[發明專利]一種天線二維分區測向的方法、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110599623.5
• 申請日: 2021-05-31
• 公開（公告）號: CN113296051B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 李釗;劉濤;任鋒;郎少波;梁龍龍;吳自新;羅紹彬;龔小立;賈發利
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01S3/14
• 分類號: G01S3/14
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 劉世權

1.一種天線二維分區測向的方法，其特征在于，包括：

S1：將天線分為2×2個子天線；

S2：分別計算天線左子陣接收信號矢量和、天線右子陣接收信號矢量和、天線上子陣接收信號矢量和和天線下子陣接收信號矢量和；其中，天線左子陣為2×2個子天線中左側兩個子天線，天線右子陣為2×2個子天線中右側兩個子天線，天線上子陣為2×2個子天線中上側兩個子天線，天線下子陣為2×2個子天線中下側兩個子天線；

S3：進行方位測向時，計算天線左子陣接收信號矢量和與天線右子陣接收信號矢量和的相位差；進行俯仰測向時，計算天線上子陣接收信號矢量和與天線下子陣接收信號矢量和的相位差；

S4：計算四個子天線接收到的波束和與波束差；

S5：通過對波束和與波束差歸一化處理得到比值K(θ)；

S6：通過比值K(θ)和波束指向中心的角度計算被測物體的信號方向。

2.如權利要求1所述的一種天線二維分區測向的方法，其特征在于，每個子天線分為N×N個分支天線，N為正整數。

3.如權利要求1或2任一所述的一種天線二維分區測向的方法，其特征在于，所述相位差為

其中，d為四個子天線之間的間距，θ₀為波束指向中心的角度，Δθ是目標偏離波束中心的角度，λ為波束的波長。

4.如權利要求3所述的一種天線二維分區測向的方法，其特征在于，比值K(θ)具體為：其中Σ為四個天線分區收到的波束之和2EΔ為四個天線分區收到的波束之差2EE為各個子天線收到信號的矢量和。

5.如權利要求4所述的一種天線二維分區測向的方法，其特征在于，步驟S6具體包括：計算被測物體的方位方向或者俯視方向；

其中，被測物體信號方向為θ₀+Δθ，

6.如權利要求5所述的一種天線二維分區測向的方法，其特征在于，當相位差是天線左子陣接收信號矢量和與天線右子陣接收信號矢量和的相位差時，得到的θ₀+Δθ為被測物體方位方向；當相位差是天線上子陣接收信號矢量和與天線下子陣接收信號矢量和的相位差時，得到的θ₀+Δθ為被測物體俯仰方向。

7.一種計算機設備，其特征在于，所述計算機設備包括處理器和存儲器，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述計算機程序由所述處理器加載并執行以實現如權利要求1至6任一項所述的一種天線二維分區測向的方法。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序，所述計算機程序由處理器加載并執行以實現如權利要求1至6任一項所述的一種天線二維分區測向的方法。