[發明專利]一種用于向元件載體裝配電子元件的裝配機及其方法

有效

• 申請號: 202110652324.3
• 申請日: 2021-06-11
• 公開（公告）號: CN113811178B
• 公開（公告）日: 2023-04-11
• 發明（設計）人: 大衛·拉杰凱
• 申請（專利權）人: 先進裝配系統有限責任兩合公司
• 主分類號: H05K13/08
• 分類號: H05K13/08;H05K13/04
• 代理公司: 北京申翔知識產權代理有限公司 11214
• 代理人: 艾晶

1.一種用于向元件載體（380A、380B）裝配元件（190、390a）的方法，所述方法包括：

（a）將第一元件載體（380A）引入到裝配機（100）的裝配區域中；

（b）測量構造在所引入的第一元件載體（380A）上的標記（382A）的位置；

（c）在預定裝配位置處向所述第一元件載體（380A）裝配多個第一元件（190、390a），其中，所述預定裝配位置均為相對于所述標記（382A）的測量位置的相對位置；

（d）針對所裝配的多個第一元件（190、390a）中的至少一個元件（390a），測定相對于所述標記（382A）的測量位置的實際相對位置；

（e）針對所裝配的多個第一元件（190、390a）中的至少一個元件（390a），確定所測定的實際相對位置與相關聯的目標相對位置之間的偏移量（384），已基于所述目標相對位置將相關元件（390a）裝配在所述第一元件載體（380A）上；

（f）從所述裝配區域中移取所述第一元件載體（380A）；

（g）將第二元件載體（380B）引入到所述裝配區域中；以及

（h）在另外的預定裝配位置處向所述第二元件載體（380B）裝配多個第二另外的元件，其中，

所述另外的預定裝配位置取決于所確定的偏移量（384）。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，

針對所裝配的多個第一元件（190、390a）中的至少兩個元件（390a），各測定相對于所測量的標記（382A）的位置的實際相對位置；

針對所裝配的多個第一元件（190、390a）中的至少兩個元件（390a），分別確定所各測定的實際相對位置與相關聯的目標相對位置之間的偏移量（384），已基于所述目標相對位置將相關元件（390a）裝配在所述第一元件載體（380A）上；以及

當在所述另外的預定裝配位置處向所述第二元件載體（380B）裝配所述多個第二另外的元件時，所述另外的預定裝配位置取決于所各確定的偏移量（384）。

3.根據權利要求1或2所述的方法，進一步包括：

測量同樣構造在所述第一元件載體（380A）上的至少一個另外的標記（382A）的位置，其中，

預定裝配位置也均為相對于所述至少一個另外的標記（382A）的位置的相對位置，且其中，

還測定相對于所述至少一個另外的標記（382A）的測量位置的實際相對位置。

4.根據權利要求2所述的方法，還包括：

測量同樣構造在所述第一元件載體（380A）上的至少一個另外的標記（382A）的位置，其中，

預定裝配位置也均為相對于所述至少一個另外的標記（382A）的位置的相對位置，且其中，

還測定相對于所述至少一個另外的標記（382A）的測量位置的實際相對位置；以及

其中，

測定所裝配的多個第一元件（190、390a）中的第一元件（390a）相對于所述標記（382A）的第一實際相對位置，以及

測定所裝配的多個第一元件（190、390a）中的第二元件（390a）相對于所述另外的標記（382A）的第二實際相對位置。

5.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

在向所述第一元件載體（380A）裝配所述多個第一元件（190、390a）之后，

重新測量所述標記（382A）的位置；

計算所述標記（382A）的重新測量位置與所述標記（382A）的先前測量位置之間的距離（D）；以及

將計算出的距離與預定最大值（Dmax）進行比較。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，

如果計算出的距離（D）低于所述預定最大值（Dmax）或等于所述預定最大值（Dmax），

則執行進一步的方法步驟（d）、（e）、（f）、（g）和（h）。

7.根據權利要求5所述的方法，其中，

如果計算出的距離（D）超過所述預定最大值（Dmax），

則所述方法中止，并在稍晚的時刻重新執行根據權利要求1所述的方法。