[發明專利]柔性電路板的測試方法、測試裝置和測試電路有效
| 申請號: | 202110604320.8 | 申請日: | 2021-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN113419159B | 公開(公告)日: | 2022-10-18 |
| 發明(設計)人: | 徐永嬌;魯公濤 | 申請(專利權)人: | 歌爾光學科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287 | 代理人: | 梁馨怡 |
| 地址: | 261031 山東省濰坊市高新區清池街*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 柔性 電路板 測試 方法 裝置 電路 | ||
1.一種柔性電路板測試方法,其特征在于,所述柔性電路板測試方法包括以下步驟:
在預設電子元件與柔性電路板連接形成待測模塊時,輸入恒定電流至所述待測模塊并檢測所述待測模塊的總電壓;
根據所述總電壓和預設電壓確定所述柔性電路板的電性能參數;所述預設電壓為預先設置的所述預設電子元件輸入所述恒定電流時的電壓;
根據所述電性能參數和目標電性能參數的比較結果確定所述柔性電路板的測試結果;
所述柔性電路板為應用于投影設備的柔性電路板,所述預設電子元件為所述投影設備中用于與所述柔性電路板配合連接的數字微鏡器件,所述數字微鏡器件內置有二極管,所述預設電壓為所述二極管通過所述恒定電流導通時的壓降。
2.如權利要求1所述的柔性電路板測試方法,其特征在于,所述根據所述總電壓和預設電壓確定所述柔性電路板的電性能參數的步驟包括:
根據所述總電壓和所述預設電壓確定所述柔性電路板的測試電壓;
根據所述測試電壓確定所述柔性電路板的測試電阻;
確定所述測試電阻為所述電性能參數。
3.如權利要求2所述的柔性電路板測試方法,其特征在于,所述根據所述測試電壓確定所述柔性電路板的測試電阻的步驟包括:
根據所述恒定電流獲取所述測試電壓與所述測試電阻之間的預設對應關系;
基于所述預設對應關系,確定所述測試電壓對應的所述測試電阻。
4.如權利要求2所述的柔性電路板測試方法,其特征在于,所述柔性電路板設有多條信號線,所述輸入恒定電流至所述待測模塊,并檢測所述待測模塊的總電壓的步驟之前,還包括:
在預設電子元件與柔性電路板基于匹配的接口連接形成待測模塊時,確定多個所述信號線中的目標信號線;
確定所述目標信號線對應的目標控制信號;
輸入所述目標控制信號至轉換開關,所述轉換開關接收到所述目標控制信號時將所述目標信號線接入所述待測模塊與恒流電源連接形成的測試回路,所述恒流電源為輸入所述恒定電流的電源模塊。
5.如權利要求4所述的柔性電路板測試方法,其特征在于,所述確定多個信號線中的目標信號線的步驟包括:
依次將每個所述信號線作為所述目標信號線。
6.如權利要求1至5中任一項所述的柔性電路板測試方法,其特征在于,所述目標電性能參數包括目標電性能參數區間,所述根據所述電性能參數和目標電性能參數的比較結果確定所述柔性電路板的測試結果的步驟包括:
若比較結果為目標電性能參數位于目標電性能參數區間內,則確定所述測試結果為所述柔性電路板正常;
若比較結果為目標電性能參數位于目標電性能參數區間以外,則確定所述測試結果為所述柔性電路板異常。
7.一種柔性電路板測試裝置,其特征在于,所述柔性電路板測試裝置包括:
預設電子元件,所述預設電子元件具有第三接口,所述第三接口用于與柔性電路板的接口匹配連接;
恒流電源,所述恒流電源用于輸出恒定電流;
電壓測試模塊,所述電壓測試模塊用于檢測電壓;
控制器,所述恒流電源和所述電壓測試模塊均與所述控制器連接,所述控制器包括:存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的柔性電路板測試程序,所述柔性電路板測試程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至6中任一項所述的柔性電路板測試方法的步驟;
所述柔性電路板為應用于投影設備的柔性電路板,所述預設電子元件為所述投影設備中用于與所述柔性電路板配合連接的數字微鏡器件,所述數字微鏡器件內置有二極管,所述預設電壓為所述二極管通過所述恒定電流導通時的壓降;且/或,
所述柔性電路板具有多條信號線,所述柔性電路板測試裝置還包括轉換開關,所述轉換開關用于切換不同的所述信號線接入所述預設電子元件、所述柔性電路板與所述恒流電源連接形成的測試回路,所述轉換開關與所述控制器連接。
8.一種柔性電路板測試電路,其特征在于,所述柔性電路板測試電路包括:
如權利要求7的柔性電路板測試裝置;和
柔性電路板,所述柔性電路板具有與所述第三接口匹配的第四接口;
其中,所述第三接口與所述第四接口連接;定義所述預設電子元件與所述柔性電路板形成的模塊為待測模塊,所述恒流電源的輸出端與所述待測模塊的輸入端連接,所述待測模塊的輸出端與所述恒流電源的輸入端連接,所述電壓測試模塊用于測試所述待測模塊的總電壓。
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