[發(fā)明專利]測試報(bào)告生成方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110614405.4
• 申請日: 2021-06-02
• 公開（公告）號: CN115437857A
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊麗芬;劉富明
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（武漢）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334
• 代理人: 饒智彬

本申請公開了一種測試報(bào)告生成方法及系統(tǒng)，所述方法包括：制定測試項(xiàng)目，選定測試配置，所述測試配置包括標(biāo)注信息、坐標(biāo)信息、分類規(guī)則中的一種或多種；架設(shè)電子設(shè)備的測試平臺(tái)，所述電子設(shè)備包括一個(gè)或多個(gè)元器件；利用所述測試平臺(tái)執(zhí)行所述測試項(xiàng)目，采集元器件的參數(shù)；分析所述元器件的參數(shù)，并生成所述電子設(shè)備的測試報(bào)告。本申請的測試報(bào)告生成方法，利用軟件程序的方式代替了人工的參數(shù)檢測、報(bào)告生成步驟，具有自動(dòng)化、高效穩(wěn)定、降低人力成本的有益效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種測試報(bào)告生成方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，電子設(shè)備以各種形式廣泛應(yīng)用于人類社會(huì)生活的方方面面。而在一些場合中，為了確保電子設(shè)備的長期穩(wěn)定運(yùn)行，需要對電子設(shè)備的各種參數(shù)進(jìn)行監(jiān)控和分析?，F(xiàn)有的檢測報(bào)告通常由人工根據(jù)采集到的數(shù)據(jù)依次解碼、分析、總結(jié)而完成，因此存在耗費(fèi)時(shí)間久、制作周期長、使用人工多的缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請?zhí)岢鲆环N測試報(bào)告生成方法，包括：

制定測試項(xiàng)目，選定測試配置，所述測試配置包括標(biāo)注信息、坐標(biāo)信息、分類規(guī)則中的一種或多種；

架設(shè)電子設(shè)備的測試平臺(tái)，所述電子設(shè)備包括一個(gè)或多個(gè)元器件；

利用所述測試平臺(tái)執(zhí)行所述測試項(xiàng)目，采集所述元器件的參數(shù)；

分析所述元器件的參數(shù)，并生成所述電子設(shè)備的測試報(bào)告。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述架設(shè)電子設(shè)備的測試平臺(tái)的步驟，包括：

安裝所述測試平臺(tái)，所述測試平臺(tái)包括多個(gè)檢測單元；

對所述測試平臺(tái)的每個(gè)檢測單元進(jìn)行自檢；

將所述檢測單元與所述電子設(shè)備的元器件連接。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述分析所述元器件的參數(shù)，并生成測試報(bào)告的步驟，包括：

將所述元器件的參數(shù)基于檢測的元器件進(jìn)行分類、歸檔；

對所述元器件的參數(shù)進(jìn)行運(yùn)算，得到分析數(shù)據(jù)；

生成與所述電子設(shè)備對應(yīng)的測試報(bào)告初稿；

將所述分析數(shù)據(jù)填入所述測試報(bào)告初稿；

輸出所述測試報(bào)告。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述輸出所述分析報(bào)告的步驟，還包括：

備份所述測試報(bào)告。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述測試項(xiàng)目包括散熱測試、噪音測試、電源測試、RoHS測試、精密量測、可靠性測試、SMT測試中的一種或多種。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述電子設(shè)備包括計(jì)算機(jī)、服務(wù)器、顯示屏、移動(dòng)終端、數(shù)控機(jī)臺(tái)中的一種或多種。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述元器件包括CPU、主板、顯卡、硬盤、風(fēng)扇、電源中的一種或多種。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述元器件的參數(shù)包括流場、溫度、聲音、震動(dòng)、沖擊、表面粗糙度、有害物質(zhì)、電路特性中的一種或多種。

本申請還提出一種測試報(bào)告生成系統(tǒng)，包括：

測試平臺(tái)，用于檢測元器件的參數(shù)；

交互模塊，用于選擇測試報(bào)告規(guī)格，并將所述測試報(bào)告規(guī)格及所述元器件的參數(shù)傳至存儲(chǔ)模塊；

所述存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)所述元器件的參數(shù)與所述測試報(bào)告規(guī)格，及