。
加速壽命試驗的加速應力可以是溫度、電流、振動等等因素,現有加速壽命測試平臺大都采用的是非在線測量方式,也就是,LED樣品在應力加速裝置中加速老化,每個加速應力水平的老化完成后,都要將樣品從加速老化裝置中取下,在正常工作條件下冷卻2小時,到光電參數測試設備中,測試加載應力后LED光色電參數的變化量(這里的測量參數可以是光通量,色溫,結溫,色漂移等),光色電參數測試完成后,該LED樣品再回到加速應力設備中進入下一個加速老化周期,直到在測量參數中找到產生明顯改變的數據點,以此預測該樣品的壽命。這樣的測試方法,從模擬LED的老化來說,LED的老化過程不時中斷,存在原理誤差;另外,加速應力裝置與光電參數測試設備分離,在光電測試設備上難以直接完成被測LED芯片完全的多應力耦合。
發明內容
為了解決現有技術中存在的不足,本發明提出了一種光電參數多應力在線測試平臺,可以完成溫度、振動、電流的完全耦合加載的在線測量LED光電參數。
本發明所采用的技術方案如下:
光電參數多應力在線測試平臺,包括振動臺、多應力加載機構和積分球;所述振動臺用于為整個測試平臺加載振動應力;所述積分球用于測量光電參數;所述多應力加載機構包括圓形溫控臺、積分球連接部件、鋁基電路板和旋轉分光器;圓形溫控臺的一端與振動臺的動力輸出端連接,圓形溫控臺的另一端貼壁設置鋁基電路板,在與鋁基電路板相對處設置旋轉分光器,旋轉分光器動力連接旋轉步進電機,由旋轉步進電機帶動旋轉分光器旋轉;所述旋轉分光器配有移動步進電機,用于調節旋轉分光器與鋁基電路板之間的距離;所述積分球連接部件套裝在圓形溫控臺外部且與積分球的窗口連接,鋁基電路板、旋轉分光器均置于積分球內部。
進一步,在鋁基電路板上沿周向均勻安裝n個LED芯片。
進一步,在旋轉分光器與鋁基電路板相對的側面上沿圓周方向陣列設置n-1個盲孔和1個通孔,且這些孔與鋁基電路板上待檢測的LED芯片相對設置。
進一步,所述圓形溫控臺內部,裝有熱阻絲,熱阻絲通過導線連接控溫器,通過控溫器向圓形溫控臺加載一定的熱量,用于模擬為LED芯片加載溫度應力。
進一步,LED芯片通過導線連接電流控制器,由電流控制器控制LED芯片電流大小,用于模擬為LED芯片加載電流應力。
進一步,旋轉分光器呈圓盤狀,且在旋轉分光器的中心位置開有連接孔,通過該連接孔實現旋轉分光器與旋轉步進電機的動力輸之間的連接,進而實現旋轉步進電機和旋轉分光器之間的動力傳輸。
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