[發(fā)明專利]分光結(jié)構(gòu)及包含該結(jié)構(gòu)的微粒檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110652063.5
• 申請(qǐng)日: 2021-06-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113358570A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋卓
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 宋卓
• 主分類號(hào): G01N21/01
• 分類號(hào): G01N21/01;G01N21/64
• 代理公司: 上海大邦律師事務(wù)所 31252
• 代理人: 李蓉

1.分光結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述分光結(jié)構(gòu)包括

至少一第一鏡體，所述第一鏡體用于接收光信號(hào)并將所述光信號(hào)分離為第一光信號(hào)和第二光信號(hào)；

第一光學(xué)組件，所述第一光學(xué)組件設(shè)置于所述第一鏡體的出射端，所述第一光學(xué)組件用于接收所述第一光信號(hào)并將所述第一光信號(hào)分離成不同方向及不同光譜的第一待檢熒光信號(hào)；

至少一第二鏡體，所述第二鏡體用于接收所述第二光信號(hào)并將所述第二光信號(hào)反射；

第二光學(xué)組件，所述第二光學(xué)組件用于接收反射的所述第二光信號(hào)并分離為不同方向及不同光譜的第二待檢熒光信號(hào)。

2.如權(quán)利要求1所述的分光結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述第一光學(xué)組件包括至少一第三鏡體以及第四鏡體，其中

所述第三鏡體為單個(gè)時(shí)，所述第四鏡體位于所述第三鏡體的出射端；

所述第三鏡體為多個(gè)時(shí)，所述第四鏡體位于末端第三鏡體的出射端。

3.如權(quán)利要求1所述的分光結(jié)構(gòu)，其特征在于：所述第二光學(xué)組件包括至少一第五鏡體以及第六鏡體，其中

所述第五鏡體為單個(gè)時(shí)，所述第六鏡體位于所述第五鏡體的出射端；

所述第五鏡體為多個(gè)時(shí)，所述第六鏡體位于末端第五鏡體的出射端。

4.如權(quán)利要求2所述的分光結(jié)構(gòu)，其特征在于：在所述第一光學(xué)組件的出射端設(shè)置第一濾光模組。

5.如權(quán)利要求3所述的分光結(jié)構(gòu)，其特征在于：在所述第二光學(xué)組件的出射端設(shè)置第二濾光模組。

6.微粒檢測(cè)裝置，其特征在于：所述微粒檢測(cè)裝置包括光源、流動(dòng)室、如權(quán)利要求1～5任意一項(xiàng)所述的分光結(jié)構(gòu)以及至少一探測(cè)器，其中

所述光源用于發(fā)射光束；

所述流動(dòng)室用于限制顆粒流動(dòng)，所述顆粒在所述流動(dòng)室被所述光束照射產(chǎn)生熒光光束；

所述探測(cè)器用于接收從所述分光結(jié)構(gòu)出射的第一待檢熒光信號(hào)以及第二待檢熒光信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。

7.如權(quán)利要求6所述的微粒檢測(cè)裝置，其特征在于：所述分光結(jié)構(gòu)設(shè)置于所述流動(dòng)室的出射端。

8.如權(quán)利要求6所述的微粒檢測(cè)裝置，其特征在于：所述分光結(jié)構(gòu)的一部分設(shè)置于所述流動(dòng)室的入射端，所述分光結(jié)構(gòu)的另一部分設(shè)置于所述流動(dòng)室的出射端。

9.一種微粒檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟：

光源輸出光束；

所述光束照射于流經(jīng)流動(dòng)室的微粒并產(chǎn)生熒光信號(hào)，所述熒光信號(hào)由所述分光結(jié)構(gòu)的一部分分離為第一熒光信號(hào)和第二熒光信號(hào)；

所述分光結(jié)構(gòu)的另一部分接收所述第一熒光信號(hào)和所述第二熒光信號(hào)并由檢測(cè)器檢測(cè)。

10.一種微粒檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟：

光源輸出光束；

所述光束由分光結(jié)構(gòu)的一部分分離為第一光信號(hào)和第二光信號(hào)，所述第一光信號(hào)和所述第二光信號(hào)照射流經(jīng)流動(dòng)室的微粒形成第一熒光信號(hào)和第二熒光信號(hào)；

所述分光結(jié)構(gòu)的另一部分接收所述第一熒光信號(hào)和第二熒光信號(hào)并由檢測(cè)器檢測(cè)。