[發(fā)明專利]一種量子點近紅外氣體傳感器以及制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110604520.3 | 申請日: | 2021-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN113358595B | 公開(公告)日: | 2023-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉歡;易飛;李華曜;嚴(yán)棋;梅穎穎;高亮;張建兵;唐江 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/3504 | 分類號: | G01N21/3504;G01N21/359;G01N21/27;H01L27/144 |
| 代理公司: | 武漢華之喻知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42267 | 代理人: | 王世芳;曹葆青 |
| 地址: | 430074 *** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 量子 紅外 氣體 傳感器 以及 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開一種量子點近紅外氣體傳感器以及制備方法,屬于氣體傳感器技術(shù)領(lǐng)域,將集成光學(xué)天線的量子點光電探測器、氣室、光源、信號處理電路進(jìn)行片上集成,該氣體傳感器可將檢測到的氣體量轉(zhuǎn)換成可用輸出電信號,最后讀出氣體濃度信息。本發(fā)明中,紅外氣體傳感器的核心部件為量子點光電探測器,與光學(xué)天線直接集成實現(xiàn)窄帶濾光并且提高其靈敏度,取代分立濾光片元件,減小紅外氣體傳感器體積,并提出適用于光子型探測器的后端信號檢測與放大電路,結(jié)合氣室、光源制備成NDIR氣體傳感器,針對CHsubgt;4/subgt;和NHsubgt;3/subgt;氣體實現(xiàn)小體積、高靈敏、低成本的快速檢測。本發(fā)明還提供了其制備方法,其制備方法簡便可行。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于氣體傳感器技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種量子點近紅外氣體傳感器以及制備方法。
背景技術(shù)
氣體傳感器在環(huán)境保護(hù)、安防報警、流程工業(yè)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的重要作用。基于非色散紅外(NDIR)吸收原理的NDIR近紅外氣體傳感器基于不同氣體分子的紅外光譜選擇吸收特性,利用氣體濃度與吸收強度關(guān)系(朗伯-比爾定律)鑒別氣體組分并確定其濃度。NDIR近紅外氣體傳感器通常由寬譜光源、氣室、窄帶濾光片以及紅外探測器等核心部件構(gòu)成。紅外探測器的性能對NDIR近紅外氣體傳感器的靈敏度、響應(yīng)速度有重要影響。
目前,NDIR氣體傳感器常采用非制冷的熱探測器,申請?zhí)枮?01911256486.4發(fā)明申請公開了“一種NDIR近紅外氣體傳感器”,將紅外光源、熱電堆芯片、濾光片、氣室、光腔以鍵合方式連接制備成近紅外氣體傳感器,具有體積小的優(yōu)勢,但熱電堆紅外探測器的工作原理是基于塞貝克效應(yīng)的紅外輻射探測,其吸收層材料對紅外的吸收率較低,導(dǎo)致溫差小,靈敏度不足。申請?zhí)枮?01710579047.1發(fā)明申請公開了一種鉭酸鋰窄帶探測器及其制備方法,將光學(xué)天線與鉭酸鋰熱探測器集成,實現(xiàn)了在一定波長范圍內(nèi)對特定波長紅外線的檢測,但響應(yīng)時間相對較長且靈敏度不足。
受NDIR原理限制,傳感器體積的縮小帶來光程的縮短,從而對傳感器靈敏度、響應(yīng)時間和氣體檢測限以及量程范圍等指標(biāo)提出了更高的要求,且NDIR氣體傳感器的寬譜紅外光源、氣室、濾光片、紅外探測器和信號處理電路等核心元器件長期處于分立設(shè)計和制造的狀態(tài),不同元器件在材料、結(jié)構(gòu)和集成工藝上缺乏兼容性,導(dǎo)致NDIR氣體傳感器的集成度不足,從而制約了高性能NDIR氣體傳感器的微型化。
因此,需要開發(fā)集成度更高的高性能NDIR氣體傳感器。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明的目的在于通過對近紅外氣體傳感器的核心組成、相應(yīng)制備方法的整體工藝及各個步驟的參數(shù)進(jìn)行改進(jìn),采用集成光學(xué)天線的量子點光電探測器,使得傳感器的集成度大幅度提高,針對CH4和NH3氣體實現(xiàn)小體積、高靈敏、低成本的快速檢測。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種量子點近紅外氣體傳感器,其包括光源、氣室、集成光學(xué)天線的量子點光電探測器以及信號處理電路,氣室設(shè)置在光源出射光方向上,集成光學(xué)天線的量子點光電探測器用于接收從氣室出射的光束,信號處理電路連通集成光學(xué)天線的量子點光電探測器,其中,集成光學(xué)天線的量子點光電探測器中,光學(xué)天線和量子點薄膜集成為一體,且光學(xué)天線和量子點薄膜之間具有絕緣層。
進(jìn)一步的,集成光學(xué)天線的量子點光電探測器包括襯底、量子點薄膜、絕緣層、光學(xué)天線和電極,一層量子點薄膜層疊在襯底上,一層絕緣層層疊在一層量子點薄膜上,電極設(shè)置在絕緣層內(nèi)且貼近在量子點薄膜,光學(xué)天線呈陣列狀設(shè)置在絕緣層上。
進(jìn)一步的,集成光學(xué)天線的量子點光電探測器包括襯底、量子點薄膜、絕緣層、光學(xué)天線、電極、金屬層和介質(zhì)層,其中,一層金屬層層疊于襯底上,一層介質(zhì)層層疊于金屬層上,光學(xué)天線設(shè)置在介質(zhì)層上,絕緣層覆蓋在光學(xué)天線上且與介質(zhì)層相貼合,一層量子點薄膜層疊于絕緣層上,一對電極設(shè)置在量子點薄膜上。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





