[發明專利]一種振動檢測裝置

在審

• 申請號: 202110626534.5
• 申請日: 2021-06-04
• 公開（公告）號: CN113532620A
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 李永選
• 申請（專利權）人: 李永選
• 主分類號: G01H9/00
• 分類號: G01H9/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種振動檢測裝置，包括殼體(1)，其特征在于：所述殼體(1)內壁底端設置有激光器(2)，所述激光器(2)一側設置有探測器(3)，所述殼體(1)內壁頂端的一側設置有彈簧部(4)，所述彈簧部(4)底端設置有第一磁鐵塊(5)，所述殼體(1)內壁遠離彈簧部(4)的一側設置有懸臂梁(6)，所述懸臂梁(6)遠離殼體(1)的一端設置有第二磁鐵塊(7)，所述懸臂梁(6)中間設置有空槽(8)，所述空槽(8)中設置有納米團簇(9)，所述懸臂梁(6)頂端設置有反射部(10)；

具體的，工作時，激光器(2)產生光穿過懸臂梁(6)照射在納米團簇(9)上，納米團簇(9)、反射部(10)和二者之間的透明懸臂梁(6)構成光學腔，反射部(10)將光限制在納米團簇(9)中，增強光與物質的相互作用，納米團簇(9)和反射部(10)之間設置一定的間距，就可以反射特定波長的光，而納米團簇(9)的無序度，對反射光譜的帶寬影響巨大，通過改變納米團簇(9)中納米顆粒的密度，就可以調控納米團簇(9)的無序度，在檢測振動時，第一磁鐵塊(5)會發生振動，第一磁鐵塊(5)和第二磁鐵塊(7)之間有磁鐵力，第二磁鐵塊(7)也會發生振動，因此懸臂梁(6)會產生彎曲，會對中間的納米團簇(9)產生擠壓，納米團簇(9)的密度的會發生變化，納米團簇(9)中納米顆粒之間的相互作用就會變大，會增大納米顆粒的無序度，因此會改變系統的反射譜的帶寬，因此通過探測器(3)檢測反射光譜的變化，就可以得出振動的的大小。

2.根據權利要求1所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述納米團簇(9)的材料為無序的銀納米顆粒材料。

3.根據權利要求2所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述組成納米團簇(9)的納米顆粒形狀可以為球形、長條形，星形。

4.根據權利要求1所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述反射部(10)材料可以為金，也可以為銀。

5.根據權利要求1所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述納米團簇(9)填充滿整個空槽(8)。

6.根據權利要求1所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述空槽(8)底端的形狀為凸起狀。

7.根據權利要求1所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述懸臂梁(6)的材料為透明彈性材料。

8.根據權利要求7所述的一種振動檢測裝置，其特征在于：所述反射部(10)和納米團簇(9)之間的懸臂梁(6)的材料為晶體材料。