[發明專利]一種N面出光AlGaInPLED薄膜芯片及制備方法在審
| 申請號: | 202110616418.5 | 申請日: | 2021-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN113066913A | 公開(公告)日: | 2021-07-02 |
| 發明(設計)人: | 王蘇杰;林曉珊;寧如光;楊祺;熊歡;陳振宇;吳禮清;潘彬;王向武;張銀橋 | 申請(專利權)人: | 南昌凱迅光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/22 | 分類號: | H01L33/22;H01L33/36;H01L33/00 |
| 代理公司: | 南昌金軒知識產權代理有限公司 36129 | 代理人: | 李楠 |
| 地址: | 330000 江西省*** | 國省代碼: | 江西;36 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 面出光 algainpled 薄膜 芯片 制備 方法 | ||
1.一種N面出光AlGaInPLED薄膜芯片,其特征在于:所述芯片自下而上依次包括:基板、鍵合金屬層、金屬反射電極、介質層、P型歐姆接觸層、發光層、N型電流擴展層、N型粗化層、N電極,所述N電極與N型粗化層直接形成歐姆接觸;
N型電流擴展層的材料(Alx1Ga1-x1)0.5In0.5P中Al組分介于0.30-0.60之間;
N型粗化層的材料(Alx2Ga1-x2)0.5In0.5P中Al組分介于0.25-0.35之間。
2.根據權利要求1所述的芯片,其特征在于:所述N型粗化層厚度為50-1500nm,摻雜濃度為0.7-5E18cm-3。
3.根據權利要求1所述的芯片,其特征在于:所述N型電流擴展層厚度為1500-5000nm,摻雜濃度為0.5-1E18cm-3。
4.根據權利要求1所述的芯片,其特征在于:所述N電極的電極材料依次包括第一Ni層、第一Au層、Ge層、第二Ni層、第二Au層,其第一Ni層為與N型粗化層最先接觸。
5.根據權利要求4所述的芯片,其特征在于:所述N電極的電極材料厚度分別為:第一Ni層3-10nm,第一Au層50-150nm,Ge層20-50nm,第二Ni層3-10nm,第二Au層500-2000nm。
6.一種制備權利要求1-5任一項所述的N面出光AlGaInPLED薄膜芯片的方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
S1、在襯底上依次外延生長截止層、N型GaAs接觸層、N型粗化層、N型電流擴展層、N型限制層、發光層、P型限制層、P型歐姆接觸層、介質層;
S2、制備金屬反射電極、鍵合金屬層;
S3、鍵合金屬層一側與基板鍵合,鍵合金屬層另一側設置金屬反射電極;去除襯底,去除截止層,去除N型GaAs接觸層,裸露出N型粗化層;
S4、粗化腐蝕N型粗化層;
S5、制備N電極,快速熱退火;
S6、腐蝕芯片切割溝槽;
S7、切割芯片,完成芯片制備;
所述步驟S4和步驟S5中的N型粗化層與N電極在快速熱退火后形成歐姆接觸;
所述步驟S4、S5、S6順序可任意排列。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,步驟S5中所述的N電極的制備,包括以下步驟:
S51、去除襯底后,完全去除晶圓表面截止層與N型GaAs接觸層;
S52、利用電子束蒸發的方式,在N型粗化層上蒸鍍N電極;
S53、在步驟S2的基礎上進行快速熱退火,退火氣氛為氮氣氣氛,退火溫度為385℃-485℃,退火時間為25s-10min。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于:步驟s52中蒸鍍N電極之前利用低濃度氫氟酸或其他弱酸清洗粗化層表面。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南昌凱迅光電有限公司,未經南昌凱迅光電有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110616418.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





