[發(fā)明專利]一種旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110602165.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-05-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113281268B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-08-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 谷洪剛;劉世元;王敬軍;江浩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/21 | 分類號(hào): | G01N21/21;G06F17/14 |
| 代理公司: | 武漢華之喻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42267 | 代理人: | 李君;李歡 |
| 地址: | 430074 *** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 旋轉(zhuǎn) 偏振 器件 光譜 橢偏儀 數(shù)據(jù) 分析 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供了一種旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng),屬于精密光學(xué)測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域,方法包括:將各理論參數(shù)以及待測(cè)樣件的預(yù)估膜厚輸入至旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的系統(tǒng)模型中,獲取包含理論傅里葉系數(shù)的系統(tǒng)方程;采用旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀測(cè)量待測(cè)樣件,獲取包含測(cè)量傅里葉系數(shù)的系統(tǒng)方程;采用Hadamard分析方法,獲取全光譜范圍內(nèi)的測(cè)量傅里葉系數(shù)和理論傅里葉系數(shù);采用非線性迭代擬合方法對(duì)全光譜范圍內(nèi)的測(cè)量傅里葉系數(shù)和理論傅里葉系數(shù)進(jìn)行擬合,獲取待測(cè)樣件的光學(xué)信息。本發(fā)明可一次測(cè)量得到全光譜范圍內(nèi)的待測(cè)樣件光學(xué)信息,同時(shí)避免了由傅里葉系數(shù)轉(zhuǎn)為橢偏參數(shù)擬合時(shí)造成的信息缺失和數(shù)據(jù)突變的問(wèn)題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于精密光學(xué)測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域,更具體地,涉及一種旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
橢偏儀是一種利用光的偏振特性獲取待測(cè)樣件信息的通光光學(xué)測(cè)量?jī)x器,其基本原理是通過(guò)偏振器件將光源發(fā)出的非偏振光調(diào)制為特殊的橢圓偏振光,然后橢圓偏振光照射到待測(cè)樣件表面,最后測(cè)量經(jīng)與樣件發(fā)生作用后的反射光(或者透射光),以獲得偏振光在反射(或透射)前后偏振狀態(tài)的改變(包括振幅比和相位差),進(jìn)而從中提取出待測(cè)樣件的信息。
為滿足不同測(cè)量條件和用戶群體的需要,橢偏儀根據(jù)其偏振調(diào)制方式的不同,有多種配置類型的橢偏儀取得了長(zhǎng)足發(fā)展,如:旋轉(zhuǎn)偏振器型、旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器型、光彈調(diào)制型、液晶調(diào)制型光譜橢偏儀。其中,旋轉(zhuǎn)偏振器光譜橢偏儀和旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器光譜橢偏儀對(duì)測(cè)量環(huán)境無(wú)特殊要求,可實(shí)現(xiàn)寬光譜范圍的測(cè)量測(cè)試,在納米薄膜的膜厚、光學(xué)信息的測(cè)量和光學(xué)信息的表征中具有廣泛的應(yīng)用。
在使用旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀對(duì)待測(cè)樣件進(jìn)行測(cè)量表征前,必須有一個(gè)行之有效的數(shù)據(jù)處理分析方法,才能夠快速、準(zhǔn)確、高效的處理測(cè)量信號(hào)和提取要求信號(hào)。旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的數(shù)據(jù)分析方法包括系統(tǒng)參數(shù)校準(zhǔn)和待測(cè)樣件測(cè)量方法,以快速準(zhǔn)確測(cè)量帶到待測(cè)樣件信息。其中,系統(tǒng)參數(shù)校準(zhǔn)包括有:偏振器件初始方位角(偏振器件光軸方向與入射面的夾角)、系統(tǒng)入射角和樣件膜厚;待測(cè)樣件的測(cè)量包括待測(cè)樣件的膜厚和光學(xué)常數(shù)的測(cè)量。因此,必須提出一種適用于旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析方法,以實(shí)現(xiàn)全光譜范圍內(nèi)系統(tǒng)測(cè)量數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確的分析。
橢偏儀直接測(cè)量得到的是周期性光強(qiáng)信息,然后對(duì)光強(qiáng)信息進(jìn)行傅里葉分析處理,將光強(qiáng)信息轉(zhuǎn)化為包含傅里葉系數(shù)形式的系統(tǒng)光強(qiáng),最后將傅里葉系數(shù)轉(zhuǎn)化為橢偏參數(shù),獲取待測(cè)樣件的膜厚及光學(xué)常數(shù);其中,歸一化處理后的傅里葉系數(shù)包含待測(cè)樣件厚度及光學(xué)常數(shù)的函數(shù)。根據(jù)橢偏儀測(cè)量原理,傅里葉系數(shù)可以轉(zhuǎn)化為橢偏參數(shù),如:振幅比、相位差和穆勒矩陣元素。但由于傅里葉系數(shù)轉(zhuǎn)化為橢偏參數(shù),增加了數(shù)據(jù)處理分析的復(fù)雜性,會(huì)導(dǎo)致信息的缺失,例如,在旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器型光譜橢偏儀系統(tǒng)中,歸一化處理后的傅里葉系數(shù)個(gè)數(shù)多于橢偏參數(shù)個(gè)數(shù);在旋轉(zhuǎn)起偏器光譜橢偏儀系統(tǒng)中,傅里葉系數(shù)轉(zhuǎn)化為橢偏參數(shù)時(shí),測(cè)量得到的相位差角Δ只有理論得到的相位差角Δ的一半?yún)^(qū)間,且存在相位差角Δ突變的情況。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng),旨在解決現(xiàn)有的橢偏儀數(shù)據(jù)分析方法存在將傅里葉系數(shù)轉(zhuǎn)化為橢偏參數(shù)增加數(shù)據(jù)處理分析的復(fù)雜性,導(dǎo)致信息的缺失;同時(shí)轉(zhuǎn)換后的橢偏參數(shù)可能會(huì)存在突變情況,導(dǎo)致數(shù)據(jù)分析方法獲取的結(jié)果可靠性較差的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,一方面,本發(fā)明提供了一種旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的數(shù)據(jù)分析方法,包括如下步驟:
(1)將各理論參數(shù)以及待測(cè)樣件的預(yù)估膜厚輸入至旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀的系統(tǒng)模型中,獲取包含理論傅里葉系數(shù)的系統(tǒng)方程;
(2)采用旋轉(zhuǎn)偏振器件光譜橢偏儀測(cè)量待測(cè)樣件,獲取包含測(cè)量傅里葉系數(shù)的系統(tǒng)方程;
(3)將包含測(cè)量傅里葉系數(shù)的系統(tǒng)方程和包含理論傅里葉系數(shù)的系統(tǒng)方程均采用Hadamard分析方法,獲取全光譜范圍內(nèi)的測(cè)量傅里葉系數(shù)和理論傅里葉系數(shù);
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





