[發明專利]一種布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法與裝置有效
| 申請號: | 202110592163.3 | 申請日: | 2021-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN113310575B | 公開(公告)日: | 2022-06-07 |
| 發明(設計)人: | 劉加慶;盛立文;杜特;陳豪強;宋平;劉志明;劉磊;李志增;吳威;項國慶;聶建華;閆繼送 | 申請(專利權)人: | 中電科思儀科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01J3/02 | 分類號: | G01J3/02 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 祖之強 |
| 地址: | 266555 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 布里淵 光譜儀 測量 光譜 信號 基底 方法 裝置 | ||
1.一種布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,包括:
獲取測量光譜信號,采用s-g算法對測量光譜信號進行濾波處理,得到第一濾波光譜信號;
基于k階自相關算法對第一濾波光譜信號處理的k階次結果,通過s-g算法得到第二濾波光譜信號;
從第二濾波光譜信號中選取一段不包含有效光譜信息的光譜帶外的光譜數據,并采用最小二乘擬合算法進行線性擬合,得到擬合光譜信號,然后得到基于擬合光譜信號的基線值;
若基線值達到布里淵光譜儀的系統噪聲水平,則此時對應的自相關階次k為最優自相關次數,基于最優自相關次數和第一濾波光譜信號,得到有效光譜成分;否則,則重復得到第一濾波光譜信號、得到第二濾波光譜信號和得到基于擬合光譜信號的基線值的過程。
2.根據權利要求1所述的布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,所述獲取測量光譜信號之后,包括將dBm坐標系的測量光譜信號轉換為mW坐標系的測量光譜信號。
3.根據權利要求1所述的布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,所述得到有效光譜成分之后,包括:將mW坐標系的有效光譜成分轉換為dBm坐標系的有效光譜成分。
4.根據權利要求1所述的布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,所述采用s-g算法對測量光譜信號進行濾波處理的過程,通過測量測量光譜信號與s-g算法多項式系數做卷積實現。
5.根據權利要求1所述的布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,所述k階自相關算法對第一濾波光譜信號處理的k階次結果的過程包括:第一濾波光譜信號的k階自相關,通過每個采樣點進行k次方處理實現,得到自相關處理的光譜信號。
6.根據權利要求1所述的布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,所述基于最優自相關次數和第一濾波光譜信號,得到有效光譜成分的表達式為:
Spa(n)=(Spf(n))k (1)
式中,Spa(n)為經自相關得到的有效光譜成分;Spf(n)為經s-g算法濾波光譜信號的第n個點;k為自相關階次,對于同一測試條件下,k為唯一確定值。
7.根據權利要求1所述的布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除方法,其特征在于,所述基線值獲得的過程為:
Vbase=Average(Spapy) (2)
式中,Spapy為擬合光譜信號,Average表示平均處理。
8.一種布里淵光譜儀測量光譜信號基底的移除裝置,其特征在于,包括:
第一濾波光譜信號獲取模塊,其被配置為:獲取測量光譜信號,采用s-g算法對測量光譜信號進行濾波處理,得到第一濾波光譜信號;
第二濾波光譜信號獲取模塊,其被配置為:基于k階自相關算法對第一濾波光譜信號處理的k階次結果,通過s-g算法得到第二濾波光譜信號;
基線值獲取模塊,其被配置為:從第二濾波光譜信號中選取一段不包含有效光譜信息的光譜帶外的光譜數據,并采用最小二乘擬合算法進行線性擬合,得到擬合光譜信號,然后得到基于擬合光譜信號的基線值;
有效光譜成分獲取模塊,其被配置為:若基線值達到布里淵光譜儀的系統噪聲水平,則此時對應的自相關階次k為最優自相關次數,基于最優自相關次數和第一濾波光譜信號,得到有效光譜成分;否則,則重復得到第一濾波光譜信號、得到第二濾波光譜信號和得到基于擬合光譜信號的基線值的過程。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中電科思儀科技股份有限公司,未經中電科思儀科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110592163.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種地墊鋪裝工藝及環保地墊
- 下一篇:大豆E1基因在調控結莢習性中的應用





