[發(fā)明專利]用于智能傳感器應(yīng)用的裝置和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110600184.5 | 申請日: | 2018-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN113376507A | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曲光陽;銀才·T·劉;郝報田;王漢卿;梅恒芳;羅仁貴;趙軼苗;丁俊彪 | 申請(專利權(quán))人: | 亞德諾半導(dǎo)體無限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R27/16;G01R35/00;G01R27/02;G01N27/406;G01N27/417 |
| 代理公司: | 中國貿(mào)促會專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人: | 周陽君 |
| 地址: | 百慕大群島(*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 智能 傳感器 應(yīng)用 裝置 方法 | ||
1.一種測試電路,所述測試電路包括:
激勵電路,被配置為向電子傳感器施加激勵信號,其中所述激勵電路包括可配置的第一電路增益級以及可配置的第二電路增益級,其中在第一增益模式中,所述激勵電路使用由第一電路增益級施加的第一信號增益以及由第二電路增益級施加的第二信號增益從測試信號生成第一激勵信號,并且在第二增益模式中,所述激勵電路使用由第一電路增益級施加的第三信號增益以及由第二電路增益級施加的第四信號增益從測試信號生成第二激勵信號;以及
測量電路,被配置為選擇地啟動對電子傳感器施加第一激勵信號或第二激勵信號并且計算電子傳感器的內(nèi)部阻抗;
其中,測量電路被配置為當(dāng)傳感器的內(nèi)部阻抗具有第一內(nèi)部阻抗范圍時啟動對電子傳感器施加第一激勵信號并且當(dāng)電子傳感器的內(nèi)部阻抗具有第二內(nèi)部阻抗范圍時啟動對電子傳感器施加第二激勵信號,其中第一內(nèi)部阻抗大于第二內(nèi)部阻抗范圍。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路,其中第二電路增益級的信號增益在第一增益模式中是1,并且在第二增益模式中是小于1且大于0。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路,其中第一增益電路級的信號增益在第一增益模式中是大于1,并且在第二增益模式中是小于1且大于0。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路,包括數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路,所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路被配置為生成測試信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試電路,包括控制電路,所述控制電路被配置為控制數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路以改變測試信號的頻率以及測試信號的幅度的一個或者兩個。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路,其中測量電路被配置為:
確定電子傳感器的類型代碼;以及
根據(jù)確定的類型代碼來選擇第一電路增益級和第二電路增益級的一個或者兩個的信號增益。
7.一種使用測試電路監(jiān)測電子傳感器的方法,所述方法包括:
在第一增益模式中當(dāng)傳感器的內(nèi)部阻抗具有第一內(nèi)部阻抗范圍時向電子傳感器施加第一激勵信號;其中,在第一增益模式中,使用第一信號增益以及第二信號增益從測試信號生成第一激勵信號,第一信號增益使用第一電路增益級被生成,第二信號增益使用第二電路增益級被生成;
在第二增益模式中當(dāng)傳感器的內(nèi)部阻抗具有第二內(nèi)部阻抗范圍時向電子傳感器施加第二激勵信號;其中第一內(nèi)部阻抗大于第二內(nèi)部阻抗范圍,其中在第二增益模式中,使用第三信號增益以及第四信號增益從測試信號生成第二激勵信號,第三信號增益使用第一電路增益級,第四信號增益使用第二電路增益級;以及
使用測試電路在第一增益模式時使用第一激勵信號且在第二增益模式時使用第二增益信號計算電子傳感器的內(nèi)部阻抗;以及
向用戶或者處理提供計算的內(nèi)部阻抗。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,
其中施加第一激勵信號包括使用第二電路增益級中的為1的信號增益生成第一激勵信號;以及
其中施加第二激勵信號包括使用第二電路增益級中的小于1且大于0的信號增益生成第二增益信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,
其中施加第一激勵信號包括使用第一電路增益級中的大于1的信號增益生成第一激勵信號;并且
其中施加第二激勵信號包括使用第一電路增益級中的小于1且大于0的信號增益生成第二激勵信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,包括使用數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路生成測試電路。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法,包括控制數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路以改變測試信號的頻率以及測試信號的幅度中的一個或者兩個。
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