[發明專利]一種圖像增強方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202110606147.5 | 申請日: | 2021-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN113344833A | 公開(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發明(設計)人: | 梁椅輝;杜佳潤;黃翰;劉貴松;鄒昆;李文生;董帥;馮夫健 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學中山學院 |
| 主分類號: | G06T5/50 | 分類號: | G06T5/50;G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 唐正瑜 |
| 地址: | 528400 *** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 增強 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種圖像增強方法,其特征在于,包括:
獲取待處理圖像以及所述待處理圖像對應的反相圖像,所述待處理圖像包括指靜脈對象;
對所述反相圖像進行積分處理,獲得所述反相圖像對應的積分圖像;
根據所述積分圖像計算獲得所述待處理圖像中每一像素點對應的自適應閾值;
根據所述反相圖像和所述自適應閾值獲得所述待處理圖像的增強圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述反相圖像進行積分處理,獲得所述反相圖像對應的積分圖像,包括:
根據公式IntIi,j=invIi,j+IntIi-1,j+IntIi,j-1-IntIi-1,j-1計算所述反相圖像中每一像素點在積分圖像中的值,獲得所述積分圖像;其中:
IntIi,j為積分圖像中第i行第j列像素點的值;invIi,j為所述反相圖像中第i行第j列像素點對應的灰度值;IntIi-1,j為積分圖像中第i-1行第j列對應的像素點的值;IntIi,j-1為積分圖像中第i行第j-1列像素點的值;IntIi-1,j-1為積分圖像中第i-1行第j-1列像素點的值。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述積分圖像計算獲得所述待處理圖像中每一像素點對應的自適應閾值,包括:
根據預設子區域大小計算所述待處理圖像中每個像素點對應的子區域的對角坐標;
根據所述對角坐標計算對應的子區域的像素強度之和;
根據所述像素強度之和所述子區域像素點數量計算獲得所述自適應閾值。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述對角坐標計算對應的子區域的像素強度之和,包括:
根據公式計算對應的子區域的像素強度之和;其中:
為所述子區域的像素強度之和;IntIi2,j2為積分圖像中第i2行第j2列的像素點對應的值;IntIi2,j1-1為積分圖像中第i2行第j1-1列的像素點對應的值;IntIi1-1,j2為積分圖像中第i1-1行第j2列的像素點對應的值;IntIi1-1,j1-1為積分圖像中第i1-1行第j1-1列的像素點對應的值。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述根據所述像素強度之和所述子區域像素點數量計算獲得所述自適應閾值,包括:
根據公式計算獲得所述自適應閾值;其中,
Ti,j為第i行第j列像素點對應的自適應閾值;為所述子區域的像素強度之和;subH為所述子區域的高;subW為所述子區域的寬。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述反相圖像和所述自適應閾值獲得所述待處理圖像的增強圖像,包括:
根據公式enIi,j=invIi,j-Ti,j計算獲得所述待處理圖像的中間增強圖像;其中:
enIi,j為中間增強圖像中第i行第j列像素點對應的灰度值;invIi,j為反相圖像中第i行第j列像素點對應的灰度值;Ti,j為第i行第j列像素點對應的自適應閾值;
對所述中間增強圖像進行歸一化處理,獲得所述增強圖像。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述待處理圖像對應的反相圖像,包括:
對所述待處理圖像中的每個像素點進行反相處理,獲得所述反相圖像。
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