[發明專利]梯度壓力測量系統

有效

• 申請號: 202110629885.1
• 申請日: 2021-06-07
• 公開（公告）號: CN113197563B
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 于波;康維;賈海波;陳濤;劉慧敏;徐晨陽
• 申請（專利權）人: 哈爾濱醫科大學;全景恒升（北京）科學技術有限公司
• 主分類號: A61B5/0215
• 分類號: A61B5/0215
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 劉曾

1.一種梯度壓力測量系統，其特征在于，包括：

導絲(100)，所述導絲(100)設置有在其長度方向上延伸的容置通道(110)，所述導絲(100)的壁上設置有與所述容置通道(110)連通的多個均壓孔(120)；

以及多個測壓模塊(200)，所述多個測壓模塊(200)在所述容置通道(110)的延伸方向上間隔排布，且所述多個測壓模塊(200)與所述多個均壓孔(120)一一對應，每個所述測壓模塊(200)用于測量對應的所述均壓孔(120)處的壓力；

所述測壓模塊(200)包括光學傳感器(210)、傳導光纖(220)以及第一分色鏡(230)，所述傳導光纖(220)設于以及所述光學傳感器(210)均設于所述容置通道(110)中，所述光學傳感器(210)位于對應的所述均壓孔(120)的靠近導絲近端(005)的一側，所述傳導光纖(220)位于所述光學傳感器(210)遠離所述均壓孔(120)的一側；所述光學傳感器(210)具有在所述容置通道(110)的延伸方向上相對設置的第一光面和第二光面，所述傳導光纖(220)與所述第一光面連接，所述第一分色鏡(230)設于所述第二光面上，所述第一分色鏡(230)用于反射設定波長范圍的光束且透過其余波長范圍的光束，多個所述第一分色鏡(230)中任意兩個所述第一分色鏡(230)所反射的光束的波長范圍不重疊；

所述梯度壓力測量系統還包括壓力測量引擎(300)和光源，多根所述傳導光纖(220)中靠近所述導絲近端(005)的傳導光纖(220)設為初始光纖，所述壓力測量引擎(300)以及所述光源均與所述初始光纖連接，所述光源用于發射光束至所述初始光纖，所述壓力測量引擎(300)用于接收由所述光學傳感器(210)反射回來的干涉光，并能依據所述干涉光形成干涉波形。

2.根據權利要求1所述的梯度壓力測量系統，其特征在于：

相鄰所述測壓模塊(200)在所述容置通道(110)的延伸方向上具有間距。

3.根據權利要求2所述的梯度壓力測量系統，其特征在于：

相鄰兩個所述測壓模塊(200)中遠離所述導絲近端(005)的所述測壓模塊(200)的傳導光纖(220)的入射面設置有聚焦透鏡(260)。

4.根據權利要求1所述的梯度壓力測量系統，其特征在于：

所述光學傳感器(210)包括基底(214)和隔膜(215)，所述基底(214)與所述隔膜(215)連接且二者共同限定出干涉腔(216)，所述隔膜(215)位于所述基底(214)靠近對應的所述均壓孔(120)的一側，所述隔膜(215)用于感應對應的所述均壓孔(120)處的壓力，以在壓力變化時相對于所述基底(214)運動，從而改變所述干涉腔(216)的深度，進而改變對應的所述干涉光的干涉波形；所述第一分色鏡(230)設于所述隔膜(215)遠離所述基底(214)的一側；所述基底(214)靠近所述隔膜(215)的一側用于反射所述設定波長范圍的光束中的部分光，且使所述設定波長范圍內的其余部分光射向所述隔膜(215)且被隔膜(215)反射，同一所述光學傳感器(210)的所述基底(214)反射的光與所述隔膜(215)反射的光形成干涉光。

5.根據權利要求4所述的梯度壓力測量系統，其特征在于：

所述基底(214)上設置有第二分色鏡(240)，所述第二分色鏡(240)用于反射所述設定波長范圍的光束中的光束，以使所述設定波長范圍內的其余部分光射向所述隔膜(215)且被隔膜(215)反射；其中，所述第二分色鏡(240)的反射率為(48％-52％)。

6.根據權利要求1所述的梯度壓力測量系統，其特征在于：

同一所述測壓模塊(200)中的所述光學傳感器(210)與所述傳導光纖(220)之間設有聚焦透鏡(260)。

7.根據權利要求1所述的梯度壓力測量系統，其特征在于：

所述傳導光纖(220)外套設有定位環(250)，所述定位環(250)與所述導絲(100)的內壁連接。