[發(fā)明專利]一種非工作狀態(tài)下系統(tǒng)的預(yù)計(jì)可靠性評(píng)估方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110590181.8
• 申請(qǐng)日: 2021-05-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113312720A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-08-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張杰;何兵;楊正偉;代琪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍火箭軍工程大學(xué)
• 主分類號(hào): G06F30/17
• 分類號(hào): G06F30/17;G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 北京高沃律師事務(wù)所 11569
• 代理人: 韓雪梅

本發(fā)明涉及一種非工作狀態(tài)下系統(tǒng)的預(yù)計(jì)可靠性評(píng)估方法及系統(tǒng)。該方法包括：獲取不同的電子元器件的失效率模型；根據(jù)所述失效率模型，確定可靠度模型；獲取不同的電子元器件之間的耦合關(guān)系；根據(jù)所述可靠度模型和所述耦合關(guān)系，確定系統(tǒng)整體的可靠性。本發(fā)明能夠快速、高效地應(yīng)對(duì)不同系統(tǒng)下的預(yù)計(jì)可靠度評(píng)估工作。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及可靠性評(píng)估領(lǐng)域，特別是涉及一種非工作狀態(tài)下系統(tǒng)的預(yù)計(jì)可靠性評(píng)估方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

現(xiàn)代武器裝備評(píng)估、軍事對(duì)抗中，可靠性評(píng)估工作都極為復(fù)雜，各類不同的失效率類型、退化模型，評(píng)估過(guò)程中需要處理的各類模型及數(shù)據(jù)較多，為了實(shí)現(xiàn)各類模型、方法的有效應(yīng)用，便于評(píng)估過(guò)程可追溯，減少重復(fù)工作，成為系統(tǒng)級(jí)預(yù)計(jì)可靠度評(píng)估需要面對(duì)的一個(gè)問(wèn)題。

如今對(duì)于系統(tǒng)預(yù)計(jì)可靠性評(píng)估的模型的失效率設(shè)置不常見(jiàn)，對(duì)于如何將這些電子元器件的單個(gè)可靠度進(jìn)行耦合，得到系統(tǒng)級(jí)的可靠度未見(jiàn)發(fā)刊和報(bào)道。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種非工作狀態(tài)下系統(tǒng)的預(yù)計(jì)可靠性評(píng)估方法及系統(tǒng)，將不同層級(jí)、類型的失效率和可靠度模型化，根據(jù)不同的系統(tǒng)和電子元器件選取不同的可靠度模型和組合關(guān)系，快速、高效地評(píng)估系統(tǒng)可靠度。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下方案：

一種非工作狀態(tài)下系統(tǒng)的預(yù)計(jì)可靠性評(píng)估方法包括：

獲取不同的電子元器件的失效率模型，所述電子元器件包括開(kāi)關(guān)、二極管、壓電陀螺、電池和機(jī)械濾波器，所述失效率模型包括開(kāi)關(guān)模型失效率模型、二極管模型失效率模型、壓電陀螺模型失效率模型、電池模型失效率模型和機(jī)械濾波器模型失效率模型；

根據(jù)所述失效率模型，確定可靠度模型，所述可靠度模型包括指數(shù)模型、對(duì)數(shù)正態(tài)分布模型、威布爾模型和浴盆模型；

獲取不同的電子元器件之間的耦合關(guān)系；

根據(jù)所述可靠度模型和所述耦合關(guān)系，確定系統(tǒng)整體的可靠性。

可選地，所述開(kāi)關(guān)模型失效率模型為：

λ_p＝(λ_b1+λ_b2)π_Eπ_Qπ_Lπ_CYC

式中，λ_b1為開(kāi)關(guān)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的基本失效率，λ_b2為開(kāi)關(guān)有源接地的基本失效率，π_E為環(huán)境系數(shù)，π_Q為質(zhì)量系數(shù)，π_L為觸點(diǎn)負(fù)載系數(shù)，π_CYC為開(kāi)關(guān)速率系數(shù)；

所述二極管模型失效率模型為：

式中，λ_b為基本失效率，π_E為環(huán)境系數(shù)，π_Q為質(zhì)量系數(shù)，π_r為額定電流系數(shù)，π_A為應(yīng)用系數(shù)，為電壓應(yīng)力系數(shù)，π_c為結(jié)構(gòu)系數(shù)；

所述壓電陀螺模型失效率模型為：

λ_p＝(λ_b1+λ_b2)π_Cπ_Aπ_kπ_Eπ_L

式中，λ_b1為壓電陀螺敏感器件基本失效率，λ_b2壓電陀螺后部電路基本失效率，π_C復(fù)雜度系數(shù)，π_k結(jié)構(gòu)系數(shù)，π_E為環(huán)境系數(shù)，π_A為應(yīng)用系數(shù)，π_L為成熟系數(shù)；