[發(fā)明專利]一種芯片及其切割方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110652881.5 | 申請日: | 2021-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN113394312B | 公開(公告)日: | 2023-03-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周智斌 | 申請(專利權(quán))人: | 湘能華磊光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/14 |
| 代理公司: | 長沙七源專利代理事務所(普通合伙) 43214 | 代理人: | 張勇;周曉艷 |
| 地址: | 423038 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 及其 切割 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種芯片切割方法,包括制備芯片和切割芯片,其中切割芯片時,采用激光隱形切割工藝對若干個芯片的襯底進行分割,激光隱形切割工藝包括至少兩次切割深度依次遞減的激光切割,其中,第一次激光切割采用高頻率、高功率和高速度的切割方式;由多次激光切割形成的激光點陣中,沿切割深度方向排列的同列激光點之間的偏移量小于10微米;本發(fā)明還提供了一種通過上述芯片切割方法制備的芯片。本發(fā)明可以更加有效的控制激光切割時產(chǎn)生的延伸紋路,使芯片側(cè)壁粗化,便于實現(xiàn)光的取出;通過后續(xù)的激光切割可進一步釋放第一次激光切割產(chǎn)生的應力,進一步的控制襯底側(cè)壁的裂紋,確保在切割過程中不會導致芯片的漏電,提升芯片的IR良率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及芯片制造技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種芯片及其切割方法。
背景技術(shù)
隨著人們對健康的關(guān)注意識的增加,人們對消菌殺毒產(chǎn)品的需求呈爆發(fā)性增長,UVC(短波紫外線)LED芯片是由第三代半導體材料GaN制備而成的,在性能方面具有使用壽命長、安全環(huán)保、可用于殺菌消毒等特點,但是UVC芯片在進行切割時容易由于生產(chǎn)工藝不成熟而導致芯片切割不良,易產(chǎn)生雙胞現(xiàn)象,導致芯片切割良率較低,制約著UVC芯片的廣泛使用。
綜上所述,急需一種芯片及其切割方法以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種芯片及其切割方法,以解決芯片切割時易出現(xiàn)切割不良的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種芯片切割方法,包括以下步驟:
制備芯片:在襯底上制備若干個芯片;
切割芯片:采用激光隱形切割工藝對若干個芯片的襯底進行分割,激光隱形切割工藝包括至少兩次切割深度依次遞減的激光切割,所述切割深度具體指激光焦點與襯底底面之間的距離;其中,第一次激光切割采用高頻率、高功率和高速度的切割方式;由多次激光切割形成的激光點陣中,沿切割深度方向排列的同列激光點之間的偏移量小于10微米。
優(yōu)選的,所述第一次激光切割采用的激光頻率為90~110kHz,采用的激光打點功率為0.36~0.56W,激光切割速度為450~650mm/s。
優(yōu)選的,所述第一次激光切割的激光焦點距離芯片電流擴展層的距離為70~120微米,最后一次激光切割的切割深度為20~40微米。
優(yōu)選的,所述制備芯片步驟中得到的芯片的厚度為300~420微米,第一次激光切割的切割深度為100~150微米。
優(yōu)選的,最后一次激光切割的激光切割速度為300~400mm/s。
優(yōu)選的,所述切割芯片步驟包括四次切割深度依次遞減的激光切割;其中,第二次激光切割的切割深度為70~100微米,第三次激光切割的切割深度為50~80微米。
優(yōu)選的,激光切割采用的激光波長為950~1100納米。
優(yōu)選的,所述制備芯片步驟包括先在襯底上依次生長AlN層、N型AlGaN層、MQW層、P型AlGaN層、P型GaN層;再制備出電流擴展層、P電極層、N電極層、絕緣層和接觸電極層。
優(yōu)選的,所述制備芯片步驟還包括對襯底進行研磨減薄。
本發(fā)明還提供了一種芯片,采用上述的芯片切割方法制成,包括沿高度方向依次層疊設(shè)置的襯底、AlN層、N型AlGaN層、MQW層、P型AlGaN層、P型GaN層、電流擴展層、絕緣層和接觸電極層;還包括設(shè)置于P型GaN層上的P電極層和設(shè)置于N型AlGaN層上的N電極層。
應用本發(fā)明的技術(shù)方案,具有以下有益效果:
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