[發(fā)明專利]TGS透射圖像重建方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110632365.6
• 申請(qǐng)日: 2021-06-07
• 公開（公告）號(hào): CN113284208A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郜強(qiáng);何漢濤;許小明;程毅梅;步立新;張文良;王燕伶;李秀娥;司宇;祝利群;王思佳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國原子能科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G06T11/00
• 分類號(hào): G06T11/00
• 代理公司: 北京英創(chuàng)嘉友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11447
• 代理人: 曹寒梅

1.一種TGS透射圖像重建方法，其特征在于，包括：

獲取TGS透射測(cè)量數(shù)據(jù)，所述TGS透射測(cè)量數(shù)據(jù)是對(duì)被測(cè)每層樣品進(jìn)行TGS透射測(cè)量而得到的數(shù)據(jù)，所述被測(cè)每層樣品被劃分成N×N個(gè)體素，而且所述被測(cè)每層樣品的周圍分布有密度已知且密度分布均勻的n個(gè)標(biāo)準(zhǔn)體素，其中，N為正整數(shù)，1＜n≤4×N；

采用透射重建算法對(duì)所述TGS透射測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行迭代計(jì)算；

在收斂條件滿足時(shí)，終止所述迭代計(jì)算，得到所述被測(cè)樣品體素的線衰減系數(shù)，其中，所述收斂條件與所述標(biāo)準(zhǔn)體素的線衰減系數(shù)相關(guān)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述收斂條件為：

連續(xù)兩次所述迭代計(jì)算的迭代結(jié)果的相對(duì)變化率ε₁不大于第一預(yù)設(shè)閾值，而且收斂終止計(jì)算判別限值ε₂不大于第二預(yù)設(shè)閾值，其中：

其中，μ_{i標(biāo)測(cè)}是第i個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)體素的、采用所述透射重建算法計(jì)算得到的線衰減系數(shù)測(cè)量分析計(jì)算值；μ_i標(biāo)是第i個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)體素的線衰減系數(shù)標(biāo)稱值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述收斂條件不滿足的情況下，若所述迭代計(jì)算的次數(shù)達(dá)到計(jì)算次數(shù)限值，則終止所述迭代計(jì)算。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

基于所述標(biāo)準(zhǔn)體素的線衰減系數(shù)，計(jì)算校正因子；

采用所述校正因子對(duì)在所述計(jì)算次數(shù)限值時(shí)得到的被測(cè)樣品體素線衰減系數(shù)測(cè)量分析計(jì)算值進(jìn)行校正。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述校正因子為：

其中，k是所述校正因子；μ_{i標(biāo)測(cè)_終止}是第i個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)體素的、采用所述透射重建算法在所述計(jì)算次數(shù)限值時(shí)計(jì)算得到的線衰減系數(shù)測(cè)量分析計(jì)算值；μ_i標(biāo)是第i個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)體素的線衰減系數(shù)標(biāo)稱值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述n個(gè)標(biāo)準(zhǔn)體素均勻分布在所述被測(cè)每層樣品的四周。

7.一種TGS透射圖像重建裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取TGS透射測(cè)量數(shù)據(jù)，所述TGS透射測(cè)量數(shù)據(jù)是對(duì)被測(cè)每層樣品進(jìn)行TGS透射測(cè)量而得到的數(shù)據(jù)，所述被測(cè)每層樣品被劃分成N×N個(gè)體素，而且所述被測(cè)每層樣品的周圍分布有密度已知且密度分布均勻的n個(gè)標(biāo)準(zhǔn)體素，其中，N為正整數(shù)，1＜n≤4×N；

計(jì)算模塊，用于采用透射重建算法對(duì)所述TGS透射測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行迭代計(jì)算；

終止模塊，用于在收斂條件滿足時(shí)，終止所述迭代計(jì)算，得到所述被測(cè)樣品體素的線衰減系數(shù)，其中，所述收斂條件與所述標(biāo)準(zhǔn)體素的線衰減系數(shù)相關(guān)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述收斂條件為：

連續(xù)兩次所述迭代計(jì)算的迭代結(jié)果的相對(duì)變化率ε₁不大于第一預(yù)設(shè)閾值，而且收斂終止計(jì)算判別限值ε₂不大于第二預(yù)設(shè)閾值，其中：

其中，μ_{i標(biāo)測(cè)}是第i個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)體素的、采用所述透射重建算法計(jì)算得到的線衰減系數(shù)測(cè)量分析計(jì)算值；μ_i標(biāo)是第i個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)體素的線衰減系數(shù)標(biāo)稱值。

9.一種非臨時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述方法的步驟。

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

存儲(chǔ)器，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；

處理器，用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器中的所述計(jì)算機(jī)程序，以實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述方法的步驟。