[發(fā)明專利]一種球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法、系統(tǒng)及終端在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110648947.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113447730A | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余浪;吳曈;汪淵;鄧方科;李冬;楊迅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都華芯天微科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R29/10 | 分類號(hào): | G01R29/10 |
| 代理公司: | 成都華風(fēng)專利事務(wù)所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 張巨箭 |
| 地址: | 610000 四川省成都市中國(guó)(四川)自由*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 球面 天線 近場(chǎng) 校準(zhǔn) 掃描 方法 系統(tǒng) 終端 | ||
1.一種球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法,其特征在于:所述方法包括通道校準(zhǔn)步驟,具體包括:
獲取球面天線中各通道在球面上的空間坐標(biāo)及朝向信息;
根據(jù)所述空間坐標(biāo)及朝向信息計(jì)算各通道與六軸機(jī)械臂的球坐標(biāo)映射關(guān)系,進(jìn)而控制攜帶有測(cè)試探頭的六軸機(jī)械臂運(yùn)動(dòng)至球面天線各通道;
采集六軸機(jī)械臂運(yùn)動(dòng)至球面天線對(duì)應(yīng)通道時(shí)的幅相數(shù)據(jù),直至完成所有通道的幅相數(shù)據(jù)采集,得到幅相數(shù)據(jù)補(bǔ)償表;
根據(jù)所述幅相數(shù)據(jù)補(bǔ)償表在波束合過(guò)程中對(duì)相應(yīng)的通道進(jìn)行幅度、相位補(bǔ)償處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法,其特征在于:所述采集六軸機(jī)械臂運(yùn)動(dòng)至球面天線對(duì)應(yīng)通道時(shí)的幅相數(shù)據(jù)具體包括:
產(chǎn)生測(cè)試信號(hào),測(cè)試信號(hào)經(jīng)測(cè)試探頭輻射至球面天線,采集球面天線接收的測(cè)試信號(hào),進(jìn)而實(shí)現(xiàn)幅相數(shù)據(jù)的采集,或者:
產(chǎn)生測(cè)試信號(hào),測(cè)試信號(hào)經(jīng)球面天線輻射至測(cè)試探頭,采集測(cè)試探頭接收的測(cè)試信號(hào),進(jìn)而實(shí)現(xiàn)幅相數(shù)據(jù)的采集。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法,其特征在于:所述通道校準(zhǔn)步驟還包括通道互耦及空間干擾去除子步驟,具體包括:
產(chǎn)生具有第一幅度相位值的測(cè)試信號(hào)并輸入至當(dāng)前通道,采集當(dāng)前通道反饋測(cè)試信號(hào)中的第一幅相值數(shù)據(jù)a;
產(chǎn)生具有第二幅度相位值的測(cè)試信號(hào)并輸入至當(dāng)前通道,采集當(dāng)前通道反饋的測(cè)試信號(hào)的第二幅相值數(shù)據(jù)b,且第二幅度相位值為第一幅度相位值的反向狀態(tài),則當(dāng)前通道的真實(shí)幅相數(shù)據(jù)a1為:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法,其特征在于:所述通道校準(zhǔn)步驟還包括通道診斷子步驟,具體包括:
產(chǎn)生通道測(cè)試信號(hào)并輸入至待測(cè)通道,所述通道測(cè)試信號(hào)為幅度值保持不變,相位值以步長(zhǎng)n遞增的多個(gè)測(cè)試信號(hào);
分析待測(cè)通道反饋的多個(gè)測(cè)試信號(hào),若待測(cè)通道反饋的多個(gè)測(cè)試信號(hào)的幅度值相同且相位值以步長(zhǎng)n遞增,待測(cè)通道正常,反之,待測(cè)通道異常。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法,其特征在于:所述方法還包括球面掃描步驟,具體包括:
控制六軸機(jī)械臂攜帶測(cè)試探頭沿球面天線進(jìn)行經(jīng)度方向的圓形運(yùn)動(dòng),并以步進(jìn)Δθ采集球面天線當(dāng)前的幅相數(shù)據(jù);
控制安裝有球面天線的一維轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行緯度方向的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),并以步進(jìn)采集球面天線當(dāng)前的幅相數(shù)據(jù);
重復(fù)上述兩個(gè)步驟,直至完成經(jīng)度方向、緯度方向的全掃描,獲得球面天線全方向的測(cè)試數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法,其特征在于:所述獲得球面天線全方向的測(cè)試數(shù)據(jù)后還包括:
將球面天線全方向的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行球面波展開,實(shí)現(xiàn)球面天線測(cè)試方向圖的繪制。
7.一種終端,包括存儲(chǔ)器和處理器,所述存儲(chǔ)器上存儲(chǔ)有能夠在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)指令,其特征在于:所述處理器運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)指令時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-6任意一項(xiàng)所述一種球面天線近場(chǎng)校準(zhǔn)與掃描方法的系統(tǒng),其特征在于:所述系統(tǒng)包括屏蔽暗室,還包括設(shè)于屏蔽暗室的六軸機(jī)械臂、一維轉(zhuǎn)臺(tái)、控制與數(shù)據(jù)處理子系統(tǒng)和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,所述六軸機(jī)械臂上攜帶有測(cè)試探頭,一維轉(zhuǎn)臺(tái)上安裝有球面天線;
所述測(cè)試探頭、球面天線均與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀連接,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、球面天線、六軸機(jī)械臂、一維轉(zhuǎn)臺(tái)與控制與數(shù)據(jù)處理子系統(tǒng)連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述系統(tǒng),其特征在于:所述屏蔽暗室上鋪設(shè)有吸波材料,吸波材料長(zhǎng)度大于等于1/2倍球面天線的最長(zhǎng)波長(zhǎng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述系統(tǒng),其特征在于:所述系統(tǒng)還包括測(cè)試接口盒,測(cè)試接口盒上集成有射頻接口、控制接口,所述球面天線經(jīng)射頻接口與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀連接,球面天線經(jīng)控制接口與控制與數(shù)據(jù)處理子系統(tǒng)連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
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