[發明專利]膠路質量分析方法、設備、系統及存儲介質

在審

• 申請號: 202110639699.6
• 申請日: 2021-06-08
• 公開（公告）號: CN113487539A
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 楊延竹;彭明;張旭堂;于波;張華
• 申請（專利權）人: 深圳市格靈精睿視覺有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/66;G06T5/00
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 洪銘福

1.一種膠路質量分析方法，其特征在于，包括：

獲取待測工件的膠路的膠路點云數據，并獲取所述待測工件的膠路的中心線位置信息，所述膠路點云數據包括：膠路底部點云數據、膠路截面點云數據；

根據所述膠路底部點云數據和預設擬合算法確定膠底平面；

根據所述膠路截面點云數據和預設膠高閾值范圍確定第一點云數據，并根據第一點云數據和預設算法確定峰值點位置信息；

根據所述峰值點位置信息和所述中心線位置信息的差值確定中心線偏差值；

根據所述峰值點位置信息和所述膠底平面確定膠路高度，根據所述膠路截面點云數據、所述膠底平面和預設距離閾值范圍確定膠路寬度；

根據所述中心線偏差值、所述膠路高度、所述膠路寬度和預設質量分析閾值范圍確定質量分析結果。

2.根據權利要求1所述的膠路質量分析方法，其特征在于，還包括：

采集所述待測工件的多個標記點，并根據所述多個標記點確定所述待測工件的相對位姿；

根據所述待測工件的所述相對位姿確定掃描路徑，并根據所述掃描路徑掃描所述待測工件的所述膠路以得到膠路點云數據。

3.根據權利要求2所述的膠路質量分析方法，其特征在于，所述獲取待測工件的膠路的膠路點云數據，并獲取所述待測工件的膠路的中心線位置信息，包括：

獲取所述待測工件的膠路的所述膠路點云數據；

檢測所述待測工件的所述膠路的膠路邊緣數據，根據所述膠路邊緣數據計算所述中心線位置信息，或根據所述待測工件的所述多個標記點計算得到所述待測工件的所述膠路的所述中心線位置信息。

4.根據權利要求1所述的膠路質量分析方法，其特征在于，還包括：

根據所述膠底平面和預設基準平面確定矯正角度；

根據所述矯正角度將所述膠底平面矯正于所述預設基準平面上。

5.根據權利要求1至4任一項所述的膠路質量分析方法，其特征在于，所述根據所述膠路截面點云數據和預設膠高閾值范圍確定第一點云數據，并根據第一點云數據和預設算法確定峰值點位置信息，包括：

將所述膠路截面點云數據中滿足預設膠高閾值范圍的點云數據篩選出來以得到所述第一點云數據；

根據預設排序算法獲取所述第一點云數據中Z軸坐標最高的點以得到所述峰值點位置信息。

6.根據權利要求1至4任一項所述的膠路質量分析方法，其特征在于，所述根據所述峰值點位置信息和所述膠底平面確定膠路高度，根據所述膠路截面點云數據、所述膠底平面和預設距離閾值范圍確定膠路寬度，包括：

根據所述峰值點位置信息和所述膠底平面的距離以得到膠路高度；

計算所述膠路截面點云數據和所述膠底平面的距離以得到第一距離；

獲取所述膠路截面點云數據中所述第一距離位于所述預設距離閾值范圍內的點云數據以得到第二點云數據；

獲取所述第二點云數據中左右邊界的點以得到左邊界點位置信息和右邊界點位置信息；

根據所述左邊界點位置信息和所述右邊界點位置信息確定所述膠路寬度。

7.根據權利要求1至4任一項所述的膠路質量分析方法，其特征在于，所述預設質量分析閾值范圍包括：預設第一閾值范圍、預設第二閾值范圍和預設第三閾值范圍；所述質量分析結果包括：密封度分析結果和尺寸分析結果；所述根據所述中心線偏差值、所述膠路高度、所述膠路寬度和預設質量分析閾值范圍確定膠路質量，包括：

根據所述中心線偏差值和所述預設第一閾值范圍確定所述密封度分析結果；

根據所述膠路高度和所述預設第二閾值范圍、所述膠路寬度和所述預設第三閾值范圍確定所述尺寸分析結果。

8.一種膠路質量分析設備，其特征在于，包括：至少一個處理器，以及，

與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行如權利要求1至7任一項所述的膠路質量分析方法。