[發(fā)明專利]一種圖像差異檢測(cè)方法和裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110646644.8 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113554592A | 公開(公告)日: | 2021-10-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳南博;趙軍明;張偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州芯聯(lián)成軟件有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T5/00;G06N3/08 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103 | 代理人: | 范晴 |
| 地址: | 215123 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 圖像 差異 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種圖像差異檢測(cè)方法和裝置。其中,所述方法應(yīng)用于集成電路中,包括:對(duì)采集到的樣本圖像進(jìn)行預(yù)處理;構(gòu)建基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的差異檢測(cè)模型;根據(jù)預(yù)處理后的樣本圖像對(duì)所述差異檢測(cè)模型進(jìn)行模型訓(xùn)練,以得到目標(biāo)差異檢測(cè)模型;根據(jù)目標(biāo)差異檢測(cè)模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè),確定所述待檢測(cè)圖像之間的差異信息并根據(jù)所述差異信息確定出異常圖像數(shù)據(jù)。本實(shí)施例的技術(shù)方案,通過神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建的目標(biāo)差異檢測(cè)模型對(duì)圖像差異進(jìn)行檢測(cè),能夠提高海量圖像差異檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確率,最終大幅提高超大規(guī)模數(shù)字電路提取的速率和準(zhǔn)確率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及集成電路圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種圖像差異檢測(cè)方法和裝置。
背景技術(shù)
隨著IC設(shè)計(jì)的迅猛發(fā)展,集成電路的集成度越來越高,數(shù)字電路的規(guī)模也越來越大。
對(duì)于百萬門級(jí)乃至千萬門級(jí)以上規(guī)模的電路,數(shù)字門電路中基本單元類型相同但驅(qū)動(dòng)和尺寸不同的電路較為普遍,這些基本單元在圖像上差異較細(xì)微(參見圖1a中的A區(qū)域和圖1b中的B區(qū)域),現(xiàn)有的人工執(zhí)行的實(shí)例確認(rèn)流程和算法已不能滿足需求。
并且,人工透視確認(rèn)存在主觀因素,視覺疲勞易引起誤檢,現(xiàn)有的實(shí)例確認(rèn)流程和算法不僅耗費(fèi)巨大的人力資源,最終的電路提取速率和準(zhǔn)確率也不高,阻礙了高效電路分析的愿景。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種圖像差異檢測(cè)方法和裝置,以提高海量圖像差異檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確率,最終大幅提高超大規(guī)模數(shù)字電路提取的速率和準(zhǔn)確率。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種圖像差異檢測(cè)方法,應(yīng)用于集成電路中,包括:
對(duì)采集到的樣本圖像進(jìn)行預(yù)處理;
構(gòu)建基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的差異檢測(cè)模型;
根據(jù)預(yù)處理后的樣本圖像對(duì)所述差異檢測(cè)模型進(jìn)行模型訓(xùn)練,以得到目標(biāo)差異檢測(cè)模型;
根據(jù)目標(biāo)差異檢測(cè)模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè),確定所述待檢測(cè)圖像之間的差異信息并根據(jù)所述差異信息確定出異常圖像數(shù)據(jù)。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種異常圖像檢測(cè)裝置,應(yīng)用于集成電路中,所述裝置包括:
預(yù)處理模塊,用于對(duì)采集到的樣本圖像進(jìn)行預(yù)處理;
模型構(gòu)建模塊,用于構(gòu)建基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的差異檢測(cè)模型;
模型訓(xùn)練模塊,用于根據(jù)預(yù)處理后的樣本圖像對(duì)所述差異檢測(cè)模型進(jìn)行模型訓(xùn)練,以得到目標(biāo)差異檢測(cè)模型;
檢測(cè)模塊,用于根據(jù)目標(biāo)差異檢測(cè)模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè),確定所述待檢測(cè)圖像之間的差異信息并根據(jù)所述差異信息確定出異常圖像數(shù)據(jù)。
本發(fā)明通過對(duì)采集到的樣本圖像進(jìn)行預(yù)處理,并構(gòu)建基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的差異檢測(cè)模型,進(jìn)而根據(jù)預(yù)處理后的樣本圖像對(duì)差異檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練以得到目標(biāo)差異檢測(cè)模型,最終利用訓(xùn)練后的目標(biāo)差異檢測(cè)模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行差異檢測(cè)。通過神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建的目標(biāo)差異檢測(cè)模型對(duì)圖像差異進(jìn)行檢測(cè),能夠提高海量圖像差異檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確率,最終大幅提高超大規(guī)模數(shù)字電路提取的速率和準(zhǔn)確率。
附圖說明
圖1a和圖1b為顯微圖像的細(xì)微差異對(duì)比圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種圖像差異檢測(cè)方法的流程圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例二提供的基本單元diff(有源)層圖像;
圖4為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種基本單元的二值圖;
圖5a為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種基本單元模板圖像;
圖5b為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種基本單元實(shí)例圖像;
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