[發(fā)明專利]一種生產(chǎn)智能測試方法、裝置和系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110587971.0 | 申請日: | 2021-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN113268397B | 公開(公告)日: | 2023-02-28 |
| 發(fā)明(設計)人: | 苑森康;劉成 | 申請(專利權)人: | 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/30 | 分類號: | G06F11/30;G06F11/32;G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司: | 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105 | 代理人: | 李修杰 |
| 地址: | 250101 山東省濟南*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 生產(chǎn) 智能 測試 方法 裝置 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提出了一種生產(chǎn)智能測試方法、裝置和系統(tǒng),該方法包括待測設備上生產(chǎn)線時,獲取用于診斷測試的第一數(shù)據(jù);待測設備生產(chǎn)完成后,移栽待測設備至老化架位置;獲取用于診斷測試的第二數(shù)據(jù);老化架上待測設備填滿后,搬運老化架至智能老化區(qū),獲取老化架老化測試的第一數(shù)據(jù)進行老化測試;以及調(diào)取用于診斷測試的第一數(shù)據(jù)和用于診斷測試的第二數(shù)據(jù)進行待測設備性能測試;在老化測試完成后,將待需要搬運的待測設備拉送至后側吸掉移栽上線區(qū),依序進行吸掉上線。基于該方法還提出了一種生產(chǎn)智能測試裝置和系統(tǒng)。本發(fā)明用于電子產(chǎn)品生產(chǎn)智能測測中,提高了電子產(chǎn)品的自動化生產(chǎn)水平和生產(chǎn)效率,減少人力的使用。
技術領域
本發(fā)明屬于智能檢測技術領域,特別涉及一種生產(chǎn)智能測試方法、裝置和系統(tǒng)。
背景技術
隨著工廠對產(chǎn)能和效率的不斷提升的需求,提高生產(chǎn)效率,減少人力使用,保障生產(chǎn)效果是勢在必行的研究課題。多系統(tǒng)(AGV、SCADA、MES、上位機、PLC)是以計算機為基礎的生產(chǎn)過程控制與調(diào)度自動化系統(tǒng)。它可以對現(xiàn)場的運行設備進行監(jiān)視和控制。各系統(tǒng)間相互協(xié)作可以提高企業(yè)生產(chǎn)效率,減少人力的使用,提高自動化水平,解放勞動力,并且通過系統(tǒng)把控可以提高生產(chǎn)質(zhì)量,標準統(tǒng)一性更好。PC測試是出廠之前必要的環(huán)節(jié),能夠檢測出當前機器是否存在問題,而老化費時費力,一臺機器完成時間不一,不能夠?qū)崟r查詢到測試完成狀態(tài),加入系統(tǒng)把控可以更好的提高實時性。
當前自動化生產(chǎn)中,沒有統(tǒng)一的協(xié)調(diào)調(diào)度,沒有統(tǒng)一管理,產(chǎn)品換型需要手動切換(視覺處理模板、程序或工裝等),需要時間長,效率低下,占用勞動力,并且容易產(chǎn)生換型失誤,造成生產(chǎn)事故。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術問題,本發(fā)明提出了一種生產(chǎn)智能測試方法、裝置和系統(tǒng),用于電子產(chǎn)品智能檢測測試,提高電子產(chǎn)品的自動化生產(chǎn)水平和生產(chǎn)效率,減少人力的使用。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用以下技術方案:
一種生產(chǎn)智能測試方法,所述方法包括以下步驟:
待測設備上生產(chǎn)線時,獲取用于診斷測試的第一數(shù)據(jù);所述用于診斷測試的第一數(shù)據(jù)包括待測設備的當前訂單信息、相應的產(chǎn)品序列號和訂單配置;
待測設備生產(chǎn)完成后,移栽所述待測設備至老化架位置;獲取用于診斷測試的第二數(shù)據(jù);所述用于診斷測試的第二數(shù)據(jù)包括在老化架位置,綁定關聯(lián)老化架編號和待測設備得到的第一綁定信息;
老化架上待測設備填滿后,搬運所述老化架至智能老化區(qū),獲取老化架老化測試的第一數(shù)據(jù)進行老化測試;以及調(diào)取所述用于診斷測試的第一數(shù)據(jù)和用于診斷測試的第二數(shù)據(jù)進行待測設備性能測試;所述老化測試的第一數(shù)據(jù)包括綁定老化架編號和地碼位置得到的第二綁定信息。
進一步的,所述調(diào)取所述用于診斷測試的第一數(shù)據(jù)和用于診斷測試的第二數(shù)據(jù)進行待測設備性能測試時,還包括控制安燈系統(tǒng)的邏輯狀態(tài)。
進一步的,所述方法還包括:在老化測試完成后,根據(jù)排單狀態(tài),遍歷所有排產(chǎn)工單的待測設備老化狀態(tài)是否測試完畢,如果測試完畢,通過地碼編號和老化架編號,將待需要搬運的待測設備拉送至后側吸掉移栽上線區(qū)。
進一步的,所述將待需要搬運的待測設備拉送至后側吸掉移栽上線區(qū)之后,獲取老化架上各個位置的設備狀態(tài),并根據(jù)所述設備狀態(tài),依序進行吸掉上線。
進一步的,所述待測設備生產(chǎn)完成后,移栽所述待測設備至老化架位置的步驟為:
獲取用于數(shù)據(jù)監(jiān)視的第一數(shù)據(jù),所述第一數(shù)據(jù)包括老化架編號和老化架上架位置;
獲取用于數(shù)據(jù)監(jiān)視的第二數(shù)據(jù),所述第二數(shù)據(jù)包括流水線體將載板運送到預設位置后掃描載板獲取的載板信息;
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