[發(fā)明專利]模擬信號均衡質(zhì)量檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110617449.2
• 申請日: 2021-05-27
• 公開（公告）號: CN113433402B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐希
• 申請（專利權(quán)）人: 芯思原微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/04
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219
• 代理人: 劉逸瀟

1.一種模擬信號均衡質(zhì)量檢測方法，包括：

獲取模擬前端輸出的待測模擬信號；

將所述待測模擬信號進(jìn)行高頻率衰減得到低通信號，并將所述待測模擬信號進(jìn)行低頻率衰減得到高通信號；

將所述低通信號輸入峰值檢測電路得到第一峰值電壓，并將所述高通信號輸入所述峰值檢測電路得到第二峰值電壓；

基于所述第一峰值電壓和所述第二峰值電壓獲取均衡質(zhì)量參數(shù)；

將所述均衡質(zhì)量參數(shù)輸入所述模擬前端。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將所述待測模擬信號進(jìn)行高頻率衰減得到低通信號包括：

通過低通濾波器對所述待測模擬信號進(jìn)行高頻率衰減得到低通信號；

其中，所述低通濾波器的轉(zhuǎn)角頻率高于所述待測模擬信號的最低基波分量。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，將所述待測模擬信號進(jìn)行低頻率衰減得到高通信號包括：

通過高通濾波器對所述待測模擬信號進(jìn)行低頻率衰減得到高通信號；

其中，所述高通濾波器的轉(zhuǎn)角頻率低于所述待測模擬信號的最高基波分量，并高于所述待測模擬信號的次高基波分量。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述高通濾波器和低通濾波器的通帶范圍內(nèi)的增益均為1。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一峰值電壓和所述第二峰值電壓獲取均衡質(zhì)量參數(shù)步驟包括：

將所述第一峰值電壓乘以第一修整倍數(shù)，得到第一峰值修整電壓；

將所述第一峰值修整電壓與所述第二峰值電壓進(jìn)行比較，獲取第一差值參數(shù)；

將所述第一差值參數(shù)和所述第一修整倍數(shù)作為均衡質(zhì)量參數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一峰值電壓和所述第二峰值電壓獲取均衡質(zhì)量參數(shù)步驟包括：

將所述第二峰值電壓乘以第二修整倍數(shù)，得到第二峰值修整電壓；

將所述第二峰值修整電壓與所述第一峰值電壓進(jìn)行比較，獲取第二差值參數(shù)；

將所述第二差值參數(shù)和所述第二修整倍數(shù)作為均衡質(zhì)量參數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該方法還包括：

將第一峰值電壓傳輸給模擬前端，以作為所述模擬前端調(diào)整信號擺幅的調(diào)整參數(shù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述峰值檢測電路包括運算放大器、限位開關(guān)、存儲電容和帶寬調(diào)節(jié)元件；其中所述限位開關(guān)的輸入端與所述運算放大器的輸出端連接，所述限位開關(guān)的輸出端與所述存儲電容一端連接，所述存儲電容另一端接地，所述帶寬調(diào)節(jié)元件并聯(lián)于所述存儲電容兩端。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述限位開關(guān)為N型MOS管，所述N型MOS管的柵極與所述運算放大器輸出端連接，所述N型MOS管的源極與所述存儲電容連接，所述N型MOS管的漏極接電源。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述帶寬調(diào)節(jié)元件為電流源模塊。