[發明專利]特征點匹配方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202110609284.4 | 申請日: | 2021-06-01 |
| 公開(公告)號: | CN113408592A | 公開(公告)日: | 2021-09-17 |
| 發明(設計)人: | 陳曲;譚嘯;胡偉東;葉曉青;孫昊 | 申請(專利權)人: | 北京百度網訊科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06K9/46 |
| 代理公司: | 北京鴻德海業知識產權代理有限公司 11412 | 代理人: | 谷春靜 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 特征 匹配 方法 裝置 電子設備 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種特征點匹配方法,包括:
分別對待匹配的第一圖像和第二圖像進行特征點提取;
根據從不同圖像中提取出的特征點的特征值之間的距離構建距離矩陣;
通過交叉驗證,根據所述距離矩陣確定出相匹配的特征點對,其中,任一特征點對中分別包括兩個來自不同圖像的特征點。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述根據從不同圖像中提取出的特征點的特征值之間的距離構建距離矩陣包括:
根據從所述第一圖像中提取出的特征點構建第一特征點集,根據從所述第二圖像中提取出的特征點構建第二特征點集;
構建M*N大小的距離矩陣,M和N均為大于一的正整數,M的取值等于所述第一特征點集中包括的特征點數量,N的取值等于所述第二特征點集中包括的特征點數量,所述距離矩陣中坐標為(i,j)的元素表示所述第一特征點集中的特征點i的特征值與所述第二特征點集中的特征點j的特征值之間的距離,1≤i≤M,1≤j≤N。
3.根據權利要求2所述的方法,其中,所述根據從所述第一圖像中提取出的特征點構建第一特征點集,根據從所述第二圖像中提取出的特征點構建第二特征點集包括:
利用從所述第一圖像中提取出的所有特征點組成所述第一特征點集,利用從所述第二圖像中提取出的所有特征點組成所述第二特征點集;
或者,分別獲取從所述第一圖像中提取出的各特征點的評分,利用評分符合要求的特征點組成所述第一特征點集,分別獲取從所述第二圖像中提取出的各特征點的評分,利用評分符合要求的特征點組成所述第二特征點集。
4.根據權利要求2所述的方法,還包括:
所述通過交叉驗證,根據所述距離矩陣確定出相匹配的特征點對之前,基于距離先驗從所述距離矩陣中過濾掉不符合要求的元素。
5.根據權利要求4所述的方法,其中,所述基于距離先驗從所述距離矩陣中過濾掉不符合要求的元素包括:
若確定任一元素符合以下條件:所述元素對應的兩個特征點的x坐標之間的差值的絕對值大于第一閾值,且,所述元素對應的兩個特征點的y坐標之間的差值的絕對值大于第二閾值,則確定所述元素為不符合要求的元素,并從所述距離矩陣中過濾掉所述元素。
6.根據權利要求2~5中任一項所述的方法,其中,所述通過交叉驗證,根據所述距離矩陣確定出相匹配的特征點對包括:
針對所述距離矩陣,執行以下第一處理:
針對所述距離矩陣中的第i行,1≤i≤M,i的初始取值為1,執行以下第二處理:
從第i行中選出取值最小的元素;
從選出的元素所在的列中選出取值最小的元素;
若確定兩次選出的元素為同一元素,則利用所述元素對應的兩個特征點組成一個特征點對;
若確定i的取值小于M,則令i=i+1,并重復執行所述第二處理,直到i的取值等于M。
7.一種特征點匹配裝置,包括:提取模塊、構建模塊以及匹配模塊;
所述提取模塊,用于分別對待匹配的第一圖像和第二圖像進行特征點提取;
所述構建模塊,用于根據從不同圖像中提取出的特征點的特征值之間的距離構建距離矩陣;
所述匹配模塊,用于通過交叉驗證,根據所述距離矩陣確定出相匹配的特征點對,其中,任一特征點對中分別包括兩個來自不同圖像的特征點。
8.根據權利要求7所述的裝置,其中,
所述構建模塊根據從所述第一圖像中提取出的特征點構建第一特征點集,根據從所述第二圖像中提取出的特征點構建第二特征點集,并構建M*N大小的距離矩陣,M和N均為大于一的正整數,M的取值等于所述第一特征點集中包括的特征點數量,N的取值等于所述第二特征點集中包括的特征點數量,所述距離矩陣中坐標為(i,j)的元素表示所述第一特征點集中的特征點i的特征值與所述第二特征點集中的特征點j的特征值之間的距離,1≤i≤M,1≤j≤N。
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