[發明專利]反射結構及包含該結構的微粒測量裝置及其檢測方法

在審

• 申請號: 202110652394.9
• 申請日: 2021-06-11
• 公開（公告）號: CN113358533A
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: 宋卓
• 申請（專利權）人: 宋卓
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 上海大邦律師事務所 31252
• 代理人: 李蓉

1.反射結構，其特征在于：所述反射結構包括

鏡體，所述鏡體具有反射面以用于反射散射光信號；

孔，所述孔開設于所述鏡體，所述孔用于透射出射直射光并且所述孔的中心與所述出射直射光的光軸同軸。

2.如權利要求1所述的反射結構，其特征在于：所述鏡體的反射面具有單一尺寸時滿足以下關系式：

D₁＝f×tanθ/cosψ

其中D₁表示反射面直徑，f表示鏡頭焦距，θ表示散射光信號半收光角度，ψ表示散射光信號在鏡體上的入射角。

3.如權利要求1所述的反射結構，其特征在于：所述鏡體的反射面具有至少兩個尺寸時滿足以下關系式：

L₁＝f×tanθ/cosψ

L₂＝f×tanθ

其中L₁表示反射面長度，L₂表示反射面寬度，f表示鏡頭焦距，θ表示散射光信號半收光角度，ψ表示散射光信號在鏡體上的入射角。

4.如權利要求1所述的反射結構，其特征在于：所述孔的孔徑滿足以下關系式：

D₂＝f×tanθ/cosψ

其中D₂表示孔的孔徑，f表示鏡頭焦距，θ表示出射直射光半發散角，ψ表示出射直射光在鏡體上的入射角。

5.如權利要求4所述的反射結構，其特征在于：所述孔的中心與所述鏡體的中心同軸設置。

6.如權利要求4所述的反射結構，其特征在于：所述孔的中心與所述鏡體非同軸設置。

7.一種微粒測量裝置，其特征在于：包括光源、如權利要求1～6任意一項所述反射結構、至少一第一鏡頭、流動室、探測器以及遮擋元件，其中

所述光源用于發射照明光束；

所述第一鏡頭用于將所述照明光束聚焦至所述流動室的中心；

所述流動室用于使包含顆粒的液滴依次受所述照明光束照射并產生出射直射光及至少一散射光信號；

所述反射結構用于將所述出射直射光以及至少一所述散射光信號分離；

所述探測器用于接收及檢測所述散射光信號；

所述遮擋元件用于遮擋和/或消除所述出射直射光。

8.如權利要求7所述的一種微粒測量裝置，其特征在于：當所述照明光束的入射方向與所述出射直射光及所述散射光信號的出射方向相同時，所述反射結構設置于所述流動室與所述遮擋元件之間。

9.如權利要求7所述的一種微粒測量裝置，其特征在于：當所述照明光束的入射方向與所述出射直射光及所述散射光信號的出射方向相反時，所述反射結構設置于所述流動室與所述光源之間。

10.如權利要求8所述的一種微粒測量裝置，其特征在于：所述微粒測量裝置還包括至少一第二鏡頭，所述第二鏡頭設置于所述流動室與所述反射結構之間，以用于將所述出射直射光及所述散射光信號匯聚成平行光束。

11.如權利要求7所述的一種微粒測量裝置，其特征在于：所述微粒測量裝置還包括至少一衰減片及至少一濾光片，其中

所述衰減片用于減弱所述散射光信號的光強；

所述濾光片用于通過指定的散射光信號。

12.如權利要求11所述的一種微粒測量裝置，其特征在于：所述微粒測量裝置還包括至少一第三鏡頭，所述第三鏡頭設置于所述濾光片的出射端，以用于通過所述濾光片的指定的散射光信號會聚。

13.微粒測量裝置的檢測方法，其特征在于：

光源發射照明光束；

照明光束照射微粒顆粒并產生光信號，所述光信號包括出射直射光及散射光信號；

通過反射結構分離所述出射直射光和所述散射光信號；

通過遮擋元件消除所述出射直射光以及通過探測元件接收及檢測所述散射光信號。