[發明專利]一種適用于表面具有反光特性的物體的瑕疵檢測方法

有效

• 申請號: 202110589412.3
• 申請日: 2021-05-28
• 公開（公告）號: CN113324996B
• 公開（公告）日: 2023-01-17
• 發明（設計）人: 張挺;舒煜華;劉永康;方梓城;陳錦鋒;鄧俊廣
• 申請（專利權）人: 東莞康視達自動化科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/94;G01N21/01
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 李盛洪

1.一種適用于表面具有反光特性的物體的瑕疵檢測方法，其特征在于，包括以下的步驟：

S1、打光和采集圖像：采用具備多種光路高速切換的光源對待檢測物體逐行進行K次的曝光，并用線掃相機逐行采集待檢測物體每次曝光時的圖像信息，以此獲得一張待檢測物體具有N行像素且拉伸了K倍的最終效果圖，光源對待檢測物體逐行進行K次曝光時，光源切換K組條紋光路的切換順序一直相同；其中光源對待檢測物體逐行曝光的具體細節為：光源對待檢測物體的每一行通過高速切換發出K組條紋光路，每一組所述條紋光路均包括至少一條發光的亮條紋；每一組條紋光路發光時其上的亮條紋的發光位置各不相同；其中K≥2；

S2、將步驟S1中的最終效果圖拆分成K張圖像：將待檢測物體每一行曝光出同種條紋光路的每一行像素依次抽取出來，通過圖片合成得到K張圖像；具體步驟為：從步驟S1所述的最終效果圖中的第1行像素開始，每隔K-1行抽取出下一行的像素，進而依次合成第一張圖像；從步驟S1所述的最終效果圖中的第2行像素開始，每隔K-1行抽取出下一行的像素，進而依次合成第二張圖像；……；從步驟S1所述的最終效果圖中的第K行像素開始，每隔K-1行抽取出下一行的像素，進而依次合成第K張圖像；

S3、凹凸不平瑕疵檢測：將步驟S2所述的K張圖像中抽取出一對或多對亮條紋長度方向一致的圖像組，基于暗場的環境下，對每一對圖像組的兩張圖像分別進行均勻化處理，緊接著對每一對圖像組的兩張經過均勻化處理的圖像進行差分算法處理，每一對圖像組都會得到一張差分算法處理效果圖，進而對每一張差分算法處理效果圖進行預處理后，再用斑點分析工具將待檢測物體中明顯凹凸不平的瑕疵顯示出來，其中，預處理包括依次使用亮度調節、膨脹、腐蝕和圖像增強的算法工具；

臟污檢測：將步驟S2所述的K張圖像中抽取出其中一對亮條紋長度方向一致的圖像組，基于亮場的環境下，將該對圖像組中的兩張圖像進行平均值的圖像運算，再用斑點分析工具將待檢測物體中的臟污瑕疵顯示出來。

2.根據權利要求1所述的一種適用于表面具有反光特性的物體的瑕疵檢測方法，其特征在于，所述K值為2，對待檢測物體逐行進行兩次曝光時，所述光源通過高速切換發出兩組條紋光路，兩組條紋光路通過移相快速切換。

3.根據權利要求1所述的一種適用于表面具有反光特性的物體的瑕疵檢測方法，其特征在于，所述K值為3，對待檢測物體逐行進行三次曝光時，所述光源通過高速切換發出三組條紋光路，其中三組條紋光路中有一組是同軸光。

4.根據權利要求1所述的一種適用于表面具有反光特性的物體的瑕疵檢測方法，其特征在于，所述K值為4，對待檢測物體逐行進行四次曝光時，所述光源通過高速切換發出四組條紋光路，其中兩組條紋光路在一個方向上移相快速切換，另兩組條紋光路在另一個方向上移相快速切換。

5.根據權利要求1所述的一種適用于表面具有反光特性的物體的瑕疵檢測方法，其特征在于，所述K值為5，對待檢測物體逐行進行五次曝光時，所述光源通過高速切換發出五組條紋光路，其中兩組條紋光路在一個方向上移相快速切換，另三組條紋光路在另一個方向上移相快速切換，其中三組移相切換的條紋光路里有一組條紋光路是同軸光。