[發明專利]TGS透射圖像重建方法、裝置、介質和電子設備

在審

• 申請號: 202110632376.4
• 申請日: 2021-06-07
• 公開（公告）號: CN113284209A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 郜強;何漢濤;許小明;程毅梅;步立新;張文良;王燕伶;李秀娥;司宇;祝利群;王思佳
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 曹寒梅

1.一種TGS透射圖像重建方法，其特征在于，包括：

獲取TGS透射測量數據，所述TGS透射測量數據是對被測每層樣品進行TGS透射測量而得到的數據，所述被測每層樣品被劃分成N×N個體素，其中，所述N×N個體素中的n個體素為密度已知且密度分布均勻的標準體素，所述標準體素之外的其余體素為被測樣品體素，其中，N為正整數，1≤n＜N²；

采用透射重建算法對所述TGS透射測量數據進行迭代計算；

在收斂條件滿足時，終止所述迭代計算，得到所述被測樣品體素的線衰減系數，其中，所述收斂條件與所述標準體素的線衰減系數相關。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在n＝1的情況下，所述收斂條件為：

連續兩次所述迭代計算的迭代結果的相對變化率ε₁不大于第一預設閾值，而且收斂終止計算判別限值ε₂不大于第二預設閾值，其中：

其中，μ_標測是所述標準體素的、采用所述透射重建算法計算得到的線衰減系數測量分析計算值；μ_標是所述標準體素的線衰減系數標稱值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在n＞1的情況下，所述收斂條件為：

連續兩次所述迭代計算的迭代結果的相對變化率ε₁不大于第一預設閾值，而且收斂終止計算判別限值ε₂不大于第二預設閾值，其中：

其中，μ_i標測是第i個所述標準體素的、采用所述透射重建算法計算得到的線衰減系數測量分析計算值；μ_i標是第i個所述標準體素的線衰減系數標稱值。

4.根據權利要求1至3中任一權利要求所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述收斂條件不滿足的情況下，若所述迭代計算的次數達到計算次數限值，則終止所述迭代計算。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

基于所述標準體素的線衰減系數，計算校正因子；

采用所述校正因子對在所述計算次數限值時得到的被測樣品體素線衰減系數測量分析計算值進行校正。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，在n＝1的情況下，所述校正因子為：

其中，k是所述校正因子；μ_{標測_終止}是所述標準體素的、采用所述透射重建算法在所述計算次數限值時計算得到的線衰減系數測量分析計算值；μ_標是所述標準體素的線衰減系數標稱值。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，在n＞1的情況下，所述校正因子為：

其中，k是所述校正因子；μ_{i標測_終止}是第i個所述標準體素的、采用所述透射重建算法在所述計算次數限值時計算得到的線衰減系數測量分析計算值；μ_i標是第i個所述標準體素的線衰減系數標稱值。

8.一種TGS透射圖像重建裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取TGS透射測量數據，所述TGS透射測量數據是對被測每層樣品進行TGS透射測量而得到的數據，所述被測每層樣品被劃分成N×N個體素，其中，所述N×N個體素中的n個體素為密度已知且密度分布均勻的標準體素，所述標準體素之外的其余體素為被測樣品體素，其中，N為正整數，1≤n＜N²；

計算模塊，用于采用透射重建算法對所述TGS透射測量數據進行迭代計算；

終止模塊，用于在收斂條件滿足時，終止所述迭代計算，得到所述被測樣品體素的線衰減系數，其中，所述收斂條件與所述標準體素的線衰減系數相關。

9.一種非臨時性計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現權利要求1-7中任一項所述方法的步驟。

10.一種電子設備，其特征在于，包括：

存儲器，其上存儲有計算機程序；

處理器，用于執行所述存儲器中的所述計算機程序，以實現權利要求1-7中任一項所述方法的步驟。