[發(fā)明專利]一種低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置及其錄波與故障研判方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110632683.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113406414A | 公開(公告)日: | 2021-09-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何兆磊;林聰;朱夢(mèng)夢(mèng);趙靜;王浩;沈鑫;余恒潔;代盛國(guó);孫黎敏;李亞林;朱全聰;何傲;朱葛;紀(jì)新武;高瀚磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R19/25;G01R23/16;G01R1/30 |
| 代理公司: | 昆明正原專利商標(biāo)代理有限公司 53100 | 代理人: | 金耀生 |
| 地址: | 650073*** | 國(guó)省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 壓臺(tái) 區(qū)分 監(jiān)測(cè) 裝置 及其 故障 研判 方法 | ||
1.一種低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置,包括AC-DC開關(guān)電源、后備電源、DC-DC/LDO電源、業(yè)務(wù)管理芯、三相電壓采樣電路、三相電流采樣電路;其特征在于:還包括電壓計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路、電流計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路和計(jì)量芯片HT7022E電路或SOC芯片RN2026;
所述三相電壓采樣電路、三相電流采樣電路分別通過PT、CT與電壓計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路、電流計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路連接;電壓計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路、電流計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路均與計(jì)量芯片HT7022E電路或SOC芯片RN2026連接,計(jì)量芯片HT7022E電路或SOC芯片RN2026還與業(yè)務(wù)管理芯連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述三相電壓采樣電路采集的三相電壓、三相電流采樣電路采集的三相電流包括零序電流分別經(jīng)過PT、CT隔離后,相關(guān)交采信號(hào)送入電壓計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路、電流計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路進(jìn)行處理,處理后的信號(hào)送入計(jì)量芯片HT7022E電路或SOC芯片RN2026,計(jì)量芯片HT7022E電路或SOC芯片RN2026實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)計(jì)量以及將原始ADC數(shù)據(jù)通過SPI的DMA功能外傳到業(yè)務(wù)管理芯中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:還包括差分轉(zhuǎn)單端運(yùn)放電路,電壓計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路、電流計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路均與差分轉(zhuǎn)單端運(yùn)放電路連接,差分轉(zhuǎn)單端運(yùn)放電路分別與計(jì)量芯片HT7022E電路或SOC芯片RN2026、業(yè)務(wù)管理芯連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述電壓計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路、電流計(jì)量信號(hào)調(diào)理電路處理后的信號(hào)還能通過差分轉(zhuǎn)單端運(yùn)放電路處理后,將故障發(fā)生時(shí)的ADC數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)的傳送到業(yè)務(wù)管理芯中。
5.根據(jù)權(quán)利要求3-4任一項(xiàng)所述的低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述差分轉(zhuǎn)單端運(yùn)放電路由SGM8270 的4通道運(yùn)放組成,一個(gè)SGM8270完成3路電壓或者3路電流的差分轉(zhuǎn)單端,剩余1路運(yùn)放正好可以做電壓跟隨器給直流配置電壓供電。
6.一種低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置的錄波與故障研判方法,其特征在于,所述方法的具體步驟如下:
Step1、系統(tǒng)上電進(jìn)行初始化;
Step2、當(dāng)ADC數(shù)據(jù)產(chǎn)生DMA半滿、滿中斷,在中斷服務(wù)程序中啟動(dòng)專用SPI傳輸,將ADC數(shù)據(jù)傳到主控MCU指定BUFF;主控MCU對(duì)數(shù)據(jù)分別進(jìn)行故障判斷及信號(hào)識(shí)別處理;
故障判斷處理:先對(duì)ADC采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理,實(shí)時(shí)計(jì)算電壓電流的實(shí)時(shí)值,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種故障判斷;當(dāng)有故障產(chǎn)生時(shí),主動(dòng)上報(bào)并保存故障信息,同時(shí)進(jìn)行故障錄波;
識(shí)別判斷處理:先對(duì)ADC采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行合法性分析,然后進(jìn)行FFT變換,對(duì)變換后的數(shù)據(jù)進(jìn)行識(shí)別分析;若識(shí)別到特征信號(hào),保存識(shí)別記錄,并等待記錄讀取;最終由終端及主站生成整個(gè)拓?fù)洹?/p>
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓臺(tái)區(qū)分路監(jiān)測(cè)裝置的錄波與故障研判方法,其特征在于:所述Step1中,初始化包括ADC采樣數(shù)據(jù)相關(guān)初始化,ADC DMA、SPI DMA初始化,DMA半滿、滿中斷初始化。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 一種用于監(jiān)測(cè)站的天氣監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
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