[發(fā)明專利]一種間距檢測(cè)的方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110605484.2
• 申請(qǐng)日: 2021-05-31
• 公開（公告）號(hào): CN113192130B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 關(guān)耀榮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 網(wǎng)易（杭州）網(wǎng)絡(luò)有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/70
• 分類號(hào): G06T7/70;G06T7/13
• 代理公司: 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11319
• 代理人: 吳文心

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種間距檢測(cè)的方法及裝置，其中，所述的方法包括：獲取模型中的兩組連續(xù)邊，并確定所述兩組連續(xù)邊分別對(duì)應(yīng)的第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合；確定所述第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)所處的坐標(biāo)范圍；獲取目標(biāo)寬度，并根據(jù)所述目標(biāo)寬度確定衰減影響范圍；根據(jù)所述坐標(biāo)范圍和所述衰減影響范圍，確定所述第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)之間的間距與所述衰減影響范圍的關(guān)系。使得可以不依賴肉眼或標(biāo)注工具檢測(cè)模型中Edge Loop的間距，從而方便地檢測(cè)模型中的分縫線的寬度是否符合要求，且可以檢測(cè)出分縫線的寬度是否均勻。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及三維建模技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種間距檢測(cè)的方法和一種間距檢測(cè)的裝置。

背景技術(shù)

物體表面，特別是工業(yè)產(chǎn)品表面都會(huì)存在零部件之間拼接的分縫線。在三維模型制作中通常需要模擬這種分縫線，分縫線的制作質(zhì)量好壞會(huì)嚴(yán)重影響整個(gè)三維模型的制作質(zhì)量，及感官效果。分縫線通常由平行的Edge Loop連續(xù)邊構(gòu)成，想要得到較好的視角效果，必須把每條分縫線做得粗細(xì)均勻且符合實(shí)際比例。因此，檢測(cè)Edge Loop間距是把控模型視覺效果及質(zhì)量的重要手段。

現(xiàn)有技術(shù)中，檢測(cè)Edge Loop間距的方法主要有以下兩種：一是以肉眼觀察來評(píng)估分縫線兩邊Edge Loop的間距，二是利用距離標(biāo)注工具來點(diǎn)選需要檢測(cè)的部位兩邊，從而自動(dòng)生成距離標(biāo)注。然而，通過肉眼觀察來檢測(cè)評(píng)估的結(jié)果的方式依賴于觀察者的經(jīng)驗(yàn)，而且這種估計(jì)的方式得到的結(jié)果并不精確，容易疏漏，且分縫線總體偏寬或總體偏窄的情況，無法用肉眼分辨出是否符合設(shè)定要求。而如果通過距離標(biāo)注工具來檢測(cè)Edge Loop的間距，需要沿分縫線手動(dòng)標(biāo)注每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，耗時(shí)耗力，效率低下。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述通過觀察估計(jì)Edge Loop的間距的方式存在的評(píng)估結(jié)果不精確，而通過手動(dòng)標(biāo)注檢測(cè)點(diǎn)的方式測(cè)量Edge Loop的間距會(huì)導(dǎo)致效率低下的問題，提出了本發(fā)明實(shí)施例以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的一種間距檢測(cè)的方法和相應(yīng)的一種間距檢測(cè)的裝置。

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種間距檢測(cè)的方法，包括：

獲取模型中的兩組連續(xù)邊，并確定所述兩組連續(xù)邊分別對(duì)應(yīng)的第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合；

確定所述第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)所處的坐標(biāo)范圍；

獲取目標(biāo)寬度，并根據(jù)所述目標(biāo)寬度確定衰減影響范圍；

根據(jù)所述坐標(biāo)范圍和所述衰減影響范圍，確定所述第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)之間的間距與所述衰減影響范圍的關(guān)系。

可選地，所述確定所述兩組連續(xù)邊分別對(duì)應(yīng)的第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合，包括：

確定構(gòu)成所述兩組連續(xù)邊的頂點(diǎn)集合；

從所述頂點(diǎn)集合中確定當(dāng)前待處理的頂點(diǎn)，并標(biāo)記所述當(dāng)前待處理的頂點(diǎn)為第一頂點(diǎn)集合；

記錄所述第一頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)的第一數(shù)量，并確定與所述第一頂點(diǎn)集合中的頂點(diǎn)相鄰的多條邊；

依次判斷所述相鄰的多條邊是否屬于所述兩組連續(xù)邊；

若是，則確定屬于所述兩組連續(xù)邊的相鄰的邊中，除所述當(dāng)前待處理的頂點(diǎn)所在的一端之外的另一端的頂點(diǎn)，并將所述另一端的頂點(diǎn)添加至所述第一頂點(diǎn)集合；若否，則忽略不屬于所述兩組連續(xù)邊的相鄰的邊；

記錄所述第一頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)的第二數(shù)量；

判斷所述第二數(shù)量是否大于所述第一數(shù)量；

若是，則返回執(zhí)行所述確定與所述第一頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)相鄰的多條邊的步驟；若否，則將所述頂點(diǎn)集合減去所述第一頂點(diǎn)集合，以得到第二頂點(diǎn)集合。

可選地，所述坐標(biāo)范圍為所有頂點(diǎn)的坐標(biāo)在X軸或Y軸或Z軸上的取值范圍，所述確定所述第一頂點(diǎn)集合和第二頂點(diǎn)集合中頂點(diǎn)所處的坐標(biāo)范圍，包括：