[發(fā)明專利]一種電子器件的測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110600119.2
• 申請(qǐng)日: 2021-05-31
• 公開（公告）號(hào): CN113359006A
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李鵬;鞠洪德;譚樹海;王強(qiáng)強(qiáng);魏云峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 濰坊歌爾電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 郭化雨

1.一種電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

測(cè)試模組(2)，其設(shè)有用以和被測(cè)器件(09)相連的探針(21)；

移動(dòng)載板(3)，其開設(shè)有過孔(31)，且用以承載多個(gè)位于所述過孔(31)上方的被測(cè)器件(09)，所述移動(dòng)載板(3)能夠移動(dòng)至所述探針(21)的上方，并且能夠沿豎直方向運(yùn)動(dòng)；

下壓板件(4)，其設(shè)于所述移動(dòng)載板(3)的上方，且能夠沿豎直方向運(yùn)動(dòng)；當(dāng)承載有被測(cè)器件(09)的所述移動(dòng)載板(3)移動(dòng)至所述探針(21)上方時(shí)，所述下壓板件(4)向下運(yùn)動(dòng)，并擠壓被測(cè)器件(09)和所述移動(dòng)載板(3)同步向下運(yùn)動(dòng)，以使被測(cè)器件(09)和所述探針(21)相連。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括設(shè)有導(dǎo)軌(12)的基板(1)，所述移動(dòng)載板(3)設(shè)有用以沿所述導(dǎo)軌(12)移動(dòng)的滑塊(32)，所述滑塊(32)位于所述移動(dòng)載板(3)的下方，所述滑塊(32)和所述移動(dòng)載板(3)之間設(shè)有彈性部(34)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，所述基板(1)設(shè)有位于所述移動(dòng)載板(3)外側(cè)、且能夠沿豎直方向運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)桿(13)，所述驅(qū)動(dòng)桿(13)和所述下壓板件(4)相連。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，所述基板(1)的下方設(shè)有伸縮缸(14)，所述伸縮缸(14)包括固定于所述基板(1)的缸座(141)和連接于所述缸座(141)的伸縮桿(142)，所述伸縮桿(142)和所述滑塊(32)之間通過連接塊(15)相連。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)桿(13)的兩側(cè)還設(shè)有導(dǎo)向軸(16)，所述導(dǎo)向軸(16)和所述基板(1)相連，所述下壓板件(4)設(shè)有用以和所述導(dǎo)向軸(16)配合實(shí)現(xiàn)導(dǎo)向的限位孔。

6.根據(jù)權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括設(shè)于所述基板(1)下方的座體(5)，所述座體(5)設(shè)有用以提供電能的電源(51)，所述座體(5)還設(shè)有連接于所述測(cè)試模組(2)、所述移動(dòng)載板(3)和所述下壓板件(4)三者、用以控制上述三者運(yùn)行的控制板(52)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，所述座體(5)還設(shè)有可伸縮的支撐件(53)，所述支撐件(53)的兩端分別連接于所述座體(5)和所述基板(1)，通過所述支撐件(53)將所述基板(1)撐起至脫離所述座體(5)的位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括和所述基板(1)相連的蓋板組件(6)，所述蓋板組件(6)包括位于所述下壓板件(4)上方的遮擋板(61)，所述遮擋板(61)可相對(duì)于所述下壓板件(4)翻轉(zhuǎn)，用以將所述下壓板件(4)露出。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，所述蓋板組件(6)設(shè)有位于所述移動(dòng)載板(3)外側(cè)的檢測(cè)光柵(62)，當(dāng)所述移動(dòng)載板(3)和/或所述下壓板件(4)在移動(dòng)過程中、且所述檢測(cè)光柵(62)檢測(cè)到有物體靠近所述基板(1)時(shí)，所述移動(dòng)載板(3)和所述下壓板件(4)停止運(yùn)行。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子器件的測(cè)試裝置，其特征在于，所述蓋板組件(6)還設(shè)有圖像采集模組(7)，所述圖像采集模組(7)用以采集位于所述移動(dòng)載板(3)上的被測(cè)器件(09)的信息。