[發明專利]一種基于遷移學習張量分解的高光譜異常檢測方法在審
| 申請號: | 202110624715.4 | 申請日: | 2021-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN113379696A | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發明(設計)人: | 王玉磊;王鳳超;石瑤;宋梅萍;張建祎 | 申請(專利權)人: | 大連海事大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 大連東方專利代理有限責任公司 21212 | 代理人: | 姜玉蓉;李洪福 |
| 地址: | 116026 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 遷移 學習 張量 分解 光譜 異常 檢測 方法 | ||
本發明公開了一種基于遷移學習張量分解的高光譜異常檢測方法,具體步驟包括:設計具有連續卷積層的卷積神經網絡模型,通過遷移訓練有標簽的高光譜數據生成同類和不同類別的像素對,采用反向傳播算法使網絡參數不斷迭代更新直至收斂;采用塔克分解將完成訓練的模型進行卷積層分解,卷積運算將H×W×S大小的輸入數據X映射到H'×W'×T大小的輸出數據Y,讀取待檢測數據,將待檢測像素與其周圍的16個像素形成像素對,將平均相似度得分作為判斷的依據,如果平均相似度得分大于設定閾值則視為異常目標,否則為背景。
技術領域
本發明涉及高光譜圖像異常檢測技術領域,尤其涉及一種基于遷移學習張量分解的高光譜異常檢測方法。
背景技術
異常檢測近年來受到了廣泛的關注,其主要思想是檢測光譜信息與周圍背景顯著不同的像素點,因此異常點的分布通常是稀疏的。異常目標的光譜信息通常是未知的,這對異常檢測來說是一個很大的挑戰。
最廣泛使用的異常檢測方法是Reed-Xiaoli(RX)算法,該算法基于背景分布的假設計算馬氏距離。近年來,基于深度學習和張量的方法在高光譜圖像處理中得到了廣泛的應用。例如,L.Zhang等人提出了一種基于張量的遷移卷積神經網絡(CNN)高光譜異常檢測算法。W.Li等人提出了遷移深度學習算法,但是這些網絡只利用光譜信息進行訓練和檢測,忽略了空間信息。另外,設計的CNN架構比較淺層,學習到的特征不夠。一般來說,淺層神經網絡可能無法很好地提取訓練數據的特征,CNN的層次越深,模型的效果越好。然而,由于訓練數據的缺乏,使得深層神經網絡的設計和訓練受到很大的阻力。
發明內容
根據現有技術存在的問題,本發明公開了一種基于遷移學習張量分解的高光譜異常檢測方法,具體包括如下步驟:
設計具有連續卷積層的卷積神經網絡架構,通過遷移訓練有標簽的高光譜數據,生成同類和不同類別的像素對,采用反向傳播算法使網絡參數不斷迭代更新,最終具有一定的區分像素對差異的能力。
采用塔克分解將訓練完備模型的卷積層分解,卷積運算將H×W×S大小的輸入數據X映射為H'×W'×T大小的輸出數據Y,公式如下:
核張量W被分解成:
P是一個四維的核心張量,QsQt是因子矩陣。分解后得到三個連續卷積公式,形成三個新的卷積層,它們替代了原始的卷積層,從而增加網絡深度,公式如下:
塔克分解后,卷積層中的通道數會發生變化,具體的結構設計如下:
第一層:采用一維卷積,并將輸出通道的數量將減為輸入通道的三分之一。
核心層:第一層卷積后,數據的空間信息不變,仍與原始輸入相對應,采用conv2d二維卷積核提取空間信息,卷積核的大小等于分解前卷積層中使用的卷積核的大小。
最后一層:仍然使用一維卷積,但是輸出通道將擴展到輸入通道的三倍,以恢復原始卷積數據的大小。
將卷積層分解后,保存分解模型,將每個卷積層分解為三個對應的卷積層,并將分解后的張量作為新卷積層的參數,
分解后的模型增加卷積層的數量即網絡深度,且可以提取輸入數據的空間信息,結合當前像素的光譜和空間信息,獲得檢測結果。具體來說,讀取待檢測數據后,待檢測像素與其周圍的16個像素形成像素對,采用它們的平均相似度作為判斷的依據,如果平均相似度得分高于閾值,則視為異常,否則為背景。
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