[發明專利]一種基于光纖模式色散的彎曲測量裝置

有效

• 申請號: 202110624728.1
• 申請日: 2021-06-04
• 公開（公告）號: CN113375592B
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 柴全;馬占宇;于浪;廉宇航;徐德港;張建中;田野
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01B9/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于光纖模式色散的彎曲測量裝置，其特征在于：包括寬譜白光光源(1)、光纖耦合器(2)、光電探測模塊(3)、軟件驅動模塊(4)、單模-多模-單模光纖結構(5)、光纖探頭(6)、延遲掃描反射鏡(7)；光纖耦合器通過單模光纖分別與寬譜白光光源、光電探測模塊、單模-多模-單模光纖結構、光纖探頭連接，軟件驅動模塊通過電路與延遲掃描反射鏡、光電探測模塊連接；寬譜白光光源(1)中光信號通過光纖耦合器(2)分束，一束光進入測量臂，經單模光纖與多模光纖熔接點處激發出多種模式，并經過單模光纖末端端面反射，原路返回至光纖耦合器(2)，另一束光進入光纖探頭(6)，形成準直空間光束，并經過延遲掃描反射鏡(7)原路返回至光纖耦合器(2)，兩束光信號合并在一起被光電探測模塊(3)檢測；軟件驅動模塊(4)通過電路控制延遲掃描反射鏡(7)的空間域掃描，并與光電探測模塊(3)的白光干涉信號實時對應并解調。

2.根據權利要求1所述的一種基于光纖模式色散的彎曲測量裝置，其特征在于：測量臂光纖中激發出的每一個模式對應一種相位常數，沿光纖縱向傳輸至末端端面時會有不同的相位延遲，形成光纖中的模式色散；掃描參考臂中延遲掃描反射鏡(7)移動時，兩臂光信號相位延遲相匹配時，光電探測模塊(3)得到對應的干涉光強，獲取測量臂各個模式對應的反射光強。