[發明專利]一種晶圓級芯片模壓封裝方法及晶圓級芯片在審
| 申請號: | 202110652686.2 | 申請日: | 2021-06-09 |
| 公開(公告)號: | CN113394311A | 公開(公告)日: | 2021-09-14 |
| 發明(設計)人: | 王吉;徐群;曹培紅 | 申請(專利權)人: | 王吉;徐群;曹培紅 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0203;H01L33/52 |
| 代理公司: | 蘇州謹和知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 徐磊 |
| 地址: | 新加坡兀蘭8*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 晶圓級 芯片 模壓 封裝 方法 | ||
1.一種晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟20,電路板與模具校準,包括將已黏貼晶粒、焊接好元件的電路板與所述模具校準并裝配成套;
步驟30,常溫注膠,包括將液態環氧注射入已組裝晶粒的所述模具中;
步驟40,膠液固化,包括使所述液態環氧固化成型,使已黏貼晶粒的所述電路板和所述液態環氧形成已封裝的晶圓;
步驟50,晶圓脫模,包括將封裝后的所述晶圓從所述模具種分離,將所述晶圓切割形成封裝完成的晶片。
2.根據權利要求1所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,在所述步驟20之前,還包括:
步驟10,模具預處理,包括將所述液態環氧注射入所述模具。
3.根據權利要求2所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,所述液態環氧為無色液態環氧或無色液態硅膠,且內嵌入紅外濾光材料。
4.根據權利要求2所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,所述液態環氧由全自動噴射器注射入所述模具。
5.根據權利要求2所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,在所述步驟10中:
注射入所述模具的所述液態環氧,位于電路板與模具校準時的與所述晶粒對應粘結的位置。
6.根據權利要求1所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,在所述步驟30中:
常溫注膠時,采用全自動注膠機使用正壓或負壓輔助注膠。
7.根據權利要求1所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,在所述步驟40中:
使用加熱、增壓或紫外線固化方式以使所述液態環氧固化成型。
8.根據權利要求1所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,在所述步驟50中:
晶圓脫模時,采用半自動脫模機將封裝后的所述晶圓從所述模具種分離;采用全自動切割機將所述晶圓切割。
9.一種晶圓級芯片,其特征在于,采用如權利要求1-8中任一項所述的晶圓級芯片模壓封裝方法制造。
10.根據權利要求9所述的晶圓級芯片模壓封裝方法,其特征在于,所述晶圓級芯片為光學芯片。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





