[發(fā)明專利]一種快速X射線衍射儀及測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110601323.6
• 申請日: 2021-05-31
• 公開（公告）號: CN113281362A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張吉東;宋新月;張楠
• 申請（專利權(quán)）人: 南京鉑鋒科技有限公司
• 主分類號: G01N23/20008
• 分類號: G01N23/20008;G01N23/20025
• 代理公司: 北京高沃律師事務(wù)所 11569
• 代理人: 史云聰

本發(fā)明公開一種快速X射線衍射儀及測試方法，快速X射線衍射儀包括用于向下方發(fā)射X射線的X射線發(fā)生器，依次設(shè)置在X射線發(fā)生器下方的X射線聚焦裝置、可水平移動(dòng)樣品架以及用于收集衍射信號的二維X射線探測器；可水平移動(dòng)樣品架包括電動(dòng)平移臺以及設(shè)置在電動(dòng)平移臺上的多位樣品架，多位樣品架上設(shè)置有若干樣品位。通過將X射線聚焦成微焦點(diǎn)光源，結(jié)合二維X射線探測器能夠接收衍射信號，實(shí)現(xiàn)單個(gè)樣品的快速測試；同時(shí)，在一個(gè)樣品測試完能夠快速將另一個(gè)樣品移動(dòng)到X射線聚焦裝置下方進(jìn)行測試，X射線從上向下照射樣品，膠體、液體、粉末類樣品同樣能夠放置到樣品位中，從而實(shí)現(xiàn)了大量、多種樣品的快速測試。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種快速X射線衍射儀及測試方法。

背景技術(shù)

X射線方法是表征材料結(jié)晶結(jié)構(gòu)的主要手段，被廣泛用于科學(xué)研究、檢驗(yàn)檢測以及企業(yè)對產(chǎn)品的質(zhì)量控制等方面。隨著越來越多的應(yīng)用，X射線衍射的測試需求也越來越多。而基于線光源的常規(guī)X射線衍射儀即使配備了線性陣列探測器后仍不能很好地滿足實(shí)際需求了。

常規(guī)的X射線衍射儀在測試時(shí)需要測一個(gè)樣品后手動(dòng)換成另一個(gè)樣品，頻繁更換樣品，比較繁瑣也占用了大量的時(shí)間。此外目前這些儀器均采用水平放置構(gòu)型，樣品垂直放置，所以無法放置液體和膠體樣品，粉末樣品也需要包裹后測試。例如申請?zhí)枮?01721684097.8的實(shí)用新型專利公開了一種激光顯微系統(tǒng)，其采用水平放置構(gòu)型，樣品垂直放置在測試架上，無法實(shí)現(xiàn)大量樣品、多種樣品的快速檢測，因此目前缺少一種專門針對大量常規(guī)樣品的測試用的快速X射線衍射儀。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種快速X射線衍射儀及測試方法，以解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，通過在X射線發(fā)生器下方設(shè)置X射線聚焦裝置，將X射線聚焦成微焦點(diǎn)光源，結(jié)合二維X射線探測器能夠接收衍射信號，實(shí)現(xiàn)單個(gè)樣品的快速測試；同時(shí)，可水平移動(dòng)樣品架上設(shè)置有若干個(gè)樣品位，實(shí)現(xiàn)在一個(gè)樣品測試完能夠快速將另一個(gè)樣品移動(dòng)到X射線聚焦裝置下方進(jìn)行測試，并通過使X射線從上向下照射樣品，膠體、液體、粉末類樣品同樣能夠放置到樣品位中，從而實(shí)現(xiàn)了大量、多種樣品的快速測試。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下方案：本發(fā)明提供一種快速X射線衍射儀，包括用于向下方發(fā)射X射線的X射線發(fā)生器，依次設(shè)置在所述X射線發(fā)生器下方的X射線聚焦裝置、可水平移動(dòng)樣品架以及用于收集衍射信號的二維X射線探測器；所述可水平移動(dòng)樣品架包括電動(dòng)平移臺以及設(shè)置在所述電動(dòng)平移臺上的多位樣品架，所述多位樣品架上設(shè)置有若干樣品位。

優(yōu)選地，還包括設(shè)置在所述二維X射線探測器一側(cè)的升降架，所述二維X射線探測器安裝在所述升降架上。

優(yōu)選地，所述多位樣品架上設(shè)置有L形支臂，所述多位樣品架通過所述L形支臂安裝在所述電動(dòng)平移臺上，所述多位樣品架沉入所述電動(dòng)平移臺內(nèi)部。

優(yōu)選地，所述多位樣品架的所述樣品位沿橫向、縱向均勻分布。

優(yōu)選地，所述X射線聚焦裝置安裝在所述X射線發(fā)生器的發(fā)射口處。

優(yōu)選地，還包括密閉殼體，所述X射線發(fā)生器、所述X射線聚焦裝置、所述可水平移動(dòng)樣品架以及所述二維X射線探測器均設(shè)置在所述密閉殼體內(nèi)。

優(yōu)選地，所述密閉殼體前方設(shè)置有操作門，所述操作門上設(shè)置有含鉛玻璃窗。

優(yōu)選地，還包括設(shè)置在所述密閉殼體外部的顯示屏以及設(shè)置在所述密閉殼體下方的控制柜。

本發(fā)明的另一個(gè)目的還在于提供一種快速X射線衍射測試方法，包括以下步驟，

1)將若干樣品分別裝入多位樣品架的樣品位內(nèi)；

2)打開X射線發(fā)生器并將其中一個(gè)樣品移動(dòng)至X射線聚焦裝置下方，所述X射線聚焦裝置將X射線匯聚成微焦點(diǎn)光源向下照射到所述樣品上，二維X射線探測器從所述樣品下方接收所述樣品產(chǎn)生的衍射信號，完成所述樣品的測試；