[發明專利]評估測量數據樣本或準備對其的評估的方法和布置

在審

• 申請號: 202110588027.7
• 申請日: 2021-05-27
• 公開（公告）號: CN113743441A
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: O.米勒;M.盧卡夫斯卡;D.戈爾施
• 申請（專利權）人: 卡爾蔡司工業測量技術有限公司
• 主分類號: G06K9/62
• 分類號: G06K9/62;G06F17/11
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 王蕊瑞

本發明涉及用于評估通過測量多個工件而產生的測量數據樣本的方法和布置，其中，存在或建立了統計分布系統，其能夠描述隨測量數據值而變的測量數據值的頻率，該統計分布系統的示例按照相應統計分布的兩個具體是偏度和峰度的矩的相應一個矩值可彼此區分開，其中?從統計分布系統中定義所有能夠描述整個值區間中的測量數據值的頻率的統計分布的集合，值區間是樣本中實際出現的測量數據的指定值區間或一個值區間，?根據與第一統計分布相對應的測量數據樣本確定偏度和峰度的相應矩值，?確定的矩值用于檢驗定義的集合是否包含具有確定的偏度和峰度的矩值的統計分布，并產生對應的測試結果。本發明還涉及用于準備對測量數據樣本的評估的方法和布置。

技術領域

本發明涉及一種用于評估通過測量多個工件而產生的測量數據樣本或準備其評估的方法和布置。

背景技術

從用于生產和/或加工工件以及工件布置的過程質量控制領域中已知統計過程控制的概念。通過過程的統計建模，可以獲得統計分布，基于統計分布，特別是可以做出關于從過程中生成的某些測量值的頻率的說明。舉例來說，過程可控制可以是統計建模的結果。由于統計建模，如果測量值的方差較小，還可以確定或者可以替代地確定過程的質量符合規格。

通常，借助于使用基于過程知識和基于所獲得的測量數據的評估的信息來創建這樣的統計模型。舉例來說，在測量工件的半徑時，已知過程可通過正態分布來加以描述。在這種情況下，通過測量多個相同類型的工件產生的測量值圍繞預期值隨機散布。正態分布允許特別是根據其確定參數，例如方差。

使用正態分布不可能明顯地描述每個過程的結果。相反，存在其他對隨測量值而變的測量變量的測量值的頻率進行描述的統計分布。與正態分布的情況不同，這些分布特別是僅適合于對在一側或兩側受限制的值區間內的測量值的統計描述。這種分布沒有將頻率分配給值區間之外的值和/或值區間之外的值的頻率和因此概率被設置為零值。

舉例來說，皮爾遜分布系統是具有多個已知且經常使用的統計分布的系統。如果測量值現在可使用測量數據樣本，則可以選擇分布系統的統計分布之一并將所述統計分布用于統計建模。這基于以下基本構思：僅根據可用數據的信息創建分布。為了創建統計分布，可以選擇不同的程序。特別地，可以遵循最大似然原理，即，最大化正確描述可用數據的統計的分布的概率。根據不同的程序，可以根據測量數據確定統計分布的所謂矩，然后可以選擇與這些矩擬合的分布。在使用基于測量數據或源自測量數據的數據的分布的統計建模范圍內可能出現的情況是，該分布描述在出現的或可能的值區間的大部分內的測量值的頻率或源自測量值的值的頻率，但值也在分布可描述的值區間之外或者也可能在該值區間之外。實際上，這是不利的，因為沒有對統計分布進行最佳建模，并且用戶可能會遇到不期望的情況，即出現的測量值沒有落入分布的值區間內并因此對分布沒有貢獻或無法被分布預測。在這種情況下，存在明顯的建模錯誤。

發明內容

本發明的目的是指定一種用于評估通過測量多個工件而產生的測量數據樣本或準備對測量數據樣本的評估的方法或布置，使用該方法和布置能夠對測量數據進行高質量的統計建模。

該解決方案基于如下基本想法：關于第一統計分布或第一統計分布族是否適合于對指定值區間內或測量數據樣本中實際出現的測量數據的值區間內的隨測量數據值而變的測量數據值的頻率進行描述來對這個/這些第一統計分布進行檢驗，通過第一統計分布可以統計地描述該樣本。

為了進行檢驗，首先評估測量數據樣本。進一步地，檢驗的結果隨即幫助評估測量數據樣本，因為不適合對在整個值區間內的樣本進行建模的統計分布可能被識別為這種分布。特別地，這允許確定更適合的統計分布。

樣本評估的進一步步驟，具體是確定特別適合于樣本的統計建模的分布的參數，可以是用于評估樣本的方法的其他組成部分。適合的統計分布表示樣本評估的進一步可能結果。確定第一統計分布不適合對在測量數據的整個指定值的或實際出現的值區間內的樣本進行統計建模也表示了樣本評估的可能結果。