[發(fā)明專利]一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110613062.X
• 申請日: 2021-06-02
• 公開（公告）號: CN113447944A
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 莊所增;文述生;丁永祥;閆少霞;馬原;王江林;李寧;周光海;肖浩威;黃勁風(fēng);趙瑞東
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州南方衛(wèi)星導(dǎo)航儀器有限公司
• 主分類號: G01S17/10
• 分類號: G01S17/10;G01B11/24
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288
• 代理人: 孫柳

1.一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括掃描儀主體，所述掃描儀主體內(nèi)設(shè)有激光發(fā)射單元、激光接收單元、對中激光單元、第一反射鏡和第二反射鏡，所述第二反射鏡可旋轉(zhuǎn)，所述第一反射鏡設(shè)置在所述激光發(fā)射單元出射光路的下游光路，所述第二反射鏡設(shè)置在所述第一反射鏡反射光路的下游光路，所述激光接收單元用于接收待測物體上反射的激光信號；

所述掃描儀主體內(nèi)部開設(shè)有一個中空的通孔，所述通孔內(nèi)設(shè)有二向色鏡，所述二向色鏡設(shè)置在所述第二反射鏡反射光路和所述對中激光單元出射光路的下游光路，所述對中激光單元發(fā)射的可見色激光經(jīng)所述二向色鏡發(fā)生反射，所述第二反射鏡反射的脈沖測距激光經(jīng)所述二向色鏡發(fā)生透射。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述第一反射鏡的反射面呈45度，所述第二反射鏡的反射面呈45度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括豎直電機，所述豎直電機的輸出端通過轉(zhuǎn)軸與所述第二反射鏡連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括控制單元和用于為所述掃描儀主體供電的電源，所述控制單元包括電機控制器、用于判斷所述豎直電機旋轉(zhuǎn)角度的處理器和用于控制所述豎直電機旋轉(zhuǎn)角度的驅(qū)動器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述掃描儀主體包括左腔體、右腔體和位于所述左腔體和所述右腔體之間的反射腔體，所述激光發(fā)射單元、所述激光接收單元、所述對中激光單元和所述第一反射鏡設(shè)在所述左腔體內(nèi)，所述通孔和所述第二反射鏡設(shè)在所述反射腔體內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述二向色鏡在所述通孔內(nèi)傾斜設(shè)置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述掃描儀主體底端設(shè)有支架，所述支架上設(shè)有與所述通孔相貫通的開孔。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述脈沖測距激光在所述二向色鏡上發(fā)生透射，所述可見色激光在所述二向色鏡上發(fā)生反射。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括用于調(diào)整所述掃描儀主體水平度的校準(zhǔn)裝置。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任一項所述的一種三維激光掃描儀架站高度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述激光發(fā)射單元包括激光器、準(zhǔn)直器和光纖，所述激光器通過光纖輸出所述脈沖測距激光，所述脈沖測距激光經(jīng)過所述準(zhǔn)直器準(zhǔn)直后射向所述第一反射鏡。