[發明專利]一種圖像小區域缺損檢測與修復方法

有效

• 申請號: 202110625250.4
• 申請日: 2021-06-04
• 公開（公告）號: CN113421229B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 徐智;李友強
• 申請（專利權）人: 桂林電子科技大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G01N21/956;G01N21/88
• 代理公司: 桂林文必達專利代理事務所(特殊普通合伙) 45134
• 代理人: 張學平

1.一種圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，包括下列步驟：

取樣獲得多張樣品圖片；

處理所述樣品圖片獲得包含缺損區域的模板子圖片；

對所述樣品圖片和所述模板子圖片進行歸一化互相關運算，獲得相關系數矩陣；

根據所述相關系數矩陣設定閾值獲得若干區域坐標；

利用區域生長算法對所述區域坐標進行區域擴充獲得候選缺損區域；

修復所述候選缺損區域；

在修復所述候選缺損區域的過程中，基于快速進行算法計算修復，引入自適應插值的置信度因子對所述候選缺損區域的像素點插值，每修復一個所述候選缺損區域的像素，都需要計算所述像素的置信度大小，修復其他像素點時需要按照置信度大小的順序依次進行修復。

2.如權利要求1所述的圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，所述樣品圖片使用同一個缺陷攝像模組拍攝取樣，所述樣品圖片的數量大于等于三張。

3.如權利要求1所述的圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，所述模板子圖片在多張所述樣品圖片中截取相同大小且包含缺損區域的子圖，然后進行灰度化處理后求均值獲得。

4.如權利要求1所述的圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，所述樣品圖片在與所述模板子圖片進行歸一化互相關運算前需進行灰度化處理。

5.如權利要求4所述的圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，在對所述樣品圖片和所述模板子圖片進行歸一化互相關運算，獲得相關系數的過程中，所有的歸一化互相關值構成歸一化互相關矩陣，然后從所述歸一化互相關矩陣中按相關值從大到小順序篩選出前五大相關值作為相關系數。

6.如權利要求5所述的圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，所述區域坐標為所述前五大相關值所在的坐標。

7.如權利要求6所述的圖像小區域缺損檢測與修復方法，其特征在于，在對所述區域坐標進行區域擴充獲得候選缺損區域的過程中，選擇所述區域坐標的像素作為種子像素，選擇所述種子像素與周圍相鄰原始像素進行比較，符合灰度差閾值的像素被添加到區域，區域通過添加與區域中已存在的像素相似的新相鄰像素來增長，獲得所述候選缺損區域。